wandering1/STM32F4-Base
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feat(S-5): 收编 SD2506/TPAFE 并给 dhara 失败分类，门禁基线 19→17

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前一笔立契约与门禁（`Drivers/BSP/bsp_err.h` + `bsp-err` 钩子 + RS485 试点）；这一笔按用户
指定顺序 C3 → C1 → C2 把三个模块真正收编，并让存储失败第一次变得可读、可分类。

**C3 · SD2506 整模块（11 个公共 API + 6 个内部 helper）**：三枚私有宏 `SD2506_OK`/
`SD2506_ERROR`/`SD2506_I2C_ERROR` **删除而不是留别名**——留别名等于新代码还能用旧形状，
把迁移洗掉；编译器替我们找全所有调用点。新增 `sd2506_err_from_hal()`，**把 I2C 超时从
"和没人应答共用一个 −2"里拆出来归成 `BSP_ERR_TIMEOUT`（可重试）**——SD2506 是启动链第一站、
I2C1 上电时序敏感，这是本波唯一真正的语义改善，不是改名。`sd2506_init` 的 charge 寄存器
**回读校验不符**原返参数类错误，改归 `BSP_ERR_IO`（那不是调用方的错）。

**C1 · 同形两义**：`GD5F_BUSY_TIMEOUT` → `GD5F_WAIT_EXPIRED`（**值 −2 不变**，纯消"名字叫
TIMEOUT 其实是返回码"）。**GD5F 私有码集整体收编刻意没做**：169 处引用里 48 处在板级套件、
还要动 Trap 记录用词，属另一波带真机+套件回归的工作，不夹带。TPAFE5160 收编 23 处：
`BUSY_TIMEOUT → BSP_ERR_TIMEOUT`、`ERROR → BSP_ERR_PARAM`（**同值 −1，行为零变化**）、
`FRSTDATA_ERR → BSP_ERR_NO_DEVICE`（E-44 的本义就是"芯片没驱动 DB 总线"，归到器件无响应比
私有 −3 有用，且避开与 `BSP_ERR_TIMEOUT` 撞值）。实测 `tpafe5160.o`/`gd5f2gq5ue.o` 的 Code
增量为 **0**——改名不产生一条指令。

⚠ **`tpafe5160_snapshot()` 刻意不套成败码**：它是 1=有新帧 / 0=无新帧 / −1=参数错 的三态
**状态**返回，0 不是错误而是"这一拍没有新数据"，强行收编会把慢消费者的正常路径变成失败。
顺带订正我上一版在 `bsp_err.h` 的断言——"本层只有 `net_*` 把数量与错误挤同一返回值"是错的，
`snapshot`/`adc_input_poll` 就是第二族；两族现都已写明并各注保留理由。

**C2 · FTL 坍缩点分类**：`ftl_flush_cache`/`ftl_read_page` 不再把 dhara 失败压成
  `GD5F_ERROR`，
按**处置差异**分三类，并在最早同时知道 LPN 与原始码的位置就地打印：`ECC`/`TOO_BAD` →
`BSP_ERR_CRC`（页级，重试或换页，不代表卷坏）；`JOURNAL_FULL`/`MAP_FULL` →
`BSP_ERR_NO_SPACE`（介质健康但块池/日志见底，此时重格式化只是把问题推回去）；
`BAD_BLOCK`/`RECOVER`/`CORRUPT_MAP`/越界 → `BSP_ERR_IO`（完整性故障，保卷 + 上报，不许自愈
重格式化）。这与 **E-31** 是同一条纪律的两端。可读名用自建短表：**本仓 dhara 没有编
`error.c`，用 `dhara_strerror()` 会直接链接失败**。`disk_read`/`disk_write` 仍回
  `RES_ERROR`
（FatFs 契约）；要让 defaultTask 卷健康探针按类分支还差跨调用存活的快照 → C4 待还。

**两次靠核实拦住的自我错误**：① 我一度认定 `DBG_ERROR("... err=%d", err)` 是把结构体塞进
varargs 的格式 bug——核 `Lib/dhara/error.h` 后确认 `dhara_error_t` 是 `enum`（标量），那行日志
本来合法，改了反而是引入错误；② `bsp-err` 一次 `replace_all` 越界把 8 处 **GD5F 码空间**的
判据改成 `!= BSP_OK`（数值同为 0、无行为变化），但那正是"把两个码空间混起来"，已逐一还原。
`cppcheck` 亦抓到 `cls` 声明作用域过宽，已收进失败分支。

**验证**：`@build` 0 错 0 警告（`Code` 213,648、RO 18,860、`ER_IROM1` 232,508 B /
  22.2%、
`ROM 合计` 233,696；**RAM 三项零增量**）；`@test` PASS（692 ms，烧入戳 `Oct 23 01:35:32`）
且逐条读到被改模块的锚点：`SD2506 init: OK (ret=0)` 与 ID/时间/温度/电池四条读回正常、
`ADC init: OK`、`NAND init: OK`、`Map resumed: 14094/97504`、`adc=` 帧计数持续递增（证明
snapshot 三态未被改坏）、`[ERR]`/Fault/FAIL 0 条。主机单测：系统时钟 100/100、dhara NAND
移植层 149/149（两者都因本次改动需补 `Drivers/BSP` include 路径，补后在钩子内实跑 Passed）。
`pre-commit run` 全量 RC=0（20 个实跑钩子 Passed）；`bsp-err` 基线 **19 → 17**（还掉两个
`*_BUSY_TIMEOUT = -2`）、`--prune` 干净；`doc-links --all --sections-strict` 147 篇
  0 问题；
`id-check --strict`、`layer-deps`、`mem-numbers`、`mem-budget`、`ui-golden` 全过；33
  个文件
字节卫生 0 异常（无 CR / 无 U+FFFD / 无行尾空格 / 均有尾换行）。

**口径与数字联动**：新增 `docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md` §10.4（三类码与处置
理由）；`pre-commit使用说明.md` §2.27 与 `AGENTS.md` 基线计数 19 → 17；TPAFE README、
GD5F 测试指南与 Trap 记录均**保留旧名留痕**以便对旧日志；配图桶按 .map 对象级增量重算
（`dhara/FTL` 10,931 → 11,222，+291 全部落在 `nand_ftl.o`；应用代码/UI +36 落在
`app_main.o`；其余散量入"其他"7,557；桶和 = Code+RO 断言通过、文本溢出 0）；
`ram_baseline --update/--write`、`ram_report_20261023.md` 快照、报告 §1.3/§5.1/§5.4
  与
部署文档 §3.3 数字全部同步；报告 §0.4/§9 的 S-5 状态改为 🟡 主体已落地。
This commit is contained in:
Wanderingss
2026-10-23 07:42:02 +08:00
parent 8d3349c587
commit 78248a1cdf
33 changed files with 1183 additions and 345 deletions
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test/board/sd2506_test_task.c
+26 -26
View File
@@ -36,13 +36,13 @@ static void sd2506_phase_basic(void)
DBG_INFO("=== SD2506 Phase 1: basic read/write (public API) ===");
/* TC-RTC-001: init + 读取当前时间 */
int ret = sd2506_init();
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
bsp_err_t ret = sd2506_init();
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
sd2506_time_t r;
ret = sd2506_get_time(&r);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_time() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_time() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
DBG_INFO(" current RTC: %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u wk=%u",
(unsigned int)r.year, (unsigned int)r.month, (unsigned int)r.day,
(unsigned int)r.hour, (unsigned int)r.minute,
@@ -59,11 +59,11 @@ static void sd2506_phase_basic(void)
t.year = 2026; t.month = 8; t.day = 28; t.hour = 12; t.minute = 0; t.second = 0; t.week = 4;
ret = sd2506_set_time(&t);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_set_time() ret=%d (expect 0)", ret);
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_set_time() ret=%d (expect 0)", ret);
ret = sd2506_get_time(&r);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_time() after set ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_time() after set ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
DBG_INFO(" set : %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u",
(unsigned int)t.year, (unsigned int)t.month, (unsigned int)t.day,
(unsigned int)t.hour, (unsigned int)t.minute, (unsigned int)t.second);
@@ -81,11 +81,11 @@ static void sd2506_phase_basic(void)
#endif
/* TC-RTC-003: 走时。写后等 3s，应前进约 3 秒 */
if (ret == SD2506_OK) {
if (ret == BSP_OK) {
osDelay(3000);
sd2506_time_t r2;
int ret2 = sd2506_get_time(&r2);
if (ret2 == SD2506_OK) {
bsp_err_t ret2 = sd2506_get_time(&r2);
if (ret2 == BSP_OK) {
int adv = (r2.second + 60 * (r2.minute + 60 * (r2.hour + 24 * r2.day)))
- (r.second + 60 * (r.minute + 60 * (r.hour + 24 * r.day)));
if (adv < 0) adv += 60 * 60 * 24 * 32;
@@ -128,9 +128,9 @@ static void sd2506_phase_api(void)
/* TC-RTC-011: 内部温度读取 */
int8_t temp = 0;
int ret = sd2506_get_temperature(&temp);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_temperature() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
bsp_err_t ret = sd2506_get_temperature(&temp);
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_temperature() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
DBG_INFO(" temperature: %d C", (int)temp);
SD2506_TEST_CHECK(temp >= -40 && temp <= 85,
"temperature in range [-40,85]: %d", (int)temp);
@@ -139,8 +139,8 @@ static void sd2506_phase_api(void)
/* TC-RTC-012: 电池电压（毫伏） */
uint16_t volt = 0U;
ret = sd2506_get_battery_voltage(&volt);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_battery_voltage() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_battery_voltage() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
DBG_INFO(" battery: %u mV", (unsigned int)volt);
SD2506_TEST_CHECK(volt > 2000U && volt < 5000U,
"battery voltage plausible: %u mV", (unsigned int)volt);
@@ -149,8 +149,8 @@ static void sd2506_phase_api(void)
/* TC-RTC-013: 芯片 8 字节 ID */
uint8_t id[8] = {0};
ret = sd2506_get_id(id);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_get_id() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_id() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
DBG_INFO(" id: %02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X",
id[0], id[1], id[2], id[3], id[4], id[5], id[6], id[7]);
}
@@ -161,10 +161,10 @@ static void sd2506_phase_api(void)
uint8_t wbuf[8] = {0xA1U, 0xB2U, 0xC3U, 0xD4U, 0xE5U, 0xF6U, 0x07U, 0x18U};
uint8_t rbuf[8] = {0};
ret = sd2506_write_sram(0U, wbuf, 8U);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_write_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == SD2506_OK) {
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_write_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
if (ret == BSP_OK) {
ret = sd2506_read_sram(0U, rbuf, 8U);
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_read_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_read_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
int sram_ok = (memcmp(wbuf, rbuf, 8U) == 0);
SD2506_TEST_CHECK(sram_ok, "SRAM write==readback");
}
@@ -179,9 +179,9 @@ static void sd2506_phase_api(void)
sd2506_time_t at;
at.year = 2026; at.month = 8; at.day = 28; at.hour = 12; at.minute = 0; at.second = 30; at.week = 4;
ret = sd2506_set_alarm(&at, (uint8_t)(SD2506_AL_EN_EAS | SD2506_AL_EN_EAMN));
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_set_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_set_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
ret = sd2506_clear_alarm();
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_clear_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_clear_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
}
#else
DBG_INFO("TC-RTC-015 skipped: destructive tests disabled (RTC alarm write)");
@@ -202,12 +202,12 @@ void sd2506_test_run(void)
"ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS in test_config.h to run them)");
#endif
int ret = sd2506_init();
SD2506_TEST_CHECK(ret == SD2506_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
bsp_err_t ret = sd2506_init();
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
/* 信息：读取 CTR1 默认状态（确认 WRTC 初始/可写能力，纯诊断） */
uint8_t c1 = 0x00U;
if (sd2506_read_ctr1(&c1) == SD2506_OK) {
if (sd2506_read_ctr1(&c1) == BSP_OK) {
DBG_INFO(" CTR1=0x%02X (WRTC2=CTR1.2=%u WRTC3=CTR1.7=%u)",
(unsigned int)c1,
(unsigned int)((c1 >> 2) & 1U),
@@ -217,7 +217,7 @@ void sd2506_test_run(void)
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
/* 记录原始时间，测试结束恢复，避免把板子时间留在测试值 */
sd2506_time_t orig;
int have_orig = (sd2506_get_time(&orig) == SD2506_OK);
int have_orig = (sd2506_get_time(&orig) == BSP_OK);
if (!have_orig) {
DBG_INFO(" WARN: cannot read original time; restore step will be skipped");
}