From 565f23ea1845f86b607068aa4f20d354c1581863 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: wandering1 <1624155937@qq.com> Date: Fri, 28 Aug 2026 21:59:04 +0800 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?=E6=97=B6=E9=92=9F=E6=B5=8B=E8=AF=95=E5=AE=8C?= =?UTF-8?q?=E6=AF=95?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit --- Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c | 100 ++++++------ MDK-ARM/build_log.txt | 86 +++++----- docs/SD2506_Test_Guide.md | 309 ++++++++++-------------------------- test/sd2506_test.h | 3 +- test/sd2506_test_task.c | 83 ++++++++++ test/test_config.h | 2 +- 6 files changed, 259 insertions(+), 324 deletions(-) diff --git a/Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c b/Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c index 1737a24..e86eace 100644 --- a/Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c +++ b/Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c @@ -30,8 +30,8 @@ uint8_t sd2506_bcd_to_dec(uint8_t bcd) { } /* - * 函数功能：十进制�?BCD �? * 入口参数：dec - 十进制数�? uint8_t 0 - 99 - * �?�?值：BCD 编码�? * 限定条件：输入值在 0 - 99 范围�? * 函数说明：十位存入高 4 位，个位存入�?4 �? */ + * 函数功能：十进制转 BCD 码 + * 入口参数：dec - 十进制数 uint8_t 0 - 99 */ uint8_t sd2506_dec_to_bcd(uint8_t dec) { return ((dec / 10) << 4) | (dec % 10); } @@ -177,17 +177,17 @@ int sd2506_init(void) { return ret; } - /* 上电重置充电寄存�?18H = 82H (开启充�? 5K电阻) - * 手册强烈建议每次上电时重置此�?*/ + /* 上电重置充电寄存器 18H = 82H (开启充电 5K电阻) + * 手册强烈建议每次上电时重置此寄存器 */ ret = sd2506_write_reg(SD2506_REG_CHARGE, 0x82U); if (ret != SD2506_OK) { return ret; } - /* 配置: 24小时�? 自动复位使能 - * 0FH = 0x20 (bit5=ARST=1, 其它标志位清�? - * 写入时需注意: 写允许状态下 0FH �?WRTC 位必须为1 - * 此处直接写入 0x20 即可 (ARST=1, �?WRTC �? */ + /* 配置: 24小时制，写允许状态下 0FH 的 WRTC 位必须为 1 + * 0FH = 0x20 (bit5=ARST=1, 其它标志位清零) + * 注意: 写入时需注意 0FH 的 WRTC 位必须为 1 + * 此处直接写入 0x20 即可 (ARST=1, 的 WRTC 位) */ ret = sd2506_write_reg(SD2506_REG_CTR1, SD2506_CTR1_WRITE_OFF); if (ret != SD2506_OK) { return ret; @@ -197,13 +197,13 @@ int sd2506_init(void) { } /* - * 函数功能：设�?RTC 时间日期 + * 函数功能：设置 RTC 时间日期 * 入口参数：p_time - 时间结构体指针，包含要设置的时间 - * 返回值：0 - 成功�?2 - I2C 错误 - * 限定条件：sd2506_init() 已调�? - * 函数说明�?. 先开写保�? - * 2. 一次性写�?7 字节时间数据 (00H~06H) - * 3. 关闭写保�? + * 返回值：0 - 成功，2 - I2C 错误 + * 限定条件：sd2506_init() 已调用成功 + * 函数说明：1. 先开写保护 + * 2. 一次性写入 7 字节时间数据 (00H~06H) + * 3. 关闭写保护 */ int sd2506_set_time(const sd2506_time_t *p_time) { int ret = 0; @@ -213,25 +213,25 @@ int sd2506_set_time(const sd2506_time_t *p_time) { return SD2506_ERROR; } - /* 组装 7 字节时间数据 (BCD �? */ - buf[0] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->second); /* 00H: �?*/ - buf[1] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->minute); /* 01H: �?*/ - buf[2] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->hour) | 0x80U; /* 02H: �?(bit7=1, 24小时�? */ + /* 组装 7 字节时间数据 (BCD 码) */ + buf[0] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->second); /* 00H: 秒 */ + buf[1] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->minute); /* 01H: 分 */ + buf[2] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->hour) | 0x80U; /* 02H: 时(bit7=1, 24小时制) */ buf[3] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->week); /* 03H: 星期 */ - buf[4] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->day); /* 04H: �?*/ - buf[5] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->month); /* 05H: �?*/ - buf[6] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->year - 2000U); /* 06H: �?*/ + buf[4] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->day); /* 04H: 日 */ + buf[5] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->month); /* 05H: 月 */ + buf[6] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->year - 2000U); /* 06H: 年 */ /* 开启写保护 */ ret = sd2506_write_enable(); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 一次性写�?7 字节时间数据 (00H~06H) - * 手册要求: 不可单独写某一个时间寄存器，否则可能引起错误进�?*/ + /* 一次性写入 7 字节时间数据 (00H~06H) + * 手册要求: 不可单独写某一个时间寄存器，否则可能引起错误进入 */ ret = sd2506_write_regs(SD2506_REG_SEC, buf, 7); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 关闭写保�?*/ + /* 关闭写保护 */ ret = sd2506_write_disable(); if (ret != SD2506_OK) return ret; @@ -254,20 +254,20 @@ int sd2506_get_time(sd2506_time_t *p_time) { return SD2506_ERROR; } - /* 一次读�?7 字节时间数据 (00H~06H) - * 手册说明: 读取时所有实时数据被锁存，避免错�?*/ + /* 一次读取 7 字节时间数据 (00H~06H) + * 手册说明: 读取时所有实时数据被锁存，避免错误 */ ret = sd2506_read_regs(SD2506_REG_SEC, buf, 7); if (ret != SD2506_OK) { return ret; } - p_time->second = sd2506_bcd_to_dec(buf[0] & 0x7FU); /* 00H: �?*/ - p_time->minute = sd2506_bcd_to_dec(buf[1] & 0x7FU); /* 01H: �?*/ + p_time->second = sd2506_bcd_to_dec(buf[0] & 0x7FU); /* 00H: 秒 */ + p_time->minute = sd2506_bcd_to_dec(buf[1] & 0x7FU); /* 01H: 分 */ p_time->hour = sd2506_bcd_to_dec(buf[2] & 0x7FU); /* 02H: 屏蔽 bit7 (12/24标志) */ p_time->week = sd2506_bcd_to_dec(buf[3] & 0x07U); /* 03H: 星期 */ - p_time->day = sd2506_bcd_to_dec(buf[4] & 0x3FU); /* 04H: �?*/ - p_time->month = sd2506_bcd_to_dec(buf[5] & 0x1FU); /* 05H: �?*/ - p_time->year = sd2506_bcd_to_dec(buf[6]) + 2000U; /* 06H: �?*/ + p_time->day = sd2506_bcd_to_dec(buf[4] & 0x3FU); /* 04H: 日 */ + p_time->month = sd2506_bcd_to_dec(buf[5] & 0x1FU); /* 05H: 月 */ + p_time->year = sd2506_bcd_to_dec(buf[6]) + 2000U; /* 06H: 年 */ return SD2506_OK; } @@ -294,12 +294,12 @@ int sd2506_get_temperature(int8_t *p_temp) { return ret; } - /* bit7 为符号位, 其余为温度�?*/ + /* bit7 为符号位, 其余为温度值 */ if (val & 0x80U) { - /* 负温�? 取补�?*/ + /* 负温度 取补码 */ *p_temp = (int8_t)(val | 0xF0U); } else { - /* 正温�?*/ + /* 正温度 */ *p_temp = (int8_t)(val & 0x7FU); } @@ -324,17 +324,17 @@ int sd2506_get_battery_voltage(uint16_t *p_voltage) { return SD2506_ERROR; } - /* 读取 1AH bit7 (BAT8_VAL) �?1BH (BAT_VL) */ + /* 读取 1AH bit7 (BAT8_VAL) 与 1BH (BAT_VL) */ ret = sd2506_read_reg(SD2506_REG_CTR5, &val_high); if (ret != SD2506_OK) return ret; ret = sd2506_read_reg(SD2506_REG_BAT_VAL, &val_low); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 组合 9 �? bit8=BAT8_VAL(1AH bit7), bit7~0=BAT_VL(1BH) - * �?1AH=80H, 1BH=30H => 电压 = 0x130 = 304 => 3.04V => 3040mV */ + /* 组合 9 位值 bit8=BAT8_VAL(1AH bit7), bit7~0=BAT_VL(1BH) + * 例: 1AH=80H, 1BH=30H => 电压 = 0x130 = 304 => 3.04V => 3040mV */ uint16_t raw = ((val_high & 0x80U) << 1) | val_low; - *p_voltage = raw * 10; /* 转换为毫�?(raw 单位 0.01V) */ + *p_voltage = raw * 10; /* 转换为毫伏 (raw 单位 0.01V) */ return SD2506_OK; } @@ -398,8 +398,8 @@ int sd2506_write_sram(uint8_t addr, const uint8_t *p_buf, uint8_t len) { return SD2506_ERROR; } - /* SRAM 无需开写保护即可写�?(写保护仅�?00H~71H 有效, SRAM �?2CH~71H) - * 但为安全起见, SRAM 写入也走写保护流�?*/ + /* SRAM 无需开写保护即可写入 (写保护仅对 00H~71H 有效, SRAM 为 2CH~71H) + * 但为安全起见, SRAM 写入也走写保护流程 */ int ret = 0; ret = sd2506_write_enable(); if (ret != SD2506_OK) return ret; @@ -429,29 +429,29 @@ int sd2506_set_alarm(const sd2506_time_t *p_time, uint8_t mask) { } /* 组装 8 字节报警数据 (07H~0EH) */ - buf[0] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->second) & 0x7FU; /* 07H: 秒报�?*/ - buf[1] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->minute) & 0x7FU; /* 08H: 分报�?*/ - buf[2] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->hour) & 0x3FU; /* 09H: 时报�?(最高位始终�?) */ + buf[0] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->second) & 0x7FU; /* 07H: 秒报 */ + buf[1] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->minute) & 0x7FU; /* 08H: 分报 */ + buf[2] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->hour) & 0x3FU; /* 09H: 时报（最高位始终为0） */ buf[3] = 0x00U; /* 0AH: 星期报警 */ - buf[4] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->day) & 0x3FU; /* 0BH: 日报�?*/ - buf[5] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->month) & 0x1FU; /* 0CH: 月报�?*/ - buf[6] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->year - 2000U); /* 0DH: 年报�?*/ + buf[4] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->day) & 0x3FU; /* 0BH: 日报 */ + buf[5] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->month) & 0x1FU; /* 0CH: 月报 */ + buf[6] = sd2506_dec_to_bcd(p_time->year - 2000U); /* 0DH: 年报 */ buf[7] = mask; /* 0EH: 报警允许 */ /* 开启写保护 */ ret = sd2506_write_enable(); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 写入报警寄存�?(07H~0EH) */ + /* 写入报警寄存器 (07H~0EH) */ ret = sd2506_write_regs(SD2506_REG_AL_SEC, buf, 8); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 使能报警中断: CTR2 �?INTAE=1, INTS1=0, INTS0=1, IM=1 (周期�? */ + /* 使能报警中断: CTR2 中 INTAE=1, INTS1=0, INTS0=1, IM=1 (周期中断) */ ret = sd2506_write_reg(SD2506_REG_CTR2, SD2506_CTR2_INTAE | SD2506_CTR2_INTS0 | SD2506_CTR2_IM); if (ret != SD2506_OK) return ret; - /* 关闭写保�?*/ + /* 关闭写保护 */ ret = sd2506_write_disable(); if (ret != SD2506_OK) return ret; @@ -471,7 +471,7 @@ int sd2506_clear_alarm(void) { int ret = 0; uint8_t val = 0; - /* 读取 CTR1, ARST=1 时自动清�?INTAF */ + /* 读取 CTR1, ARST=1 时自动清除 INTAF */ ret = sd2506_read_reg(SD2506_REG_CTR1, &val); if (ret != SD2506_OK) { return ret; diff --git a/MDK-ARM/build_log.txt b/MDK-ARM/build_log.txt index b6d4adb..c8e3665 100644 --- a/MDK-ARM/build_log.txt +++ b/MDK-ARM/build_log.txt @@ -1,76 +1,76 @@ *** Using Compiler 'V5.06 update 7 (build 960)', folder: 'C:\Keil_v5\ARM\ARMCC\Bin' Rebuild target 'STM32F407-Demo' assembling startup_stm32f407xx.s... -compiling ringbuf.c... compiling crc.c... -compiling freertos.c... -compiling i2c.c... -compiling stm32f4xx_hal_tim_ex.c... +compiling ringbuf.c... +compiling stm32f4xx_it.c... +compiling app_main.c... compiling dma.c... compiling stm32f4xx_hal_flash_ramfunc.c... -compiling stm32f4xx_it.c... -compiling main.c... -compiling stm32f4xx_hal_dma_ex.c... +compiling i2c.c... +compiling sys_clock.c... +compiling stm32f4xx_hal_timebase_tim.c... compiling stm32f4xx_hal_gpio.c... +compiling stm32f4xx_hal_dma_ex.c... compiling stm32f4xx_hal_dma.c... -compiling app_main.c... +compiling stm32f4xx_hal_flash_ex.c... compiling stm32f4xx_hal_pwr.c... compiling spi.c... -compiling stm32f4xx_hal_timebase_tim.c... compiling stm32f4xx_hal_msp.c... -compiling gpio.c... -compiling stm32f4xx_hal_flash_ex.c... -compiling stm32f4xx_hal_flash.c... -compiling stm32f4xx_hal_rcc_ex.c... -compiling usart.c... -compiling adc_task.c... compiling stm32f4xx_hal_rcc.c... -compiling time_sync.c... -compiling sys_clock.c... +compiling stm32f4xx_hal_flash.c... +compiling gpio.c... +compiling usart.c... +compiling stm32f4xx_hal_tim_ex.c... compiling net_task.c... +compiling freertos.c... +compiling stm32f4xx_hal_rcc_ex.c... compiling rs485_task.c... -compiling croutine.c... +compiling main.c... +compiling adc_task.c... +compiling time_sync.c... compiling lftpd_string.c... +compiling croutine.c... compiling stm32f4xx_hal_tim.c... compiling list.c... compiling event_groups.c... -compiling stream_buffer.c... compiling queue.c... -compiling stm32f4xx_hal_pwr_ex.c... -compiling tasks.c... +compiling stream_buffer.c... compiling timers.c... +compiling tasks.c... compiling heap_4.c... compiling port.c... +compiling stm32f4xx_hal_pwr_ex.c... compiling journal.c... compiling map.c... compiling ff.c... -compiling stm32f4xx_hal_cortex.c... -compiling rs485.c... -compiling lftpd_io.c... -compiling nand_ftl.c... -compiling lftpd_inet.c... -compiling stm32f4xx_hal_exti.c... -compiling net_socket.c... -compiling cmsis_os2.c... -compiling net_select.c... -compiling lftpd.c... -compiling stm32f4xx_hal_i2c_ex.c... -compiling sd2506.c... -compiling net_test_task.c... -compiling ch395f_test_task.c... -compiling system_stm32f4xx.c... -compiling tpafe5160.c... compiling stm32f4xx_hal.c... +compiling system_stm32f4xx.c... +compiling lftpd_io.c... +compiling stm32f4xx_hal_cortex.c... +compiling stm32f4xx_hal_i2c_ex.c... +compiling stm32f4xx_hal_exti.c... +compiling rs485.c... +compiling tpafe5160.c... +compiling sd2506.c... compiling ch395f.c... -compiling gd5f2gq5ue.c... -compiling gd5f_test_task.c... -compiling stm32f4xx_hal_i2c.c... -compiling stm32f4xx_hal_uart.c... +compiling nand_ftl.c... compiling stm32f4xx_hal_spi.c... +compiling lftpd_inet.c... +compiling gd5f2gq5ue.c... +compiling net_select.c... +compiling stm32f4xx_hal_uart.c... +compiling lftpd.c... +compiling net_socket.c... +compiling stm32f4xx_hal_i2c.c... +compiling cmsis_os2.c... +compiling ch395f_test_task.c... +compiling net_test_task.c... +compiling gd5f_test_task.c... compiling storage_test_task.c... compiling sd2506_test_task.c... linking... -Program Size: Code=61836 RO-data=3356 RW-data=420 ZI-data=51868 +Program Size: Code=64436 RO-data=3936 RW-data=420 ZI-data=51868 FromELF: creating hex file... ".\STM32F407-Demo\STM32F407-Demo.axf" - 0 Error(s), 0 Warning(s). -Build Time Elapsed: 00:00:15 +Build Time Elapsed: 00:00:14 diff --git a/docs/SD2506_Test_Guide.md b/docs/SD2506_Test_Guide.md index eaed8fe..589890b 100644 --- a/docs/SD2506_Test_Guide.md +++ b/docs/SD2506_Test_Guide.md @@ -1,252 +1,105 @@ -# SD2506 RTC 测试规范 +# SD2506_RTC 测试指南 + +> 对应驱动：`Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c` +> 测试代码：`test/sd2506_test_task.c` + `test/sd2506_test.h` ## 1. 概述 -本文档定义 SD2506API-G 高精度温补实时时钟驱动（STM32F407ZGTx，I2C1 接口 PB6-SCL / PB7-SDA）的测试规范。RTC 为本地外设，测试**无需 PC 配合**（仅串口日志观察），覆盖时间读写、写保护（WRTC）解锁时序、跨重启持久化三大主题。测试按阶段（`TM-RTC-NN`）组织，每阶段含独立用例（`TC-RTC-NNN`）。 +本测试套件对 `sd2506.c` 做**黑盒功能自测**，只调用公共 API，不触碰驱动内部函数。 +每个用例通过 `SD2506_TEST_CHECK` 记录 pass/fail，最终由 `SD2506_TEST_REPORT` 汇总。 -> **背景**：本驱动曾出现"时间同步后写入不生效、重启回到旧时间"的缺陷。根因是 `sd2506_write_enable()` 的 WRTC 解锁时序与 SD2506API-G 实际位布局不符——写操作 I2C 返回 OK，但芯片因写保护未真正打开而**静默忽略**数据。本测试 Phase 2 用穷举探测法定位正确时序。 +历史背景：本驱动曾出现“时间写不进”问题，根因是寄存器宏写成 `0x0FH`（KEIL/ARMCC +不识别 `H` 整数后缀，被编译为 0），导致 `SD2506_REG_CTR1` 实际等于 0（秒寄存器）， +`sd2506_write_enable()` 把 WRTC 写错地址、写保护永不解除。修正为 `0x0FU` 后恢复。 +详见 `docs/SD2506_Trap_Records.md`。 -### 设计原则 +## 2. 启用与编译 -| 原则 | 描述 | 验证用例 | -|------|------|----------| -| DP-01 | 写保护时序正确：写时间前必须用正确的 WRTC 解锁时序打开 CTR1/CTR2 写保护，否则写被芯片静默忽略（I2C 仍返回 OK） | TC-RTC-002、TC-RTC-101、TC-RTC-201 | -| DP-02 | 时间须一次性 7 字节写入（00H~06H），不可单独写某一时间寄存器 | TC-RTC-002 | -| DP-03 | 跨重启持久化：写入后由纽扣电池/充电维持，重启后读回一致 | TC-RTC-201 | -| DP-04 | 24 小时制 + 自动复位（ARST）配置正确，时间寄存器可读 | TC-RTC-001 | +`test/test_config.h` 中一次只能启用一个 `TEST_SUITE_*`（互斥）： -### SD2506 关键参数 - -| 参数 | 值 | 说明 | -|------|-----|------| -| I2C 器件地址（7 位） | `0x32` | HAL 用 8 位：写 `0x64`、读 `0x65`（`SD2506_I2C_ADDR_WRITE/READ`） | -| 接口 | I2C1（PB6-SCL / PB7-SDA） | CubeMX 已完成初始化 | -| 时间寄存器 | `00H` SEC ~ `06H` YEAR（BCD） | 一次性连续读写 7 字节 | -| 控制寄存器 | `0FH` CTR1、`10H` CTR2 | WRTC（写 RTC 保护）位在此 | -| 24 小时制 | HOUR 寄存器 bit7 = `1` | `sd2506_set_time` 写 `hour \| 0x80` | -| YEAR 存储 | 后两位 BCD（`year % 100`） | `get_time` 回读 `+2000` 还原 | -| 写保护宏（头文件注释） | `SD2506_CTR1_WRITE_ON = 0xFF`、`SD2506_CTR1_WRITE_OFF = 0x7B` | `sd2506.h:124-126` 记载的"使能/禁止"建议值 | - -> **关键约束**：SD2506 的 WRTC 位布局在不同参考设计/批次间存在差异。本驱动原实现（`sd2506_write_enable()` @ `sd2506.c:121`）采用 `CTR2=0x80, CTR1=0x84`（源自 SD2403 参考），但实测未生效；头文件宏则指向 `CTR1=0xFF`。**正确时序须由 Phase 2 探测确认，不得臆测**。 - -### 测试环境 - -``` -MCU: STM32F407ZGTx @ 168MHz, Keil MDK-ARM v5 (ARMCC) -外设: SD2506API-G (I2C1, PB6/PB7)，纽扣电池或充电供电 -工具: 串口终端（观察 DBG_INFO 日志），无 PC 网络端 +```c +//#define TEST_SUITE_CH395F +//#define TEST_SUITE_STORAGE +//#define TEST_SUITE_GD5F +#define TEST_SUITE_RTC /* 启用 RTC 测试套件 */ ``` -### 构建模式与执行顺序 +`test/sd2506_test.h` 中控制各阶段（默认全开）： -测试固件复用既有 `ch395fTestTask`（`StartCh395fTestTask`）调度框架，SD2506 作为独立 `TEST_SUITE_RTC` 套件接入，不新增 FreeRTOS 任务；三个相位顺序执行（Phase 1 → 2 → 3）。各相位由 `test/sd2506_test.h` 的 `ENABLE_RTC_*` 宏独立开关，套件整体由 `test/test_config.h` 的 `TEST_SUITE_RTC` 选择。 +```c +#define ENABLE_RTC_BASIC_TESTS /* Phase 1: 基本读写 / 走时 */ +#define ENABLE_RTC_API_TESTS /* Phase 2: 全功能 API 覆盖 */ +``` -| 构建宏 | 相位 | 说明 | -|--------|------|------| -| `ENABLE_RTC_BASIC_TESTS` | Phase 1 | 公共 API 基本读写 / 走时 | -| `ENABLE_RTC_WRTC_PROBE_TESTS` | Phase 2 | WRTC 解锁时序穷举探测 | -| `ENABLE_RTC_PERSIST_TESTS` | Phase 3 | 跨重启持久化（需人工重启核验） | +编译（要求 0 错误 0 警告）： -**执行顺序严格递增**：先确认 Phase 1（若 FAIL 即证明当前驱动写无效），再 Phase 2（定位正确 WRTC 时序），最后 Phase 3（用命中时序验证持久化）。 +```bat +MDK-ARM\build.bat +``` -### 启用测试 +烧录后在串口（USART1, 115200bps）观察 `[RTC_TEST]` 日志。 -本测试复用既有 `ch395fTestTask`（`StartCh395fTestTask`）调度框架，作为独立 `TEST_SUITE_RTC` 套件接入，不新增 FreeRTOS 任务。 +## 3. 测试用例 -1. **Keil 工程**：把 `test/sd2506_test_task.c` 加入 `test/` 组（与 `ch395f_test_task.c` 等同级）；`Options → C/C++ → Include Paths` 确认已含 `..\test`（其它测试套件已配置，无需重复添加）。 -2. **选择套件**：编辑 `test/test_config.h`，注释掉其它 `TEST_SUITE_*`，取消注释 `#define TEST_SUITE_RTC`。一次构建仅能启用一个套件（互斥 `#error` 保护）。 -3. **阶段开关**：编辑 `test/sd2506_test.h`，按需取消注释 `ENABLE_RTC_BASIC_TESTS` / `ENABLE_RTC_WRTC_PROBE_TESTS` / `ENABLE_RTC_PERSIST_TESTS`（默认全开）。 -4. `@build` 验证 `0 Error(s), 0 Warning(s)` 后烧录，板子启动后 `StartCh395fTestTask` 自动进入 RTC 套件并顺序执行 Phase 1→2→3。 +| 编号 | 目标 | 覆盖函数 | 判定 | +|------|------|----------|------| +| TC-RTC-001 | 初始化并读取当前时间 | `sd2506_init` / `sd2506_get_time` | init 返回 0；get 返回 0 | +| TC-RTC-002 | 写固定时间立即回读一致 | `sd2506_set_time` / `sd2506_get_time` | set==readback（允许 +1s 进位） | +| TC-RTC-003 | 走时验证 | `sd2506_get_time` | 延时 3s 后秒数前进 2~5s | +| TC-RTC-010 | BCD↔DEC 互转 | `sd2506_dec_to_bcd` / `sd2506_bcd_to_dec` | 10 组样本双向一致 | +| TC-RTC-011 | 内部温度读取 | `sd2506_get_temperature` | 返回 0；值 ∈ [-40, 85] | +| TC-RTC-012 | 电池电压（mV） | `sd2506_get_battery_voltage` | 返回 0；值 ∈ (2000, 5000) | +| TC-RTC-013 | 芯片 8 字节 ID | `sd2506_get_id` | 返回 0；读出 8 字节 | +| TC-RTC-014 | 用户 SRAM 回环 | `sd2506_write_sram` / `sd2506_read_sram` | 写入 8 字节后回读一致 | +| TC-RTC-015 | 报警设置 + 清除 | `sd2506_set_alarm` / `sd2506_clear_alarm` | 两者均返回 0 | ---- +## 4. 覆盖矩阵 -## 2. 阶段 1：基本读写（公共 API） +| 公共 API | 是否覆盖 | 用例 | +|----------|----------|------| +| `sd2506_init` | ✅ | TC-RTC-001 | +| `sd2506_get_time` | ✅ | TC-RTC-001/002/003 | +| `sd2506_set_time` | ✅ | TC-RTC-002 | +| `sd2506_get_temperature` | ✅ | TC-RTC-011 | +| `sd2506_get_battery_voltage` | ✅ | TC-RTC-012 | +| `sd2506_get_id` | ✅ | TC-RTC-013 | +| `sd2506_read_sram` | ✅ | TC-RTC-014 | +| `sd2506_write_sram` | ✅ | TC-RTC-014 | +| `sd2506_set_alarm` | ✅ | TC-RTC-015 | +| `sd2506_clear_alarm` | ✅ | TC-RTC-015 | +| `sd2506_read_ctr1` | △（诊断） | run() 内打印 CTR1 | +| `sd2506_bcd_to_dec` / `sd2506_dec_to_bcd` | ✅ | TC-RTC-010 | -| 阶段 ID | TM-RTC-01 | -|---------|-----------| -| **类型** | 独立运行 | -| **耗时** | ~5 秒 | -| **入口** | `StartCh395fTestTask → TEST_SUITE_RTC → sd2506_test_run()` → `sd2506_phase_basic()` | -| **出口** | 串口 `Phase 1 basic: N/N PASSED (failed=0)` | +> 未覆盖（需专项验证，不在本自测范围）：倒计时寄存器、温度报警历史、 +> 跨重启持久化（原 Phase 3 已废弃，依赖实际掉电/上电，建议手动或另写用例）。 -### TC-RTC-001: 初始化与读取 +## 5. 运行与判定 -| 字段 | 值 | -|------|-----| -| **ID** | TC-RTC-001 | -| **优先级** | P0 | -| **类型** | 功能测试 | -| **标题** | 验证 `sd2506_init()` 通信正常并可读取当前时间 | -| **前置条件** | 1. I2C1 已初始化
2. 未启用其他会并发访问 I2C 的测试 | +- `sd2506_test_run()` 由测试调度器调用，先 init 并记录原始时间，最后用 + `sd2506_set_time` 把板子时间**恢复**为测试前的值（不污染真实时钟）。 +- 输出形如： + ``` + [RTC_TEST] === SD2506 Phase 1: basic read/write (public API) === + [RTC_TEST] [PASS] sd2506_init() ret=0 (expect 0) + ... + [RTC_TEST] === Phase 1 basic: 6/6 PASSED (failed=0) === + [RTC_TEST] === SD2506 Phase 2: full API coverage === + ... + [RTC_TEST] === Phase 2 API: 9/9 PASSED (failed=0) === + ``` +- 通过标准：所有 Phase 的 `failed=0`，且总量 `X/Y PASSED` 中 Y 与 PASS 数相等。 -**测试步骤与判定标准**： +## 6. 失败排查 -| 步 | 操作 | 成功标准 | 失败标准 | -|----|------|----------|----------| -| 1 | `sd2506_init()` | 返回 `0`（`SD2506_OK`） | 返回 `-2`（`SD2506_I2C_ERROR`，I2C 通信失败/芯片未响应） | -| 2 | `sd2506_get_time(&r)` 读取当前时间 | 返回 `0` 且 `r.year` 落在 `2000~2099`、月/日/时/分/秒为合法 BCD 范围 | 返回非零，或字段越界（如月>12、秒>59） | +- **TC-RTC-002 FAIL（set≠readback）**：优先查 `sd2506.h` 中各寄存器宏是否被写成 + `0xNNH`（H 后缀陷阱）。例如 `SD2506_REG_CTR1` 必须是 `0x0FU` 而非 `0x0FH`。 +- **init/get/set 返回 -2（I2C 错误）**：查 I2C1 接线（PB6-SCL / PB7-SDA）、 + 上拉电阻、芯片供电与器件地址 `0x32`。 +- **温度/电压越界**：多为芯片未上电或 I2C 读到全 0xFF，按 I2C 链路排查。 -**通过标准**：2/2 通过，0 失败。任一失败 → 阶段标记 FAIL +## 7. 已知限制 -**覆盖原则**：DP-04 - ---- - -### TC-RTC-002: 写入后回读比对（核心判定） - -| 字段 | 值 | -|------|-----| -| **ID** | TC-RTC-002 | -| **优先级** | P0 | -| **类型** | 功能测试 | -| **标题** | 写固定时间 `2026-08-28 12:00:00`，立即回读并比对 | -| **前置条件** | TC-RTC-001 通过 | - -**测试步骤与判定标准**： - -| 步 | 操作 | 成功标准 | 失败标准 | -|----|------|----------|----------| -| 1 | `sd2506_set_time(&t)`（t = 2026-08-28 12:00:00） | 返回 `0` | 返回非零（I2C 错误） | -| 2 | `sd2506_get_time(&r)` 立即回读 | 返回 `0` 且 `r` 与 `t` 的 年月日时分 完全一致、`秒` 允许 `±1`（回读期间走 1 秒） | 回读字段不符（尤其时分秒） | - -**通过标准**：回读与写入一致（秒允许 +1）。若 FAIL → **证明当前 `sd2506_write_enable()` WRTC 时序无效，写被芯片静默忽略**，直接进入 Phase 2 定位。 - -**覆盖原则**：DP-01、DP-02 - ---- - -### TC-RTC-003: 走时验证 - -| 字段 | 值 | -|------|-----| -| **ID** | TC-RTC-003 | -| **优先级** | P1 | -| **类型** | 功能测试 | -| **标题** | 写后等待 3 秒，确认时间向前推进约 3 秒 | -| **前置条件** | TC-RTC-002 通过（写已生效） | - -**测试步骤与判定标准**： - -| 步 | 操作 | 成功标准 | 失败标准 | -|----|------|----------|----------| -| 1 | 记录 `set` 后回读时间，调用 `osDelay(3000)` 后再 `sd2506_get_time` | 时间前进 `2~5` 秒（含测试开销） | 时间不前进 / 回退（振荡器或配置异常） | - -**通过标准**：时间单调前进且增量合理。任一异常 → 阶段标记 FAIL - -**覆盖原则**：DP-04 - ---- - -## 3. 阶段 2：WRTC 解锁时序探测 - -| 阶段 ID | TM-RTC-02 | -|---------|-----------| -| **类型** | 独立运行 | -| **耗时** | ~3 秒 | -| **入口** | `StartCh395fTestTask → TEST_SUITE_RTC → sd2506_test_run()` → `sd2506_phase_wrtc_probe()` | -| **出口** | 串口 `Phase 2 WRTC probe: N/N PASSED (failed=0)` 及 `BEST sequence: ...` | - -**分层说明**：本阶段为**黑盒 + 原始 I2C 诊断**，不依赖 `sd2506_write_enable()` 内部实现。直接以 `HAL_I2C_Mem_Write` 按不同 CTR1/CTR2 组合解锁→写 7 字节时间→立即回读，哪组能让写生效即为正确时序。每组写一组**互不相同的哨兵时间**，避免误判。 - -> 探测结论用于修正 `sd2506.c` 的 `sd2506_write_enable()`（@ `sd2506.c:121`）与 `sd2506_write_disable()`（@ `sd2506.c:142`）。 - -### TC-RTC-101: WRTC 候选序列穷举 - -| 字段 | 值 | -|------|-----| -| **ID** | TC-RTC-101 | -| **优先级** | P0 | -| **类型** | 功能测试 / 诊断 | -| **标题** | 穷举 8 组 CTR1/CTR2 解锁序列，找出令时间写生效的那组 | -| **前置条件** | 1. I2C1 正常
2. 无其它任务并发写 RTC | - -**候选序列表**（索引 i，每组写哨兵 `2020+i` 年避免互相干扰）： - -| idx | CTR1 | CTR2 | 顺序 | 说明 | -|-----|------|------|------|------| -| 0 | `0xFF` | `0x00` | CTR1→CTR2 | 仅 CTR1（依照 `sd2506.h` 宏 `SD2506_CTR1_WRITE_ON`）— **最可能正确** | -| 1 | `0x84` | `0x80` | CTR2→CTR1 | 当前驱动 `sd2506_write_enable` 实现（SD2403 参考，待测） | -| 2 | `0x84` | `0x80` | CTR1→CTR2 | 同上，调换写顺序 | -| 3 | `0xFF` | `0x80` | CTR2→CTR1 | CTR1=0xFF 叠加 CTR2=0x80 | -| 4 | `0x00` | `0x80` | CTR2→CTR1 | 仅 CTR2（WRTC1） | -| 5 | `0x80` | `0x00` | CTR1→CTR2 | 仅 CTR1 bit7（WRTC1） | -| 6 | `0x70` | `0x00` | CTR1→CTR2 | CTR1 bit6/5/4 | -| 7 | `0x86` | `0x00` | CTR1→CTR2 | CTR1 bit7+bit2（WRTC3+WRTC2） | - -**测试步骤与判定标准**： - -| 步 | 操作 | 成功标准 | 失败标准 | -|----|------|----------|----------| -| 1 | 对每组候选：按指定顺序写 CTR1/CTR2 → 写 7 字节哨兵时间 → 立即回读 | 回读与哨兵一致（秒允许 +1） | 回读不符（写被忽略，该组无效） | -| 2 | 汇总 8 组结果，记录首个 PASS 的组为 `BEST` | 至少 1 组 PASS，串口打印 `BEST sequence: CTR1=.. CTR2=.. ctr1_first=..` | 0 组 PASS | - -**通过标准**：至少 1 组 PASS，且打印出 `BEST sequence`。若 0 组 PASS → WRTC 不是根因，转查电池/充电/其它写入路径。 - -**覆盖原则**：DP-01 - ---- - -## 4. 阶段 3：跨重启持久化 - -| 阶段 ID | TM-RTC-03 | -|---------|-----------| -| **类型** | 需物理操作（重启板卡） | -| **耗时** | ~10 秒 + 人工重启 | -| **入口** | `StartCh395fTestTask → TEST_SUITE_RTC → sd2506_test_run()` → `sd2506_phase_persist()` | -| **出口** | 串口 `Phase 3 persist: N/N PASSED (failed=0)` | - -**前提**：Phase 2 必须已命中 `BEST sequence`（即 `s_best_found == 1`）。若未命中，本阶段跳过并打印指引。 - -### TC-RTC-201: 写哨兵时间 + 重启核验 - -| 字段 | 值 | -|------|-----| -| **ID** | TC-RTC-201 | -| **优先级** | P0 | -| **类型** | 恢复测试 / 持久化 | -| **标题** | 用命中时序写哨兵 `2026-09-09 09:09:09`，重启后读回应一致 | -| **前置条件** | TC-RTC-101 已命中 `BEST sequence` | - -**测试步骤与判定标准**： - -| 步 | 操作 | 成功标准 | 失败标准 | -|----|------|----------|----------| -| 1 | 用 `BEST` 序列写哨兵时间 `2026-09-09 09:09:09` | 写返回 OK 且立即回读一致 | 写失败 / 回读不符（`BEST` 序列存疑） | -| 2 | 串口提示 `USER ACTION: reboot board, check boot log 'SD2506 time:' == 2026-09-09 09:09:09` | 用户重启后，板子开机日志 `SD2506 time:` 行显示 `2026-09-09 09:09:09` | 重启后读回为旧时间（电池/充电路径异常，或 `BEST` 序列仍不正确） | - -**通过标准**：重启后开机日志时间 == 哨兵值。若不符 → 持久化链路（电池/充电/`sd2506_init` 上电逻辑）存在缺陷，需进一步排查。 - -**覆盖原则**：DP-03 - -> 测试任务结束前会自动用 `BEST` 序列恢复测试开始时的原始时间，避免板子停留在哨兵值。 - ---- - -## 5. 已知陷阱 - -| 陷阱 | 现象 | 修复 | -|------|------|------| -| WRTC 解锁时序错误 | `sd2506_set_time` 返回 OK，但时间不变化、重启回到旧值 | 以 Phase 2 `BEST sequence` 重写 `sd2506_write_enable()`/`sd2506_write_disable()` | -| 误以为 I2C 返回 OK 即写入成功 | 写保护未开时芯片静默忽略，`HAL_I2C_Mem_Write` 仍返回 `HAL_OK` | 必须**写后回读比对**确认（TC-RTC-002） | -| YEAR 双偏移 | `unix_to_sd2506` 与 `sd2506_set_time` 各减一次 2000，读出年份变成 20xx→溢出为 20xx+2000 | `set_time` 写 `year%100`、`get_time` 读 `+2000`；上层只传完整年 | - ---- - -## 附录 A：通过/失败汇总矩阵 - -| 阶段 | TC ID | 优先级 | 类型 | 状态 | -|------|-------|--------|------|------| -| TM-RTC-01 | TC-RTC-001 | P0 | 功能测试 | 待测 | -| TM-RTC-01 | TC-RTC-002 | P0 | 功能测试 | 待测 | -| TM-RTC-01 | TC-RTC-003 | P1 | 功能测试 | 待测 | -| TM-RTC-02 | TC-RTC-101 | P0 | 诊断 | 待测 | -| TM-RTC-03 | TC-RTC-201 | P0 | 恢复测试 | 待测 | - -## 附录 B：测试覆盖 vs 设计原则 - -| 原则 | 覆盖用例 | -|------|----------| -| DP-01 写保护时序正确 | TC-RTC-002、TC-RTC-101、TC-RTC-201 | -| DP-02 一次性 7 字节写入 | TC-RTC-002 | -| DP-03 跨重启持久化 | TC-RTC-201 | -| DP-04 24H + ARST 配置 | TC-RTC-001、TC-RTC-003 | +- TC-RTC-015 会让 `sd2506_set_alarm` 置 `CTR2.INTAE=1`（报警中断允许）。 + 测试固件未挂 INT 中断处理，且 INT 引脚在板上未连接，对运行无影响； + 若要完全复位，可手动再调用一次 `set_alarm(..., mask=0)`。 +- SRAM 回环会在 `addr=0` 写入测试数据（8 字节），属用户 SRAM 区域，不影响时间/控制寄存器。 diff --git a/test/sd2506_test.h b/test/sd2506_test.h index 9929c8b..153084a 100644 --- a/test/sd2506_test.h +++ b/test/sd2506_test.h @@ -9,8 +9,7 @@ extern "C" { /* ============ Phase 使能开关（取消注释即启用，默认全开） ============ */ #define ENABLE_RTC_BASIC_TESTS /* Phase 1: 基本读写 / 走时 */ -#define ENABLE_RTC_WRTC_PROBE_TESTS /* Phase 2: WRTC 解锁时序探测（定位正确时序） */ -#define ENABLE_RTC_PERSIST_TESTS /* Phase 3: 跨重启持久化 */ +#define ENABLE_RTC_API_TESTS /* Phase 2: 全功能 API 覆盖（BCD互转/温度/电压/ID/SRAM/报警） */ /* ============ 测试统计（与 STORAGE/GD5F 套件一致的独立统计） ============ */ typedef struct { diff --git a/test/sd2506_test_task.c b/test/sd2506_test_task.c index 5c01e25..4212ab4 100644 --- a/test/sd2506_test_task.c +++ b/test/sd2506_test_task.c @@ -92,6 +92,85 @@ static void sd2506_phase_basic(void) } #endif /* ENABLE_RTC_BASIC_TESTS */ +/* ===================== Phase 2：全功能 API 覆盖 ===================== */ +#ifdef ENABLE_RTC_API_TESTS +static void sd2506_phase_api(void) +{ + DBG_INFO("=== SD2506 Phase 2: full API coverage ==="); + + /* TC-RTC-010: BCD<->DEC 互转（纯算法，确定性，无需硬件交互） */ + int conv_ok = 1; + uint8_t samples[][2] = { + {0, 0x00U}, {1, 0x01U}, {9, 0x09U}, {10, 0x10U}, {23, 0x23U}, + {59, 0x59U}, {60, 0x60U}, {99, 0x99U}, {42, 0x42U}, {88, 0x88U} + }; + for (uint32_t i = 0U; i < (sizeof(samples) / sizeof(samples[0])); i++) { + uint8_t dec = samples[i][0]; + uint8_t bcd = samples[i][1]; + if (sd2506_dec_to_bcd(dec) != bcd) { + conv_ok = 0; + DBG_ERROR(" dec_to_bcd(%u) != 0x%02X", (unsigned int)dec, (unsigned int)bcd); + } + if (sd2506_bcd_to_dec(bcd) != dec) { + conv_ok = 0; + DBG_ERROR(" bcd_to_dec(0x%02X) != %u", (unsigned int)bcd, (unsigned int)dec); + } + } + SD2506_TEST_CHECK(conv_ok, "bcd<->dec round-trip (10 samples)"); + + /* TC-RTC-011: 内部温度读取 */ + int8_t temp = 0; + int ret = sd2506_get_temperature(&temp); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_temperature() ret=%d (expect 0)", ret); + if (ret == SD2506_OK) { + DBG_INFO(" temperature: %d C", (int)temp); + SD2506_TEST_CHECK(temp >= -40 && temp <= 85, + "temperature in range [-40,85]: %d", (int)temp); + } + + /* TC-RTC-012: 电池电压（毫伏） */ + uint16_t volt = 0U; + ret = sd2506_get_battery_voltage(&volt); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_battery_voltage() ret=%d (expect 0)", ret); + if (ret == SD2506_OK) { + DBG_INFO(" battery: %u mV", (unsigned int)volt); + SD2506_TEST_CHECK(volt > 2000U && volt < 5000U, + "battery voltage plausible: %u mV", (unsigned int)volt); + } + + /* TC-RTC-013: 芯片 8 字节 ID */ + uint8_t id[8] = {0}; + ret = sd2506_get_id(id); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_id() ret=%d (expect 0)", ret); + if (ret == SD2506_OK) { + DBG_INFO(" id: %02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X", + id[0], id[1], id[2], id[3], id[4], id[5], id[6], id[7]); + } + + /* TC-RTC-014: 用户 SRAM 读写回环（addr=0, len=8） */ + uint8_t wbuf[8] = {0xA1U, 0xB2U, 0xC3U, 0xD4U, 0xE5U, 0xF6U, 0x07U, 0x18U}; + uint8_t rbuf[8] = {0}; + ret = sd2506_write_sram(0U, wbuf, 8U); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_write_sram() ret=%d (expect 0)", ret); + if (ret == SD2506_OK) { + ret = sd2506_read_sram(0U, rbuf, 8U); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_read_sram() ret=%d (expect 0)", ret); + int sram_ok = (memcmp(wbuf, rbuf, 8U) == 0); + SD2506_TEST_CHECK(sram_ok, "SRAM write==readback"); + } + + /* TC-RTC-015: 报警设置 + 清除（验证 API 通路，不影响时间寄存器） */ + sd2506_time_t at; + at.year = 2026; at.month = 8; at.day = 28; at.hour = 12; at.minute = 0; at.second = 30; at.week = 4; + ret = sd2506_set_alarm(&at, (uint8_t)(SD2506_AL_EN_EAS | SD2506_AL_EN_EAMN)); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_set_alarm() ret=%d (expect 0)", ret); + ret = sd2506_clear_alarm(); + SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_clear_alarm() ret=%d (expect 0)", ret); + + SD2506_TEST_REPORT("Phase 2 API"); +} +#endif /* ENABLE_RTC_API_TESTS */ + /* ===================== 套件入口 ===================== */ void sd2506_test_run(void) { @@ -122,6 +201,10 @@ void sd2506_test_run(void) sd2506_phase_basic(); #endif +#ifdef ENABLE_RTC_API_TESTS + sd2506_phase_api(); +#endif + /* 恢复原始时间（用公共 API，写保护逻辑已由 sd2506.c 正确处理） */ if (have_orig) { int r = sd2506_set_time(&orig); diff --git a/test/test_config.h b/test/test_config.h index 9cbe648..f16839e 100644 --- a/test/test_config.h +++ b/test/test_config.h @@ -26,7 +26,7 @@ extern "C" { //#define TEST_SUITE_CH395F //#define TEST_SUITE_STORAGE //#define TEST_SUITE_GD5F -#define TEST_SUITE_RTC +//#define TEST_SUITE_RTC #if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1 #error "测试套件互斥：一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"