docs(design): 运行/自检记录与 ADC 节拍两篇改为现状设计并去掉档名"说明"

两篇规划期文档改成对当前系统的描述，档名统一去掉"设计说明"的"说明"。

运行与自检记录：
- 旧档重写为现状版（10 节：概览 / 记录布局 / 写入路径 / 读取与呈现 /
  事件分类 / 控制台日志 / 双端差异 / 内存 / 异常恢复 / 自测要点），
  删掉需求表、调研摘要、模块清单动作列、实施步骤与开放问题。
- 按代码纠正：七类记录齐备（原文只写了两类）、自检描述串换成实际
  落盘的 28 条、待机阈值以 ui_tokens.h 为准、记录页已走 ui_w_records
  共享组件、容量满只删该文件而非整卷清空。
- 待机屏移出本篇：它不属于日志，归 UI 侧；内容页架构补"待机屏
  （覆盖层）"一节，产品需求 FR-LOG-3 拆成单纯的上电/重启分类，
  待机显示归口已有的 FR-UI-3。

ADC 采样节拍：
- §4.5 从 45 行压到 24 行，只留规则 / 违反的代价 / 为什么 / 兜底与
  档案指针；九路置换实测表、A/B 对照、探针计数等取证归
  ADC_Trap_Records.md 的 TRAP-ADC-01（那里已有完整档案）。
- adc1_gap 字段去掉"2026-10-21 起、此前固件为次数"的修订记录式括号。
- app_main.c 的注释改为指向 TRAP-ADC-01 取证、§4.5 设计口径。

引用同步：两个旧档名全仓替换（含代码注释、角色档、归档 id 表），
旧名残留 0；对 ADC 篇的 § 引用逐条复核落在真实章节上。

验证：48 个提交期钩子全通过，check_doc_links --sections-strict 通过。

test/host/sys_log_mcu/run_unit_test.py

@@ -44,7 +44,7 @@ r"""运行/自检记录落盘后端（sys_log_mcu）的主机侧纯逻辑单元
 
 退出码：0=PASS / 1=测试失败 / 2=环境错误（找不到编译器 / 编译失败 / 无汇总行）。
 
-设计依据：docs/子系统设计/运行与自检记录设计说明.md §4.4/§4.5/§5.3、
+设计依据：docs/子系统设计/运行与自检记录设计.md §3.2/§4.1/§5.1、
 docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md §10.1 第 10/11 条、
 docs/测试说明/单元测试/主机单测覆盖率口径.md §9 P2 第 2 项
 创建日期：2026-10-24