From b5dd94b83470d8b9459eda154b99531c95fbaf14 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: Wanderingss <1624155937@qq.com> Date: Mon, 21 Sep 2026 03:32:26 +0800 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?=E5=AD=98=E5=82=A8=E5=A5=97=E4=BB=B6=E6=96=B0?= =?UTF-8?q?=E5=A2=9E=E5=85=A8=E7=89=87=E6=93=A6=E9=99=A4=E7=BB=B4=E6=8A=A4?= =?UTF-8?q?=E8=B7=AF=E5=BE=84=E6=81=A2=E5=A4=8D=E5=AE=B9=E9=87=8F=EF=BC=8C?= =?UTF-8?q?=E6=96=87=E6=A1=A3=E8=AE=A2=E6=AD=A3=E5=AE=B9=E9=87=8F=E6=BB=A1?= =?UTF-8?q?=E5=80=BC=E4=B8=8E=E6=81=A2=E5=A4=8D=E6=96=B9=E6=B3=95?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit --- docs/内存管理/内存内容分配策略.md | 2 +- docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md | 27 ++++++++----- test/storage_test.h | 10 +++++ test/storage_test_task.c | 56 +++++++++++++++++++++++++- 4 files changed, 81 insertions(+), 14 deletions(-) diff --git a/docs/内存管理/内存内容分配策略.md b/docs/内存管理/内存内容分配策略.md index 0402fe8e..4c09e9f8 100644 --- a/docs/内存管理/内存内容分配策略.md +++ b/docs/内存管理/内存内容分配策略.md @@ -128,7 +128,7 @@ LVGL 集合明细（均在 SRAM）：LVGL 池 40,960B（`lv_mem_core_builtin.o` 3. 存储套件（`test_config.h` → `TEST_SUITE_STORAGE`）：只读模式实测 **3/3 PASSED**（破坏性关，卷内容不变）；开启 `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS` 后为全量集成用例（2026-09-20 实测 **20/20 PASSED**，含 TC-STO-01/02/03/05/06） 4. GD5F 套件（`TEST_SUITE_GD5F`）：只读模式实测 **16/16 PASSED**（含只读的守卫负路径 TC-GD5F-704）；开启 `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS` 后 **68/68 PASSED**，并确认日志出现 2 条守卫负路径 `[ERR]`（TC-GD5F-704/705）——破坏性模式运行须放宽 Forbidden（`--forbidden "FAIL;HardFault"`） 5. 恢复跑（`ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS`）：期望 **3/3 PASSED** -6. **破坏性用例默认关闭**（见 `test_config.h` 的 `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS`）：写/擦 NAND、格式化、坏块注入与 FatFS 写类用例只在首次上电/产线首启或明确需要时开启——2026-09-21 实测一轮破坏性 GD5F 运行即消耗一个块（容量 95248 → 95200，TC-STO-04 恢复不回来）；日常回归请保持只读模式 +6. **破坏性用例默认关闭**（见 `test_config.h` 的 `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS`）：写/擦 NAND、格式化、坏块注入与 FatFS 写类用例只在首次上电/产线首启或明确需要时开启——2026-09-21 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量 95248 → 95200，且该计数持久化在 dhara journal checkpoint 头里，`nand_ftl_format` 清不掉）；日常回归请保持只读模式。容量满值 = **96064 pages（187 MB）**，被扣掉的容量可用 `ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS` + `STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE`（全片擦除 + 重建 BBT）恢复（实测 95200 → 96064 ✓） 通过全部关卡后：更新 §6 台账、`AGENTS.md` 栈表、`.sct` 头注释，并把本次裁决补入 §5。 diff --git a/docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md b/docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md index 9396df3d..06929f61 100644 --- a/docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md +++ b/docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md @@ -60,7 +60,8 @@ ECC 状态（`ECCS1:ECCS0`）：`00`=无错；`01/10/11`=纠正 1/2/3 bit；`10` > 控制所有**会改变设备持久状态**的用例——写/擦 NAND、`nand_ftl_format`、FatFS 建文件写文件、 > 向 BBT 持久化坏块标记（永久减少可用容量）。关闭时为**只读模式**，可随时在在用设备上跑； > 打开后才编译并运行 PHASE3~9，以及 PHASE2 的 TC-206/207、PHASE10 的 TC-1003/1004。 -> 依据：2026-09-21 实测一轮破坏性 GD5F 运行即消耗一个块（容量 95248 → 95200，TC-STO-04 恢复不回来）， +> 依据：2026-09-21 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量 95248 → 95200； +> dhara 把该计数持久化在 journal checkpoint 头里，普通恢复模式清不掉——见下文容量恢复说明）， > 故破坏性用例只在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时开启。 `test/test_config.h` 配置示例（三选一，互斥，多选触发 `#error`）： @@ -510,16 +511,20 @@ ECC 状态（`ECCS1:ECCS0`）：`00`=无错；`01/10/11`=纠正 1/2/3 bit；`10` | **覆盖原则** | DMA 可达性守卫（写方向）；堆缓冲禁入 DMA 的运行时强制（内存分配策略 R3） | > ⚠ **卷破坏警告（仅 `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS` 打开时）**：阶段 8 会调用 `nand_ftl_format()` -> 清空 dhara map，阶段 9 会写入文件—— -> 整轮 GD5F 套件（含 Phase 8/9）运行后卷数据即失效，且大写入可能使 dhara 把若干块记为 -> 运行期坏块（2026-09-21 实测：一次整轮运行容量 95248 → 95200，日志见 -> `[ERR][NAND_FTL] program verify: data mismatch, blk 305`，该块由 dhara 自行隔离，测试仍 68/68 通过）。 -> 需要恢复**卷/BBT 干净态**时，启用 `ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS` 跑一次 STORAGE 套件的 -> TC-STO-04（重建 BBT + 重新格式化）。 -> **注意：TC-STO-04 不恢复容量**——2026-09-21 实测恢复后容量仍为 95200，且断电重扫、 -> BBT 重建、dhara 重新格式化后都保持 95200（dhara 每次扫描都会再次排除该块）。 -> 即被排除的块是**真实运行期坏块**，不应擦除复用（NAND 惯例：程序校验失败的块永久弃用）； -> 当前容量基线以 **95200 pages（185 MB）** 为准。 +> 清空 dhara map，阶段 9 会写入文件——整轮运行后卷数据即失效；大写入还可能使 dhara 多记一个 +> 坏块（2026-09-21 实测：一次整轮运行容量 95248 → 95200，日志见 +> `[ERR][NAND_FTL] program verify: data mismatch, blk 305`，该块被 dhara 隔离，测试仍 68/68 通过）。 +> +> **容量记账与恢复（2026-09-21 读码 + 台架实证）**： +> - 健康满容量 = **96064 pages（187 MB）**（`No valid map found, creating fresh` 分支下的满值）。 +> - 容量随 dhara 计到的坏块数递减，且该计数**持久化在 journal checkpoint 头里** +> （`journal.c` `hdr_set_bb_current/bb_last`）；`dhara_journal_clear()` 只做 +> `bb_last = bb_current`（**不归零**）——所以 `nand_ftl_format()`（TC-STO-04 普通恢复） +> **清不掉被扣掉的容量**，断电重扫也一样。 +> - 恢复满容量：启用 `ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS` **并叠加** `STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE` +> 跑一次 STORAGE 套件（擦净 dhara 可见区 2044 块 + 重建 BBT），随后断电重启—— +> `dhara_map_resume` 失败 → 走 `dhara_map_clear` 全新初始化（bb_last = bb_current = 0）→ 容量回满。 +> 实测 2026-09-21：95200 → **96064** ✓（代价：卷内容全失，启动时 FatFs 自动重建）。 ## 9. 阶段 8：FTL 层（nand_ftl） diff --git a/test/storage_test.h b/test/storage_test.h index 756d6e00..64985994 100644 --- a/test/storage_test.h +++ b/test/storage_test.h @@ -50,6 +50,16 @@ void storage_test_run(void); * 恢复完成后建议重新注释并编译正常构建。 */ //#define ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS /* 台架已跑过一次恢复（2026-09-20 BBT 回出厂态），保持注释 */ +/* 恢复模式的扩展（默认关闭，需与上面 ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS 同时打开）： + * 把 dhara 可见区**整片擦净**（连 journal checkpoint 一起），用于**把被扣掉的容量恢复回来**。 + * 原理（2026-09-21 读码 + 台架实证）：dhara 把坏块计数持久化在 checkpoint 头里 + * （journal.c `hdr_set_bb_current/bb_last`），而 `dhara_journal_clear()` 只是 + * `bb_last = bb_current`（**不归零**）——所以 `nand_ftl_format()` 恢复不了容量（95200 卡住）； + * 只有让下次启动 `dhara_map_resume` 失败、走 `dhara_map_clear` 的**全新初始化**分支 + * （此时 bb_last = bb_current = 0）才能回满。2026-09-21 台架实测：95200 → **96064**（健康满值 ✓）。 + * 代价：卷内容全失（启动时 FatFs 自动重建）、约 2044 次块擦除（数十秒）。 */ +//#define STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE + #ifdef __cplusplus } #endif diff --git a/test/storage_test_task.c b/test/storage_test_task.c index 131ec9e0..dccef937 100644 --- a/test/storage_test_task.c +++ b/test/storage_test_task.c @@ -543,19 +543,66 @@ void storage_test_run(void) } #ifdef ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS -/* TC-STO-04: 重建 BBT + 重新格式化（恢复 TC-STO-03 注入的坏块） + +#ifdef STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE +/* + * 函数功能：擦净 dhara 可见区全部块（容量恢复用） + * 入口参数：无 + * 返回值：无 + * 限定条件：SPI/驱动已初始化；调用期间无其它存储访问（测试构建下单写者） + * 函数说明：逐块擦除 [0, gd5f_get_usable_blocks())，跳过 BBT 记录的坏块， + * 保留块池（BBT 存储区）不动。擦净后 journal checkpoint 不复存在， + * 下次启动 dhara_map_resume 失败 → dhara_map_clear 全新初始化 + * （bb_last = bb_current = 0）→ 容量回满。 + * 注意：擦净后**不能**再调 nand_ftl_format()（会把内存中仍带旧坏块 + * 计数的 journal 状态重新落盘，容量又被扣掉）。 + */ +static void storage_test_wipe_visible(void) +{ + uint32_t usable = gd5f_get_usable_blocks(); + uint32_t done = 0; + uint32_t skipped = 0; + uint32_t b; + + for (b = 0; b < usable; b++) { + if (gd5f2gq5ue_is_block_bad(b) != 0) { + skipped++; + continue; + } + if (gd5f_block_erase(b) == GD5F_OK) { + done++; + } else { + DBG_ERROR(" block %lu erase failed", (unsigned long)b); + } + if ((b % 256U) == 0U) { + DBG_INFO(" wipe progress: %lu/%lu", (unsigned long)b, (unsigned long)usable); + } + } + + DBG_INFO(" wiped %lu blocks (%lu skipped as bad, %lu visible)", + (unsigned long)done, (unsigned long)skipped, (unsigned long)usable); + STORAGE_TEST_CHECK(done > 0U, "TC-STO-04 full wipe (%lu blocks erased)", + (unsigned long)done); +} +#endif /* STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE */ + +/* TC-STO-04: 维护模式（恢复 = 重建 BBT + 重新格式化；叠加全片擦除 = 容量恢复） * 仅在启用 ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS 时编译运行；运行一次即可把设备 * 恢复到干净出厂态（清除运行时注入坏块并清空 dhara map）。 */ static void storage_test_recover(void) { - DBG_INFO("=== Storage Test: TC-STO-04 BBT rebuild + format (recovery) ==="); + DBG_INFO("=== Storage Test: TC-STO-04 maintenance (recovery / full wipe) ==="); int r = gd5f2gq5ue_bbt_rebuild(); STORAGE_TEST_CHECK(r == GD5F_OK, "TC-STO-04 bbt rebuild"); +#ifdef STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE + storage_test_wipe_visible(); +#else nand_ftl_format(); STORAGE_TEST_CHECK(1, "TC-STO-04 nand_ftl_format done"); +#endif uint8_t fb[GD5F_TOTAL_BLOCKS / 8]; uint32_t ver = 0; @@ -565,6 +612,11 @@ static void storage_test_recover(void) STORAGE_TEST_CHECK(0, "TC-STO-04 dump_flash failed"); } +#ifdef STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE + DBG_INFO("TC-STO-04 full wipe complete; power-cycle to rebuild fresh " + "(capacity expected back to full)"); +#else DBG_INFO("TC-STO-04 recovery complete; recommend power-cycle to re-init cleanly"); +#endif } #endif