From 696a1a49a90fac7545936bb89aa3ffad467a2e32 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: Wanderingss <1624155937@qq.com> Date: Sat, 10 Oct 2026 17:46:45 +0800 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?=E4=B8=BB=E6=9C=BA=E5=8D=95=E6=B5=8B=EF=BC=9A?= =?UTF-8?q?=E6=96=B0=E5=A2=9E=20ADC=20=E8=BE=93=E5=85=A5=E5=B1=82=EF=BC=88?= =?UTF-8?q?L1=EF=BC=89=E7=94=A8=E4=BE=8B=2070=20=E9=A1=B9=E5=B9=B6?= =?UTF-8?q?=E7=99=BB=E8=AE=B0=20L1/L2=20=E5=8D=95=E6=B5=8B=E9=92=A9?= =?UTF-8?q?=E5=AD=90?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit 新增 App/algo/adc_input.c 的主机侧单测（L1），补齐 L1/L2 算法层 "每个函数都可离线验证"的最后一处空白。 - test/host/adc_input/{adc_input_test.c,run_unit_test.py,stub/}： 70 个用例，覆盖 6 个公开函数 + map_check + stm32_scan。 关键判据 = "通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射：给每个 Rank 注入互不相同的码值，逐通道钉死映射（板端无信号源，无法验此项）。 另钉死 HAL 启动失败 / 轮询超时 / 参数错 / 无有效数据等分支。 - .pre-commit-config.yaml：登记 phasor-unit-test（7d）与 adc-input-unit-test（7e）两个主机侧单测钩子。 主机侧全套：adc_input 70/70、phasor 52/52，均 0 失败、无 /W4 告警。 --- .pre-commit-config.yaml | 28 ++ test/host/adc_input/adc_input_test.c | 463 +++++++++++++++++++++++++++ test/host/adc_input/run_unit_test.py | 54 ++++ test/host/adc_input/stub/adc.h | 58 ++++ test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h | 28 ++ 5 files changed, 631 insertions(+) create mode 100644 test/host/adc_input/adc_input_test.c create mode 100644 test/host/adc_input/run_unit_test.py create mode 100644 test/host/adc_input/stub/adc.h create mode 100644 test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h diff --git a/.pre-commit-config.yaml b/.pre-commit-config.yaml index ace93544..01a569b2 100644 --- a/.pre-commit-config.yaml +++ b/.pre-commit-config.yaml @@ -232,6 +232,34 @@ repos: files: ^(App/cfg/cfg_file\.(c|h)|App/cfg/cfg_file_store\.h|App/log/sys_log\.h|test/host/cfg_file/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$ pass_filenames: false + # 7d) 相量层（L2）主机侧单元测试（2026-10-10 加） + # 背景：App/algo/ 为**纯算法**层（无寄存器、无 RTOS、无外设依赖），是本项目 + # 首个可完全离线验证的算法层。板端**无信号源**，无法注入已知幅值/相位/频率的 + # 标准波形，故"读数 = 设定值"这一核心判据在板上不可验；本钩子用 MSVC 离线编译 + # 真实源文件（#include 纳入，无需桩）+ 合成任意波形，把系数表、幅值/相位、 + # 直流与谐波抑制、频偏敏感度、滑动窗、双区交换一次性钉死。 + # files 含被测的两个源与其头，以及 harness 本身。 + - id: phasor-unit-test + name: 相量层单测（主机侧） + entry: python test/host/phasor/run_unit_test.py + language: system + files: ^(App/algo/(phasor|sample_ring)\.(c|h)|test/host/phasor/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$ + pass_filenames: false + + # 7e) ADC 输入层（L1）主机侧单元测试（2026-10-10 加） + # 背景：adc_input.c 的核心是"通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射的正确性； + # 板端无信号源，无法注入已知电压验证"读到的是哪只脚"（映射说明 §8）。本钩子用 + # MSVC 离线编译真实源文件（#include 纳入）+ HAL/TPAFE 可注入桩：给每个 Rank + # 注入互不相同的码值以**逐通道钉死映射**，并一次钉死 HAL 启动失败 / 转换超时 / + # 参数错等真机难复现的分支。 + # files 含被测源与其头、两个桩头所在目录，以及 harness 本身。 + - id: adc-input-unit-test + name: ADC 输入层单测（主机侧） + entry: python test/host/adc_input/run_unit_test.py + language: system + files: ^(App/algo/adc_input\.(c|h)|test/host/adc_input/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$ + pass_filenames: false + # 8) 测试套件开关门禁（2026-10-01 加） # 背景：test_config.h 的 TEST_SUITE_* 决定固件里编入哪个测试套件， # 全部注释 = 产品构建。但此前**无任何门禁检查**——实测已提交的 HEAD 里 diff --git a/test/host/adc_input/adc_input_test.c b/test/host/adc_input/adc_input_test.c new file mode 100644 index 00000000..7a431b8b --- /dev/null +++ b/test/host/adc_input/adc_input_test.c @@ -0,0 +1,463 @@ +/* + * 模块名称：ADC 输入层（L1）主机侧单元测试 + * 模块功能：在 PC 上对 App/algo/adc_input.c 做离线验证（6 个公开函数 + 2 个静态函数）。 + * + * 被测对象：真实源文件 ../../../App/algo/adc_input.c（以 #include 原样纳入， + * 保证测的是生产代码而非副本）。平台依赖由本文件提供的**可注入桩**实现： + * - adc.h -> HAL_ADC_Start / PollForConversion / GetValue / Stop + * （可注入 启动失败 / 第 N 次轮询超时 / 逐 Rank 返回值） + * - tpafe5160.h-> tpafe5160_snapshot（可注入 新帧/无新帧/参数错 + 帧内容） + * + * 为什么要主机侧单测（而不是只用板端套件）： + * 1. 本层核心是"**通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义**"三者的映射正确性。板端**无信号源** + * （见 docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md §8），无法注入已知电压去验证"读到的是 + * 哪只脚"；主机侧可直接给每个 Rank 注入互不相同的码值，从而**逐通道钉死映射** + * （这是唯一能在离线端证伪"通道宏写错 -> 读到另一只脚"的手段）。 + * 2. HAL 启动失败 / 转换超时 / 参数错等分支在真机上极难稳定复现，主机侧一次钉死。 + * 3. 不占 MCU 的 RAM，毫秒级完成。 + * + * 覆盖点（对应 docs/算法/继电保护功能复现规划.md §2.1 的 L1-3 / L1-4）： + * —— adc_input_init（TC-AI-001..006）—— + * TC-AI-001 poll 失败后失败计数可见（前置状态构造） + * TC-AI-002 poll 成功后 TPAFE 侧可取数（前置状态构造） + * TC-AI-003 init 返回 0（映射表自检通过） + * TC-AI-004 init 后 STM32 状态码 = NOT_RUN + * TC-AI-005 init 后失败计数归零 + * TC-AI-006 init 后 TPAFE / STM32 两侧均无有效数据（有效标志被清） + * —— adc_input_desc（TC-AI-010..01A）—— + * TC-AI-010..018 九个语义通道 -> (来源, 下标) 与权威映射表逐项一致 + * TC-AI-019/01A 越界（ADC_SEM_COUNT）与负数语义 -> NULL + * —— map_check（TC-AI-020）—— + * TC-AI-020 真实映射表自洽（反向路径结构上不可达，见文件末说明） + * —— stm32_scan（TC-AI-021..03A）—— + * TC-AI-021..025 全通道成功：返回 0 / 状态码 / 不计失败 / Start-Stop 各一次 / 轮询 9 次 + * TC-AI-026..02B **Rank -> 通道号映射**：UB->CH14(rank9) / UC->CH3(rank4) / + * IB->CH6(rank7) / IC->CH1(rank2) / IN->CH2(rank3) / TEMP->CH5(rank6) + * TC-AI-02C stm32_scan 不置 TPAFE 有效标志（两来源独立） + * TC-AI-030..034 HAL_ADC_Start 失败：返回 -1 / 状态码 RC_START / 计数 +1 / 不调 Stop + * TC-AI-035..039 轮询超时：返回 -2 / 状态码 RC_TIMEOUT / 计数 +1 / 调 Stop 收尾 / 立即退出 + * TC-AI-03A 失败计数跨次单调累计 + * —— adc_input_raw（TC-AI-040..04B）—— + * TC-AI-040..043 参数守卫：out=NULL / 越界 / 负数 -> -1，且不写 out + * TC-AI-044/045 无有效数据 -> -2（两来源分别） + * TC-AI-046..048 poll 快照契约：返回码透传 / 请求 8 通道 / 目的缓冲非空 + * TC-AI-049..04B TPAFE 按**下标**取数（UA=6 / UN=5 / IA=2）且补码负值原样保留 + * —— adc_input_poll（TC-AI-050..058）—— + * TC-AI-050..052 无新帧(0)：返回 0 / TPAFE 无效 / STM32 侧照常扫描 + * TC-AI-053/054 参数错(-1)：返回 -1 / TPAFE 无效 + * TC-AI-055 已有有效帧后再"无新帧"**不清零**（保持上次有效值） + * TC-AI-056..058 STM32 失败**不阻断** TPAFE、**不影响** poll 返回值，另由状态码暴露 + * —— adc_input_stm32_rc / _errs（TC-AI-060..066）—— + * TC-AI-060/061 init 后 = NOT_RUN / 计数 0 + * TC-AI-062 成功: rc=OK 且 errs 不变 + * TC-AI-063/064 两次失败累计 = 2，rc = 最近一次（TIMEOUT） + * TC-AI-065/066 恢复成功 rc=OK，errs 单调不回退 + * + * 通过：全部 TC PASS（main 返回 0）。 + * 入口：int main(void)，返回 0=PASS / 1=FAIL（由 run 脚本判读）。 + * + * 创建日期：2026-10-10 + */ + +#include +#include +#include + +/* ===================== 平台桩（先纳入，覆盖真实头） ===================== */ +#include "adc.h" +#include "tpafe5160.h" + +/* ===================== HAL ADC1 桩 ===================== + * 被测代码经 HAL 只做四件事：启动、逐 Rank 轮询、读 DR、停止。桩把它们变成可注入： + * s_start_rc HAL_ADC_Start 返回值（注入启动失败） + * s_poll_fail_at PollForConversion 第几次（0 基）失败；-1 = 永不失败（注入超时） + * s_poll_vals[i] 第 i 个 Rank 读到的码值（默认 100+i，用于钉死 Rank->通道映射） + * s_poll_calls / s_rank_idx 轮询次数 / 取数次数（观测：超时后是否立即退出） + */ +static HAL_StatusTypeDef s_start_rc = HAL_OK; +static int s_poll_fail_at = -1; +static uint32_t s_poll_vals[16]; +static int s_poll_calls = 0; +static int s_rank_idx = 0; +static int s_start_calls = 0; +static int s_stop_calls = 0; + +/* 被测代码把 &hadc1 透传给 HAL 桩；桩不读其字段 */ +ADC_HandleTypeDef hadc1; + +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef *hadc) { + (void)hadc; + s_start_calls++; + s_poll_calls = 0; + s_rank_idx = 0; + return s_start_rc; +} + +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef *hadc, uint32_t Timeout) { + (void)hadc; + (void)Timeout; + { + int idx = s_poll_calls; + s_poll_calls++; + if (s_poll_fail_at >= 0 && idx == s_poll_fail_at) { + return HAL_ERROR; + } + } + return HAL_OK; +} + +uint32_t HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef *hadc) { + uint32_t v; + (void)hadc; + v = (s_rank_idx < 16) ? s_poll_vals[s_rank_idx] : 0u; + s_rank_idx++; + return v; +} + +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Stop(ADC_HandleTypeDef *hadc) { + (void)hadc; + s_stop_calls++; + return HAL_OK; +} + +/* ===================== TPAFE5160 快照桩 ===================== */ +static int16_t s_fake_tpafe[8]; +static int s_snapshot_rc = 0; +static int s_snapshot_calls = 0; +static uint8_t s_snapshot_count = 0u; +static int16_t *s_snapshot_dst = NULL; + +int tpafe5160_snapshot(int16_t *dst, uint8_t count) { + uint8_t i; + + s_snapshot_calls++; + s_snapshot_count = count; + s_snapshot_dst = dst; + if (s_snapshot_rc == 1) { + for (i = 0u; (i < count) && (i < 8u); i++) { + dst[i] = s_fake_tpafe[i]; + } + } + return s_snapshot_rc; +} + +/* ===================== 断言 ===================== */ +static int s_total = 0, s_passed = 0, s_failed = 0; + +#define CHECK(cond, name) do { \ + s_total++; \ + if (cond) { s_passed++; printf(" [PASS] %s\n", name); } \ + else { s_failed++; printf(" [FAIL] %s (line %d)\n", name, __LINE__); } \ +} while (0) + +/* ===================== 被测代码（原样纳入生产源） ===================== */ +#include "adc_input.c" + +/* ===================== 工具 ===================== */ + +/* + * 函数功能：把全部桩复位到"健康"初值 + * 入口参数：无 + * 返 回 值：无 + * 限定条件：无 + * 函数说明：默认 Start 成功、轮询永不超时、第 i 个 Rank 读到 100+i（互不相同， + * 以便逐通道钉死 Rank->通道号映射）、TPAFE 快照无新帧。 + */ +static void fakes_reset(void) { + uint8_t i; + + s_start_rc = HAL_OK; + s_poll_fail_at = -1; + s_poll_calls = 0; + s_rank_idx = 0; + s_start_calls = 0; + s_stop_calls = 0; + for (i = 0u; i < 16u; i++) { + s_poll_vals[i] = 100u + (uint32_t)i; + } + s_snapshot_rc = 0; + s_snapshot_calls = 0; + s_snapshot_count = 0u; + s_snapshot_dst = NULL; + for (i = 0u; i < 8u; i++) { + s_fake_tpafe[i] = 0; + } +} + +/* ===================== TC-AI-001..006：init ===================== */ + +static void tc_init(void) { + int32_t v = -999; + + fakes_reset(); + /* 前置：制造"STM32 失败一次 + TPAFE 有效一帧"的状态，再验 init 是否清干净 */ + s_snapshot_rc = 1; + s_fake_tpafe[6] = 4321; + s_start_rc = HAL_ERROR; + (void)adc_input_poll(); + + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-001 poll 失败后 STM32 失败计数 = 1"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 4321), + "TC-AI-002 poll 后 UA 可取数且值正确"); + + CHECK(adc_input_init() == 0, "TC-AI-003 adc_input_init 返回 0（映射自检通过）"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_NOT_RUN, + "TC-AI-004 init 后 STM32 状态码 = NOT_RUN"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-005 init 后 STM32 失败计数归零"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2) && (adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2), + "TC-AI-006 init 后 TPAFE / STM32 两侧均无有效数据"); +} + +/* ===================== TC-AI-010..01A：desc 映射表 ===================== */ + +static void tc_desc(void) { + const adc_channel_desc_t *d; + + d = adc_input_desc(ADC_SEM_UA); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 6u), + "TC-AI-010 UA -> TPAFE buf[6]"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_UB); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 14u), + "TC-AI-011 UB -> STM32 CH14"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_UC); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 3u), + "TC-AI-012 UC -> STM32 CH3"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_UN); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 5u), + "TC-AI-013 UN -> TPAFE buf[5]"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_IA); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 2u), + "TC-AI-014 IA -> TPAFE buf[2]"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_IB); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 6u), + "TC-AI-015 IB -> STM32 CH6"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_IC); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 1u), + "TC-AI-016 IC -> STM32 CH1"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_IN); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 2u), + "TC-AI-017 IN -> STM32 CH2"); + d = adc_input_desc(ADC_SEM_TEMP); + CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 5u), + "TC-AI-018 TEMP -> STM32 CH5"); + + CHECK(adc_input_desc(ADC_SEM_COUNT) == NULL, "TC-AI-019 越界(ADC_SEM_COUNT) -> NULL"); + CHECK(adc_input_desc((adc_semantic_t)(-1)) == NULL, "TC-AI-01A 负数语义 -> NULL"); +} + +/* ===================== TC-AI-020：map_check ===================== */ + +static void tc_map_check(void) { + /* 真实映射表自洽：TPAFE 下标 < 8 且每个 STM32 通道号都出现在扫描 Rank 内。 + * 反向路径（表不自洽 -> -1）需在运行时改表，而 k_adc_map / k_stm32_rank_ch 均为 + * 编译期 static const、无运行时输入可使其不自洽 -> 结构上不可达（见文件末说明）。 */ + CHECK(map_check() == 0, "TC-AI-020 映射表自洽（TPAFE 下标与 STM32 Rank 均在范围内）"); +} + +/* ===================== TC-AI-021..02C：stm32_scan 成功路径 ===================== */ + +static void tc_scan_ok(void) { + int32_t v = 0; + + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + + CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-021 stm32_scan 全通道成功 -> 0"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-022 状态码 = RC_OK"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-023 成功不计入失败"); + CHECK((s_start_calls == 1) && (s_stop_calls == 1), "TC-AI-024 Start / Stop 各一次"); + CHECK((s_poll_calls == (int)ADC_INPUT_STM32_CH_NUM) && (s_rank_idx == (int)ADC_INPUT_STM32_CH_NUM), + "TC-AI-025 轮询与取数各 9 次（Rank1..9）"); + + /* Rank -> 通道号映射：第 i 个 Rank 读到 100+i。 + * k_stm32_rank_ch = [CH0..CH7, CH14]，故 CH3->103 / CH5->105 / CH6->106 / CH14->108。 */ + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == 0) && (v == 108), "TC-AI-026 UB 取到 CH14(rank9)=108"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UC, &v) == 0) && (v == 103), "TC-AI-027 UC 取到 CH3(rank4)=103"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IB, &v) == 0) && (v == 106), "TC-AI-028 IB 取到 CH6(rank7)=106"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IC, &v) == 0) && (v == 101), "TC-AI-029 IC 取到 CH1(rank2)=101"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IN, &v) == 0) && (v == 102), "TC-AI-02A IN 取到 CH2(rank3)=102"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_TEMP, &v) == 0) && (v == 105), "TC-AI-02B TEMP 取到 CH5(rank6)=105"); + + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-02C stm32_scan 不置 TPAFE 有效标志"); +} + +/* ===================== TC-AI-030..034：stm32_scan 启动失败 ===================== */ + +static void tc_scan_start_fail(void) { + int32_t v = 0; + + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_start_rc = HAL_ERROR; + + CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-030 HAL_ADC_Start 失败 -> -1"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-031 状态码 = RC_START"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-032 失败计数 +1"); + CHECK(s_stop_calls == 0, "TC-AI-033 启动失败不调用 Stop"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-034 启动失败后 STM32 侧仍无有效数据"); +} + +/* ===================== TC-AI-035..03A：stm32_scan 轮询超时 ===================== */ + +static void tc_scan_timeout(void) { + int32_t v = 0; + + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_poll_fail_at = 4; /* 第 5 个 Rank 轮询超时 */ + + CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-035 轮询超时 -> -2"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-036 状态码 = RC_TIMEOUT"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-037 超时计入失败"); + CHECK(s_stop_calls == 1, "TC-AI-038 超时前已 Start -> 调 Stop 收尾"); + CHECK(s_poll_calls == 5, "TC-AI-039 超时后立即退出（只轮询 5 次）"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-039b 超时后 STM32 侧无有效数据"); + + s_poll_fail_at = 0; /* 再失败一次 */ + (void)stm32_scan(); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-03A 失败计数跨次单调累计 = 2"); +} + +/* ===================== TC-AI-040..045：raw 参数守卫与无数据 ===================== */ + +static void tc_raw_guards(void) { + int32_t v = 0; + + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, NULL) == -1, "TC-AI-040 out=NULL -> -1"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_COUNT, &v) == -1, "TC-AI-041 ch 越界 -> -1"); + CHECK(adc_input_raw((adc_semantic_t)(-1), &v) == -1, "TC-AI-042 ch 负数 -> -1"); + CHECK(v == 0, "TC-AI-043 参数错时不写 out"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-044 TPAFE 无有效帧 -> -2"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-045 STM32 无有效扫描 -> -2"); +} + +/* ===================== TC-AI-046..04B：raw TPAFE 取数与补码 ===================== */ + +static void tc_raw_tpafe(void) { + int32_t v = 0; + + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + /* 注入 8 路 TPAFE 码值（互不相同），UA 应取 buf[6] / UN 取 buf[5] / IA 取 buf[2] */ + s_fake_tpafe[0] = 1000; + s_fake_tpafe[1] = 1001; + s_fake_tpafe[2] = -1234; + s_fake_tpafe[3] = 1003; + s_fake_tpafe[4] = 1004; + s_fake_tpafe[5] = 2005; + s_fake_tpafe[6] = 3006; + s_fake_tpafe[7] = 1007; + s_snapshot_rc = 1; + + CHECK(adc_input_poll() == 1, "TC-AI-046 poll 透传 TPAFE 快照码 1"); + CHECK(s_snapshot_count == (uint8_t)ADC_INPUT_TPAFE_CH_NUM, "TC-AI-047 快照请求 8 通道"); + CHECK(s_snapshot_dst != NULL, "TC-AI-048 快照目的缓冲非空"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 3006), "TC-AI-049 UA -> buf[6]=3006"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UN, &v) == 0) && (v == 2005), "TC-AI-04A UN -> buf[5]=2005"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IA, &v) == 0) && (v == -1234), + "TC-AI-04B IA -> buf[2]=-1234（补码负值原样保留）"); +} + +/* ===================== TC-AI-050..058：poll 契约 ===================== */ + +static void tc_poll(void) { + int32_t v = 0; + + /* --- 无新帧(0)：返回 0，TPAFE 无效，STM32 侧照常扫描 --- */ + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_snapshot_rc = 0; + CHECK(adc_input_poll() == 0, "TC-AI-050 快照无新帧 -> poll 返回 0"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-051 无新帧时 TPAFE 侧无效"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-052 同拍 STM32 扫描照常执行"); + + /* --- 参数错(-1)：返回 -1，TPAFE 无效 --- */ + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_snapshot_rc = -1; + CHECK(adc_input_poll() == -1, "TC-AI-053 快照参数错 -> poll 返回 -1"); + CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-054 参数错时 TPAFE 侧无效"); + + /* --- 已有有效帧后再"无新帧"：保持上次有效值（不清零） --- */ + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_fake_tpafe[6] = 777; + s_snapshot_rc = 1; + (void)adc_input_poll(); + s_snapshot_rc = 0; + (void)adc_input_poll(); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 777), + "TC-AI-055 已有有效帧后无新帧不清零"); + + /* --- STM32 失败不阻断 TPAFE、不影响 poll 返回值 --- */ + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + s_fake_tpafe[2] = 55; + s_snapshot_rc = 1; + s_start_rc = HAL_ERROR; + CHECK(adc_input_poll() == 1, "TC-AI-056 STM32 失败不影响 poll 返回值（仍为 1）"); + CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IA, &v) == 0) && (v == 55), + "TC-AI-057 STM32 失败不影响 TPAFE 取数"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-058 STM32 失败另由状态码暴露"); +} + +/* ===================== TC-AI-060..066：rc / errs 观测 ===================== */ + +static void tc_rc_errs(void) { + fakes_reset(); + (void)adc_input_init(); + + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_NOT_RUN, "TC-AI-060 init 后未扫描 = NOT_RUN(-3)"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-061 init 后失败计数 = 0"); + + (void)stm32_scan(); /* 成功 */ + CHECK((adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK) && (adc_input_stm32_errs() == 0u), + "TC-AI-062 成功: rc=OK 且 errs 不变"); + + s_start_rc = HAL_ERROR; + (void)stm32_scan(); /* 失败 1 */ + s_start_rc = HAL_OK; + s_poll_fail_at = 0; + (void)stm32_scan(); /* 失败 2 */ + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-063 两次失败累计 = 2"); + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-064 rc = 最近一次（TIMEOUT）"); + + s_poll_fail_at = -1; + (void)stm32_scan(); /* 恢复成功 */ + CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-065 恢复成功后 rc=OK"); + CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-066 errs 单调递增（不因成功回落）"); +} + +/* ===================== main ===================== */ + +int main(void) { + printf("=== ADC Input Tests ===\n"); + + printf("-- init / reset --\n"); + tc_init(); + printf("-- semantic map desc --\n"); + tc_desc(); + printf("-- map self-check --\n"); + tc_map_check(); + printf("-- stm32 scan: success + rank/channel mapping --\n"); + tc_scan_ok(); + printf("-- stm32 scan: HAL_ADC_Start fail --\n"); + tc_scan_start_fail(); + printf("-- stm32 scan: poll timeout --\n"); + tc_scan_timeout(); + printf("-- raw: guards / no-data --\n"); + tc_raw_guards(); + printf("-- raw: tpafe index + two's complement --\n"); + tc_raw_tpafe(); + printf("-- poll contract --\n"); + tc_poll(); + printf("-- rc / errs observability --\n"); + tc_rc_errs(); + + printf("\n=== ADC Input Tests: %d/%d PASSED (failed=%d) ===\n", + s_passed, s_total, s_failed); + return (s_failed == 0) ? 0 : 1; +} diff --git a/test/host/adc_input/run_unit_test.py b/test/host/adc_input/run_unit_test.py new file mode 100644 index 00000000..ec3a1f74 --- /dev/null +++ b/test/host/adc_input/run_unit_test.py @@ -0,0 +1,54 @@ +#!/usr/bin/env python3 +# -*- coding: utf-8 -*- +"""ADC 输入层（L1，adc_input）的主机侧单元测试运行器（L0.5，纯标准库）。 + +做什么： + 用本机 MSVC 编译 test/host/adc_input/adc_input_test.c（它以 #include 纳入 + **生产源文件** App/algo/adc_input.c），在 PC 上离线跑语义映射表 / STM32 ADC1 + 顺序扫描 / TPAFE 快照消费 / 取数守卫 / poll 契约 / 状态码统计，失败即非 0 退出。 + 零硬件、零烧录、毫秒级。 + + 工具链探测 / INCLUDE-LIB 拼接 / 编译运行 / 退出码判定全部委托给通用 harness + `test/host/common/unit_test_harness.py`（本文件只做声明）。 + +为什么要主机侧单测（而不是只用板端套件）： + 本层核心是"**通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义**"三者映射的正确性。板端无信号源 + （docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md §8），无法注入已知电压验证"读到的是哪只脚"； + 主机侧给每个 Rank 注入互不相同的码值，即可**逐通道钉死映射**，并一次钉死 + HAL 启动失败 / 转换超时 / 参数错等真机难复现的分支。 + +用法（仓库根目录）： + python test/host/adc_input/run_unit_test.py + 或统一用 .venv： & '.venv\\Scripts\\python.exe' test/host/adc_input/run_unit_test.py + +退出码：0=PASS / 1=测试失败 / 2=环境错误（找不到编译器 / 编译失败 / 无汇总行）。 + +设计依据：docs/算法/继电保护功能复现规划.md §2.1（L1-3 / L1-4）； +创建日期：2026-10-10 +""" +import os +import sys + +HERE = os.path.dirname(os.path.abspath(__file__)) +ROOT = os.path.dirname(os.path.dirname(os.path.dirname(HERE))) +# harness 位于 test/host/common/ +sys.path.insert(0, os.path.join(ROOT, "test", "host", "common")) + +from unit_test_harness import TestBuild, run_host_unit_test # noqa: E402 + +# 顺序敏感：stub 目录必须**先于**生产目录，才能覆盖 adc.h / tpafe5160.h +# （真实头会经 main.h 拖入整套 HAL，主机侧无法编译）。adc_input.h 用真实头 +# （接口契约原汁）；HAL_ADC_* 与 tpafe5160_snapshot 由测试单元给强符号桩。 +BUILD = TestBuild( + name="ADC Input Tests", + src=os.path.join(HERE, "adc_input_test.c"), + include_dirs=[ + os.path.join(HERE, "stub"), + os.path.join(ROOT, "App", "algo"), + HERE, + ], + summary_marker="=== ADC Input Tests:", +) + +if __name__ == "__main__": + sys.exit(run_host_unit_test(BUILD)) diff --git a/test/host/adc_input/stub/adc.h b/test/host/adc_input/stub/adc.h new file mode 100644 index 00000000..590c798c --- /dev/null +++ b/test/host/adc_input/stub/adc.h @@ -0,0 +1,58 @@ +/* + * 主机侧单测桩：adc.h + * 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 STM32 ADC1 句柄与 HAL 接口 + * 声明（真实 Inc/adc.h 会经 main.h 拖入整套 HAL，主机侧无法编译）。 + * + * ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。 + * + * 保真点：F4 HAL 的 ADC_CHANNEL_x 宏值**即通道号 x**（0..15），本桩按此定义， + * 故被测代码里 `(uint8_t)ADC_CHANNEL_14` 得到 14 —— 与真机一致。 + * 另声明 4 个 HAL_ADC_* 接口，由测试单元给强符号桩（可注入失败/超时/返回值）。 + * + * 创建日期：2026-10-10 + */ + +#ifndef ADC_H +#define ADC_H + +#include + +/* HAL 状态码（与 stm32f4xx_hal_def.h 同值，仅取被测代码用到的子集） */ +typedef enum { + HAL_OK = 0x00, + HAL_ERROR = 0x01, + HAL_BUSY = 0x02, + HAL_TIMEOUT = 0x03 +} HAL_StatusTypeDef; + +/* ADC 句柄：被测代码只把 &hadc1 透传给 HAL 接口，从不读其字段，故为不透明占位 */ +typedef struct { + uint32_t reserved; +} ADC_HandleTypeDef; + +extern ADC_HandleTypeDef hadc1; + +/* ADC 通道宏（F4：宏值 = 通道号） */ +#define ADC_CHANNEL_0 (0x00000000U) +#define ADC_CHANNEL_1 (0x00000001U) +#define ADC_CHANNEL_2 (0x00000002U) +#define ADC_CHANNEL_3 (0x00000003U) +#define ADC_CHANNEL_4 (0x00000004U) +#define ADC_CHANNEL_5 (0x00000005U) +#define ADC_CHANNEL_6 (0x00000006U) +#define ADC_CHANNEL_7 (0x00000007U) +#define ADC_CHANNEL_8 (0x00000008U) +#define ADC_CHANNEL_9 (0x00000009U) +#define ADC_CHANNEL_10 (0x0000000AU) +#define ADC_CHANNEL_11 (0x0000000BU) +#define ADC_CHANNEL_12 (0x0000000CU) +#define ADC_CHANNEL_13 (0x0000000DU) +#define ADC_CHANNEL_14 (0x0000000EU) +#define ADC_CHANNEL_15 (0x0000000FU) + +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef *hadc); +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef *hadc, uint32_t Timeout); +uint32_t HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef *hadc); +HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Stop(ADC_HandleTypeDef *hadc); + +#endif /* ADC_H */ diff --git a/test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h b/test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h new file mode 100644 index 00000000..69a9516f --- /dev/null +++ b/test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h @@ -0,0 +1,28 @@ +/* + * 主机侧单测桩：tpafe5160.h + * 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 TPAFE5160 快照接口声明 + * （真实头会经 main.h 拖入 HAL 与 GPIO 宏，主机侧无法编译）。 + * + * ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。 + * + * 被测代码只消费 tpafe5160_snapshot()（E-58 原子快照），故桩只保留该声明； + * 其返回值语义（1=新帧 / 0=无新帧 / -1=参数错）与真实驱动一致，由测试单元 + * 给强符号桩并按用例注入。 + * + * 创建日期：2026-10-10 + */ + +#ifndef TPAFE5160_H +#define TPAFE5160_H + +#include + +/* + * 函数功能：原子快照最新一帧（消费者取数的唯一正确姿势） + * 入口参数：dst - 输出缓冲区 int16_t* 不为 NULL + * count - 拷贝通道数 uint8_t 1 - 8 + * 返 回 值：1 - 取到新帧，0 - 无新帧，-1 - 参数无效 + */ +int tpafe5160_snapshot(int16_t *dst, uint8_t count); + +#endif /* TPAFE5160_H */