docs(数据可信): §8 风险表改按行名引用，修掉两处指错行

- IEC104上行设计说明.md 与 iec104_pts.c 的 s_q_map 注释原写「§8 风险
  表末行」，末行其实是「加压烧板」；含单测要求的是「削顶通道被当成可
  测」行。两处都改成行名，行名完整落在一行内
- ADC前端注入验证流程.md 同源错引用改成「削顶负向用例被当成固件 bug」行
- 数据可信.md §8 表头加一条引用规矩：写行名，别写「末行 / 第 N 行」，
  本表会插行
- doc-links 只校验章节编号存在性，看不见「末行」这类行内指向，也从不扫
  .c/.h —— 这两处此前没有门能拦

@build 0 errors 0 warnings（只改注释，Program Size 未变）

App/protocol/iec104/iec104_pts.c

@@ -176,8 +176,8 @@ uint32_t iec104_pts_yc_ioa(uint8_t idx) {
  * 入口参数：q16 - 源侧品质（低字节与线上同值；高字节为 MEAS_QDS_CLIPPED 域内位）
  * 返 回 值：线上 QDS 字节  uint8_t
  * 函数说明：CLIPPED（硬件削顶，104 无对应位）映射为 IV——「削顶通道 104 恒
- *          IV」口径（docs/任务规划/数据可信.md §8 风险表末行）改由快照品质
- *          驱动，不再靠点表绑死 -1；OV/NT/IV 透传，其余高位丢弃。
+ *          IV」口径（docs/任务规划/数据可信.md §8 风险表「削顶通道被当成可测」
+ *          行）改由快照品质驱动，不再靠点表绑死 -1；OV/NT/IV 透传，其余高位丢弃。
  */
 static uint8_t s_q_map(uint16_t q16) {
     uint8_t w = (uint8_t)(q16 & (uint16_t)(IEC104_QDS_OV | IEC104_QDS_NT