/* * 模块名称:ADC 采样有效性校验(L1 采集与预处理,规划项 L1-6) * 模块功能:对两片转换器的"节拍是否还在喂数据"做**判定层**(观测计数由 * `adc_input` / `tpafe5160` 驱动提供,本模块只做判定与告警位): * ① 静默(stall):帧序号连续 >= ADC_HEALTH_STALL_MS 无前进; * ② 丢帧(gap):帧序号一次前进 >1(消费者超拍,中间帧被覆盖); * ③ 单调性破坏:帧序号倒退(计数器被改写 / 驱动 bug,锁存); * ④ 错误计数增量:FRSTDATA 跳变 / HAL ADC·DMA 错误 / STM32 停摆计数。 * ⚠ 本层**纯逻辑**:不碰寄存器、不取数、不打日志——输入是调用方 * 采集的计数快照,输出是故障位;日志与自检上报由消费者 * (`App/task/adc_task.c`)按位执行 → 主机侧可单测(L0.5,A-4)。 * 适用平台:STM32F407ZGTx + TPAFE5160 * 作者:王建锋 * 创建日期:2026-10-11 * 修改记录: * v1.0 2026-10-11 王建锋 创建:L1-6 采样有效性校验(静默/丢帧/单调性/错误增量) */ #ifndef ADC_HEALTH_H #define ADC_HEALTH_H #include #ifdef __cplusplus extern "C" { #endif /* 静默判定门限(ms):帧序号连续无前进达到该时长即判静默。 * 名义节拍 1 kHz → 正常每拍 +1;100 拍无前进不可能是抖动,只可能是 * 节拍源/转换器/EXTI 真停(消费者超拍只会造成 gap=d>1,不会 d=0)。 */ #define ADC_HEALTH_STALL_MS 100U /* 电平故障位(adc_health_flags(),当前活跃;stall 可自愈清除,backward 锁存) * ——供后续 L5-4「自检失败闭锁」直接消费 */ #define ADC_HF_TPAFE_STALL (1uL << 0) /* TPAFE 帧序号静默 */ #define ADC_HF_STM32_STALL (1uL << 1) /* STM32 DMA 完成计数静默 */ #define ADC_HF_SEQ_BACKWARD (1uL << 2) /* 帧序号倒退(锁存,不自愈) */ /* 锁存故障位(adc_health_sticky(),出现过即置位、直到 init 才清; * 与电平位共用高位编号,gap 类"常态性超拍"不入锁存) */ #define ADC_HF_FRSTDATA (1uL << 3) /* FRSTDATA 跳变计数有增量(锁存) */ #define ADC_HF_STM32_ERR (1uL << 4) /* STM32 停摆计数有增量(锁存) */ #define ADC_HF_HW_ERR (1uL << 5) /* HAL ADC/DMA 错误回调有增量(锁存) */ /* 边沿事件位(adc_health_check() 出参 events,仅本次调用有效)。 * ⚠ FRSTDATA/STM32_ERR/HW_ERR 三个事件位与同名锁存位**编号一致**—— * 消费者可直接用 events 掩码对 sticky/logged 位图做"每类留痕一次"的编排 */ #define ADC_HE_TPAFE_GAP (1uL << 6) /* 本次 TPAFE 序号前进 >1 */ #define ADC_HE_STM32_GAP (1uL << 7) /* 本次 STM32 gap 计数有增量 */ #define ADC_HE_STM32_ERR (1uL << 4) /* 本次 STM32 停摆计数有增量 */ #define ADC_HE_FRSTDATA (1uL << 3) /* 本次 FRSTDATA 计数有增量 */ #define ADC_HE_HW_ERR (1uL << 5) /* 本次 HAL 错误计数有增量 */ /* 计数快照(由调用方采集,本模块不触碰任何驱动/外设) */ typedef struct { uint32_t tpafe_seq; /* tpafe5160_frame_seq() */ uint32_t tpafe_frst_err; /* tpafe5160_frstdata_err()(驱动为 uint16,此处放宽) */ uint32_t stm32_seq; /* adc_input_stm32_seq() */ uint32_t stm32_errs; /* adc_input_stm32_errs() */ uint32_t stm32_gaps; /* adc_input_stm32_gaps() */ uint32_t stm32_hw_errs; /* adc_input_stm32_hw_errs() */ uint32_t now_ms; /* osKernelGetTickCount()(tick 回绕由差值法吸收) */ } adc_health_in_t; /* 判定结果快照 */ typedef struct { uint32_t flags; /* 电平故障位 ADC_HF_TPAFE/STM32_STALL/SEQ_BACKWARD */ uint32_t events; /* 本次边沿事件位 ADC_HE_xxx */ uint32_t sticky; /* 锁存故障位(含电平位的历史并集) */ uint32_t tpafe_gaps; /* TPAFE 累计丢帧点数(序号前进 >1 的超出部分之和) */ uint32_t tpafe_stall_ms; /* TPAFE 当前静默时长(0=正常) */ } adc_health_status_t; /* * 函数功能:采样有效性校验初始化(幂等,内核启动前可调) * 入口参数:无 * 返 回 值:无 * 限定条件:无 * 函数说明:清全部状态;首次 adc_health_check() 只建基线、不判定。 */ void adc_health_init(void); /* * 函数功能:按计数快照做一次有效性判定(每拍调用,开销为常数次整数运算) * 入口参数:in - 计数快照(NULL 则本次跳过,out 不动) * out - 判定结果(NULL 则仅更新内部状态) * 返 回 值:无 * 限定条件:仅任务上下文(与 adc_input_poll() 同节奏调用) * 函数说明:首次调用建立基线(不产生事件/故障)。序号差值按 * `(int32_t)(now - prev)` 口径计算,tick/计数回绕均安全。 */ void adc_health_check(const adc_health_in_t *in, adc_health_status_t *out); /* * 函数功能:读当前电平故障位 * 入口参数:无 * 返 回 值:ADC_HF_TPAFE_STALL / ADC_HF_STM32_STALL / ADC_HF_SEQ_BACKWARD 组合 * 限定条件:无 * 函数说明:供 L5-4 闭锁判定与 UI;与 check() 出参 flags 同源。 */ uint32_t adc_health_flags(void); /* * 函数功能:读锁存故障位(出现过即置位,直到 init 才清) * 入口参数:无 * 返 回 值:电平位 + ADC_HF_FRSTDATA/STM32_ERR/HW_ERR 的并集 * 限定条件:无 * 函数说明:stall 自愈后 sticky 仍保留该次故障痕迹("曾经停摆过"必须留痕)。 */ uint32_t adc_health_sticky(void); /* * 函数功能:读 TPAFE 累计丢帧点数 * 入口参数:无 * 返 回 值:序号前进 >1 的超出部分累计(与 STM32 侧 adc_input_stm32_gaps() 对称) * 限定条件:无 * 函数说明:消费者超拍(单拍耗时 > 1 ms)所致;非零本身不是闭锁条件, * 但持续增长说明相量窗出现时间空洞,须排查耗时。 */ uint32_t adc_health_tpafe_gaps(void); #ifdef __cplusplus } #endif #endif /* ADC_HEALTH_H */