#ifndef SD2506_TEST_H
#define SD2506_TEST_H

#include <stdint.h>
#include "test_common.h"

#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif

/* ============ Phase 使能开关（取消注释即启用，默认全开） ============ */
#define ENABLE_RTC_BASIC_TESTS        /* Phase 1: 基本读写 / 走时 */
#define ENABLE_RTC_API_TESTS          /* Phase 2: 全功能 API 覆盖（BCD互转/温度/电压/ID/SRAM/报警） */

/* ============ 测试统计（本套件独立，防跨套件串数；内核见 test_common.h） ============ */
typedef test_stats_t sd2506_test_stats_t;

extern sd2506_test_stats_t g_sd2506_test_stats;

#define SD2506_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) \
    TEST_CHECK_IMPL(g_sd2506_test_stats, cond, fmt, ##__VA_ARGS__)

#define SD2506_TEST_REPORT(name) TEST_REPORT_IMPL(g_sd2506_test_stats, name)

/* 测试入口：由 start_test_task 经 TEST_SUITE_RTC 调度，顺序执行 Phase 1~3 */
void sd2506_test_run(void);

#ifdef __cplusplus
}
#endif

#endif /* SD2506_TEST_H */