# test/board/ — 板端测试套件

> ⚠️ **编入固件**的测试代码（由 testTask 执行）。这些 `.c` 已注册到 Keil 工程
> `MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx`，占用 MCU 的 RAM/Flash。

## 文件一览

| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
| `test_config.c/h` | **测试任务配置**：`TEST_SUITE_*` 套件选择开关（互斥）+ `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS` |
| `ch395f_test_task.c/h` + `ch395f_test.h` | CH395F 以太网（硬件层 Phase 1~5 / NET 层 Phase 6~11） |
| `gd5f_test_task.c/h` + `gd5f_test.h` | GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
| `sd2506_test_task.c/h` + `sd2506_test.h` | SD2506 RTC |
| `storage_test_task.c/h` + `storage_test.h` | 存储性能 |
| `net_test_task.c/h` | 网络层测试 |
| `net_latency_test.c/h` | 链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |

## ⚠️ 构建约束（`AGENTS.md` 详述）

- **套件互斥**：`test_config.h` 的 `TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC` 一次只能启用一个
  （违反则 `#error`）；**全部注释 = 产品构建**
- **破坏性用例默认关闭**：`ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS`（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、
  坏块注入。关闭时为**只读模式**（横幅 `mode: READ-ONLY`），可随时在在用设备上跑
- ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara **多记一个坏块**（容量下降且需全片擦除恢复）——
  只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
- **总线独占**：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F

## 添加新测试套件

1. 在 `test_config.h` 加开关（并入互斥 `#error` 检查）
2. 新建 `<模块>_test_task.c/h`
3. **注册进 Keil 工程**（`<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>`）
4. 跑回归：`@test`（`test/host/run_boot_test.py`）

## 相关文档

- 测试指南：`docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md`、`GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md`、`SD2506_Test_Guide.md`、`FTP_Test_Guide.md`
- 套件配置：`AGENTS.md`「测试与验证」章
- 容量恢复：`docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md`