/*
 * 模块名称：Storage Test Suite
 * 模块功能：FTL + FatFS 存储测试的声明与断言宏。实现见 storage_test_task.c，
 *           统一由 testTask 调度；正常产品构建下由 defaultTask 调用，
 *           行为与原 defaultTask 内联逻辑一致。
 * 适用平台：STM32F4 系列
 * 作者：王建锋
 * 创建日期：2026-08-26
 */

#ifndef STORAGE_TEST_H
#define STORAGE_TEST_H

#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif

#include <stdint.h>
#include "test_common.h"

typedef test_stats_t storage_test_stats_t;

extern storage_test_stats_t g_storage_stats;

#define STORAGE_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) \
    TEST_CHECK_IMPL(g_storage_stats, cond, fmt, ##__VA_ARGS__)

#define STORAGE_TEST_REPORT(name) TEST_REPORT_IMPL(g_storage_stats, name)

/* 存储测试入口：FTL + FatFS 文件系统与性能测试 */
void storage_test_run(void);

/* 存储套件恢复测试（默认关闭）：取消注释并编译 STORAGE 套件运行一次，
 * 即可重建 BBT（清除 TC-STO-03 等注入的坏块）并重新格式化，恢复设备干净态。
 * 恢复完成后建议重新注释并编译正常构建。 */
//#define ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS  /* 台架已跑过一次恢复（2026-09-20 BBT 回出厂态），保持注释 */

/* 恢复模式的扩展（默认关闭，需与上面 ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS 同时打开）：
 * 把 dhara 可见区**整片擦净**（连 journal checkpoint 一起），用于**把被扣掉的容量恢复回来**。
 * 原理（2026-09-21 读码 + 台架实证）：dhara 把坏块计数持久化在 checkpoint 头里
 * （journal.c `hdr_set_bb_current/bb_last`），而 `dhara_journal_clear()` 只是
 * `bb_last = bb_current`（**不归零**）——所以 `nand_ftl_format()` 恢复不了容量（95200 卡住）；
 * 只有让下次启动 `dhara_map_resume` 失败、走 `dhara_map_clear` 的**全新初始化**分支
 * （此时 bb_last = bb_current = 0）才能回满。2026-09-21 台架实测：95200 → **96064**（健康满值 ✓）。
 * 代价：卷内容全失（启动时 FatFs 自动重建）、约 2044 次块擦除（数十秒）。 */
//#define STORAGE_RECOVERY_FULL_WIPE

#ifdef __cplusplus
}
#endif

#endif /* STORAGE_TEST_H */