存储测试通过

2026-08-27 18:22:44 +08:00
parent 88160a5134
commit cf33171c8f
19 changed files with 2952 additions and 336 deletions
--- a/test/gd5f_test.h
+++ b/test/gd5f_test.h
@@ -0,0 +1,89 @@
+/*
+ * 模块名称：GD5F2GQ5UE Driver Test Suite
+ * 模块功能：GD5F2GQ5UE SPI NAND Flash 驱动测试入口，按阶段组织测试用例，
+ *          覆盖 gd5f2gq5ue.c 全部公开/私有函数，并延伸到 FTL（nand_ftl）与
+ *          FatFS diskio。详见 docs/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md。
+ * 适用平台：STM32F4 系列（GD5F2GQ5UE SPI NAND）
+ * 作者：王建锋
+ * 创建日期：2026-08-26
+ *
+ * === 测试阶段一览（与指南 TC 一一对应）===
+ * Phase    | 描述
+ * ---------|-----------------------------------------------
+ * Phase 1  | 初始化与 ID 识别（init / read_id / reset）
+ * Phase 2  | 坏块管理（BBT：scan / is_block_bad / mark+clear / rescan）
+ * Phase 3  | 页读写（跨页 / 非对齐 / 多页 / 单字节）
+ * Phase 4  | 块擦除（单块 / 多块 / 非对齐负向 / 擦写读闭环）
+ * Phase 5  | ECC 验证（开启下写读 / check_ecc）
+ * Phase 6  | SPI 原语（page_read / program_load+exec / block_erase / write_enable / wait_busy）
+ * Phase 7  | DMA 边界（阈值 32/33/整页）
+ * Phase 8  | FTL 层（nand_ftl_init / nand_ftl_format）
+ * Phase 9  | FatFS diskio（可选）
+ * Phase 10 | 边界条件（offset 越界 / size=0 / 未擦除写入 / 写保护解除）
+ */
+
+#ifndef __GD5F_TEST_H
+#define __GD5F_TEST_H
+
+#ifdef __cplusplus
+extern "C" {
+#endif
+
+#include <stdint.h>
+#include "gd5f2gq5ue.h"
+
+/* ======================== 阶段使能开关 ======================== */
+/* 取消注释对应阶段即可启用；总开关 ENABLE_GD5F_TESTS 控制是否编译并运行测试。
+ * 启用后，defaultTask 中的常规 FTL/FatFS 存储测试会被跳过（独占 NAND）。
+ * 注意：测试会擦除/写入若干块，且 Phase 8/9 会格式化 FTL/FatFS，仅用于测试构建。 */
+//#define ENABLE_GD5F_TESTS          /* 总开关（由 test_config.h 的 TEST_SUITE_GD5F 自动开启） */
+
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS
+//#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS
+
+/* ======================== 测试统计与断言 ======================== */
+
+typedef struct {
+    uint16_t total;
+    uint16_t passed;
+    uint16_t failed;
+} gd5f_test_stats_t;
+
+extern gd5f_test_stats_t g_gd5f_test_stats;
+
+#define GD5F_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) do { \
+    g_gd5f_test_stats.total++; \
+    if (cond) { \
+        g_gd5f_test_stats.passed++; \
+        DBG_INFO("[PASS] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
+    } else { \
+        g_gd5f_test_stats.failed++; \
+        DBG_ERROR("[FAIL] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
+    } \
+} while (0)
+
+#define GD5F_TEST_REPORT(name) do { \
+    DBG_INFO("=== %s: %d/%d PASSED (failed=%d) ===", \
+             name, g_gd5f_test_stats.passed, g_gd5f_test_stats.total, \
+             g_gd5f_test_stats.failed); \
+} while (0)
+
+#if defined(ENABLE_GD5F_TESTS)
+void gd5f_test_run(void);
+#else
+#define gd5f_test_run()  ((void)0)
+#endif
+
+#ifdef __cplusplus
+}
+#endif
+
+#endif /* __GD5F_TEST_H */