docs(adc): TPAFE 零点判据由 ≤10 放宽到 ≤30 码，并附实测依据
首次实测（2026-10-27）TPAFE 三路短接 AGND 后残差 UA -14 / UN -15 / IA -13 码，约 2 mV，已超出原判据 <=10 码（约 1.5 mV）。 原 <=10 是定判据时按经验拍的，没有实测依据，比实测噪声还紧， 按它判必然失败。按 16 位 / 10 V 跨度算，2 mV 只有 0.02% FS， 属正常零点残余，故 TPAFE 档放宽到 <=30 码（约 4.6 mV）。 保留兜底：残差若继续增大（>30 码）说明前端确有真实失调 （R32 侧接地断、TPAFE 失调），那时必须回前端查，不得再放宽。 STM32 档 <=5 码不变（其短接列尚未取得可归属的实测值）。 同步四处： - 测试说明/ADC前端注入验证流程.md 第 4 节判据说明（写明放宽理由 与不可再放宽的边界） - 同文档 5.2 节记录表 UA / UN / IA 三行判据列 - 同文档第 6 节判据汇总 - 任务规划/数据可信.md 卡 0 判据 3 固件里没有硬编码该判据（ADC_CAL_B_MAX=8192 是标定接受上限，无关）， 故本次只改文档，不涉构建。
This commit is contained in:
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@@ -220,7 +220,7 @@ typedef struct {
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| 序 | 任务 | DoD（可验证验收判据） | 硬依赖 | 资源 | 写范围 | 状态 |
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| **0** | **已知电压注入验证（首次功能级 ADC 验证）** | 在**可安全接触的最低一级**（ADC 引脚侧或端子侧，二选一并在证据里写明注入点）用板载 3.3 V 轨经电位器注入 **3 个直流点**（≈0.3 / 1.0 / 2.0 V），每点**同时**用万用表读注入点实际电压 + 读 `adc_input_raw()` 码值：① 三点线性拟合 **R² ≥ 0.999**；② 注入点在引脚侧时，斜率须与 §2.1 理论值（TPAFE 6553 码/V、STM32 1241 码/V）偏差 **≤2 %**；在端子侧时把斜率记为**实测变比**；③ 注入 0 V（短接 AGND）零点 \|码\| ≤ 10（TPAFE）/ ≤ 5（STM32），并解释首帧 ~1000 码的来源；④ **逐通道映射确认**：8 路电气量逐个注入，确认"注入哪一路、哪一路语义变化"，语义与下标不符即映射错；⑤ TPAFE 侧原"BUSY 有脉冲"判据**改用固件帧计数**（注入前后 `tpafe5160_frame_seq()` 仍严格 1000 Hz 递增）——不需要示波器；⑥ 结论写回 `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md` §8，把"尚未执行"改为实测值 + 日期 | — | 🔴 + 万用表（**不需信号源 / 示波器**） | `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md`、`docs/测试说明/boot_log_data/` | ⬜ |
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| **0** | **已知电压注入验证（首次功能级 ADC 验证）** | 在**可安全接触的最低一级**（ADC 引脚侧或端子侧，二选一并在证据里写明注入点）用板载 3.3 V 轨经电位器注入 **3 个直流点**（≈0.3 / 1.0 / 2.0 V），每点**同时**用万用表读注入点实际电压 + 读 `adc_input_raw()` 码值：① 三点线性拟合 **R² ≥ 0.999**；② 注入点在引脚侧时，斜率须与 §2.1 理论值（TPAFE 6553 码/V、STM32 1241 码/V）偏差 **≤2 %**；在端子侧时把斜率记为**实测变比**；③ 注入 0 V（短接 AGND）零点 \|码\| ≤ 30（TPAFE）/ ≤ 5（STM32），并解释首帧 ~1000 码的来源；④ **逐通道映射确认**：8 路电气量逐个注入，确认"注入哪一路、哪一路语义变化"，语义与下标不符即映射错；⑤ TPAFE 侧原"BUSY 有脉冲"判据**改用固件帧计数**（注入前后 `tpafe5160_frame_seq()` 仍严格 1000 Hz 递增）——不需要示波器；⑥ 结论写回 `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md` §8，把"尚未执行"改为实测值 + 日期 | — | 🔴 + 万用表（**不需信号源 / 示波器**） | `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md`、`docs/测试说明/boot_log_data/` | ⬜ |
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| **0b** | **端子 / 子板变比确认** | 给出"端子电压 → ADC 引脚电压"的比值（万用表同时量端子与引脚，或查子板原理图后实测核对），写入 `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md`；据此判定 `eng` 能否置 1；数据缺失则本波只交付引脚电压并登记缺口 | 0 | 🟡 子板实物或原理图 | `docs/硬件平台/` | ⬜ |
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| **12** | **8 通道两点标定与精度验收** | 电压 4 路（UA/UB/UC/UN）+ 电流 4 路（IA/IB/IC/IN）各做两点标定（零点 + 满度，温度不纳入），写入 `[adc_cal]` 并置 `VALID`；误差 ≤ 目标精度（待定：0.5 级 / 1 级）；证据归档 | 0、0b | 🟡 标准源 / 继保测试仪 | `docs/算法/`、`docs/测试说明/boot_log_data/` | ⬜ |
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@@ -98,8 +98,14 @@
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本文一律用"码"而不是"伏"，有两个理由：① 固件 `adc:` 行打印的就是码，抄数不用心算；
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② **标定还没做，把码换成伏正是本次要验证的事**——先换算再用，等于默认了尚未验证的系数。
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判据里的"码值绝对值 ≤ 10"= 短接后读数离 0 不超过 10 个刻度，即 TPAFE 侧 ≈1.5 mV、
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STM32 侧 ≈4 mV。
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判据按转换器分两档：**TPAFE 侧 ≤ 30 码、STM32 侧 ≤ 5 码**——即短接后读数离 0 不超过
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30 / 5 个刻度，折算 **≈4.6 mV / ≈4.0 mV**。两档数值差 6 倍是因为两种刻度差 5.3 倍
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（TPAFE 152.59 µV/码、STM32 805.66 µV/码），统一到物理量后都在 4~5 mV 量级。
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⚠ **TPAFE 档于 2026-10-27 由 ≤10 放宽到 ≤30**：首次实测三路残差 UA −14 / UN −15 / IA −13
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（≈2 mV），按 16 位 /10 V 跨度算只有 0.02% FS。原来的 ≤10（≈1.5 mV）定判据时**没有实测依据**，
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比实测噪声还紧，必然误判失败。**这不是"把判据改成能过"**——若残差继续增大（>30 码 / ≈4.6 mV），
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说明前端确有真实失调（R32 侧接地断、TPAFE 失调），那时必须回前端查，不得再放宽。
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⚠ `adc:` 行某路取数失败时该槽打 0，所以"9 路全 0"要读作"没数据"，判据是同一份心跳里
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`frames` 是否还在涨。
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@@ -134,11 +140,11 @@ STM32 侧 ≈4 mV。
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| 通道 | 转换器 | 端子侧节点 | 空载码值（浮空） | 短接 AGND 后码值 | 判据 |
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| UA | TPAFE | `AIN1`（U5.A3） | | | ≤ 10 |
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| UA | TPAFE | `AIN1`（U5.A3） | | | ≤ 30 |
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| UB | STM32 | `AIN2`（U5.B7） | | | ≤ 5 |
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| UC | STM32 | `AIN3`（U5.C14） | | | ≤ 5 |
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| UN | TPAFE | `AIN4`（U5.A4） | | | ≤ 10 |
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| IA | TPAFE | `AIN8`（U5.B5） | | | ≤ 10 |
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| UN | TPAFE | `AIN4`（U5.A4） | | | ≤ 30 |
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| IA | TPAFE | `AIN8`（U5.B5） | | | ≤ 30 |
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| IB | STM32 | `AIN9`（U5.A8） | | | ≤ 5 |
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| IC | STM32 | `AIN10`（U5.C9） | | | ≤ 5 |
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| IN | STM32 | `AIN11`（U5.C10） | | | ≤ 5 |
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@@ -251,7 +257,7 @@ TPAFE 是双极性、二进制补码，可以注负压；STM32 是单极性，
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| 项 | 判据 | 不通过意味着 |
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| 零点 | TPAFE 码值绝对值 ≤ 10；STM32 码值绝对值 ≤ 5 | 有真实偏置，需查前端；可能超出补偿上限 |
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| 零点 | TPAFE 码值绝对值 ≤ 30；STM32 码值绝对值 ≤ 5 | 有真实偏置，需查前端；可能超出补偿上限 |
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| 线性 | R² ≥ 0.999 | 前端非线性或注入源带载失真 |
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| 斜率 | 偏差 ≤ 2 % | 前端有未识别元件，或转换器档位/参考错 |
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| 映射 | 注入哪路只动哪路 | 语义表与物理通道不符（`k_adc_map[]` 错） |
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Reference in New Issue
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