文档体系重组与 D-7 一致性门禁落地，清理芯片手册孤儿图片

- D-6 目录规范化：docs 根目录散落文档归入 UI设计/子系统设计/架构设计/审查记录/
  环境与部署/网络 等子目录，去掉目录名空格，重命名 嵌入式C语言代码规范_V1.0.md
- D-7 三档一致性门禁：新增 scripts/check_doc_links.py（链接存在性）、
  scripts/gen_task_table.py（FreeRTOS 任务表数值）、scripts/check_mem_numbers.py
  （内存/Flash 体积），均支持 --check/--write/--diff，pre-commit 钩子同步注册
- D-5 文档索引：新建 docs/README.md，新建 docs/文档规范.md 约束目录命名与链接写法
- D-1 芯片手册瘦身：删除 1069 张无引用孤儿图片（77.06 MB），
  docs/芯片手册 120 MB → 41 MB，已引用图片零断链
- 同步 C 源码注释中的文档路径引用（D-6 重组后），构建 0 错误 0 警告

test/ch395f_test.h

@@ -41,7 +41,7 @@ extern "C" {
 /*
  * 阶段使能开关（取消注释即启用对应阶段）
  *
- * 构建模式互斥（详见 docs/CH395F_Test_Guide.md「构建模式与执行顺序」）：
+ * 构建模式互斥（详见 docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md「构建模式与执行顺序」）：
  *   硬件层模式（阶段 1~5）：netTask 入口自挂起（创建但不运行），testTask 独占 CH395F
  *   NET 层模式 （阶段 6~11）：完整网络栈，netTask 轮询 + testTask 监听循环
  *

test/gd5f_test.h

@@ -2,7 +2,7 @@
  * 模块名称：GD5F2GQ5UE Driver Test Suite
  * 模块功能：GD5F2GQ5UE SPI NAND Flash 驱动测试入口，按阶段组织测试用例，
  *          覆盖 gd5f2gq5ue.c 全部公开/私有函数，并延伸到 FTL（nand_ftl）与
- *          FatFS diskio。详见 docs/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md。
+ *          FatFS diskio。详见 docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md。
  * 适用平台：STM32F4 系列（GD5F2GQ5UE SPI NAND）
  * 作者：王建锋
  * 创建日期：2026-08-26

test/sd2506_test_task.c

@@ -6,7 +6,7 @@
  *           "0x0FH"（H 后缀）。KEIL/ARMCC 不识别 H 整数后缀，将其编译为 0，
  *           导致 SD2506_REG_CTR1 实际等于 0（秒寄存器），sd2506_write_enable()
  *           把 WRTC 写到了错误寄存器，写保护永不解除。修正为 "0x0FU" 后恢复。
- *           详见 docs/SD2506_Trap_Records.md。
+ *           详见 docs/问题记录/SD2506_Trap_Records.md。
  *
  * 当前测试：Phase 1 基本读写（init / 读 / 写 / 回读一致 / 走时），
  *           结束后自动恢复板子原始时间。
@@ -51,7 +51,7 @@ static void sd2506_phase_basic(void)
 
     /* TC-RTC-002: 写固定时间，立即回读比对（破坏性：改设备 RTC 时间，套件结束会复原）。
      * 若 FAIL -> 先查 sd2506.h 寄存器宏后缀是否为 H（曾因 0x0FH 被 KEIL 编译为 0
-     *            导致 SD2506_REG_CTR1 指向秒寄存器、WRTC 写错地址）。详见 docs/SD2506_Trap_Records.md。 */
+     *            导致 SD2506_REG_CTR1 指向秒寄存器、WRTC 写错地址）。详见 docs/问题记录/SD2506_Trap_Records.md。 */
 #ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
     {
         sd2506_time_t t;