/*
 * 模块名称：统一测试套件选择
 * 模块功能：集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
 *           testTask（start_test_task）调度，defaultTask 在测试
 *           构建下空闲，正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
 * 适用平台：STM32F4 系列
 * 作者：王建锋
 * 创建日期：2026-08-26
 *
 * 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*（或都不启用 = 正常产品构建）：
 *   TEST_SUITE_CH395F  : CH395F 测试（沿用 ch395f_test.h 阶段宏，HW 1~5 / NET 6~11）
 *   TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试（从 defaultTask 迁入）
 *   TEST_SUITE_GD5F    : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
 */

#ifndef TEST_CONFIG_H
#define TEST_CONFIG_H

#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif

#include <stdint.h>

/* === 选择当前构建的测试套件（三选一，或都注释 = 正常产品构建）===
 * ⚠️ 默认必须是**产品构建**（全部注释）——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
 * 未显式放行的测试构建（`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`）。
 * 跑套件回归时取消注释所需套件；跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
 * （自动改宏 + 结束后无条件还原）。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
//#define TEST_SUITE_CH395F
//#define TEST_SUITE_STORAGE
//#define TEST_SUITE_GD5F
//#define TEST_SUITE_RTC

/* === 破坏性测试总开关（默认关闭）===
 * 破坏性用例会改变设备的**持久状态**，跑一次即有代价（2026-09-21 实测：GD5F 整轮
 * 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块，容量 95248 → 95200，且 TC-STO-04 恢复不回来）：
 *   - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块（永久减少可用容量）
 *   - 写、擦 NAND 块（覆盖卷数据）；格式化卷（nand_ftl_format / f_mkfs）
 *   - FatFS 建文件、写文件、性能压测
 * 默认关闭：套件只跑**只读与参数校验**类用例，可随时在在用设备上执行。
 * 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开；打开跑完建议做一次恢复。 */
//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS

#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
#error "测试套件互斥：一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
#endif

/* 派生标记：任一套件被选中时置位。**2026-10-04 起有唯一消费点**——`Src/freertos.c`
 * 的 MX_FREERTOS_Init() 用它门控 testTask 的回收（P2-13）：产品构建下 CubeMX 生成区
 * 无条件创建 testTask，随后本标记未定义 → 立即 vTaskDelete 回收其 8KB CCM 栈 + TCB，
 * 避免空转占堆。testTask 的调度见 test/board/test_config.c 的 start_test_task()，
 * 后者**直接按 TEST_SUITE_RTC 等宏分支**，与本标记无关——故"RTC 构建下 testTask 不被
 * 创建"的旧疑点不成立（实测 RTC 套件正常执行；RTC 已计入下方析取，故 RTC 构建下本
 * 标记亦置位、testTask 正常保留）。
 * 4 个套件（含 RTC）在此补齐：若将来再引入"测试构建下 defaultTask 空闲"等分支而复用
 * 本标记，可避免重演"漏 RTC"的隐患。详见 docs/测试说明/实机测试实施指南.md §8.3。 */
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F) || defined(TEST_SUITE_RTC)
#define TEST_SUITE_SELECTED
#endif

#ifdef TEST_SUITE_CH395F
#include "ch395f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
#endif

#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
#include "storage_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
#endif

#ifdef TEST_SUITE_GD5F
/* 选中 GD5F 套件时，自动开启 gd5f 测试总开关；
 * 只读阶段无条件启用，破坏性阶段（写/擦/格式化/BBT 落盘）受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
#define ENABLE_GD5F_TESTS

/* --- 只读阶段：随时可跑，不改设备状态 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS     /* init / read_id / reset */
#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS     /* BBT 读取与 RAM 内标记（206/207 落盘另受门控） */
#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS     /* DMA 边界与守卫（701~703/705 写擦受门控；704 只读，日常回归亦跑） */
#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS    /* 越界与 size=0 参数校验（1003/1004 写入另受门控） */
//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS    /* 13h 锁存复现实验（2026-09-21 已完成：16 轮×48 读零复现；仅擦写最高一块，可随时重开） */

#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
/* --- 破坏性阶段：写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS     /* 页/跨页/多页读写 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS     /* 块擦除 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS     /* ECC 写读 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS     /* SPI 原语（块擦除 + 编程） */
#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS     /* FTL init + nand_ftl_format（格式化清卷） */
#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS     /* FatFS 挂载 + 写文件 */
#endif

#include "gd5f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
#endif

#ifdef TEST_SUITE_RTC
#include "sd2506_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
#endif

#ifndef TEST_SUITE_NAME
#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
#endif

/*
 * 链路时延探针（M2/M3）：在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3（chunk_wait）
 * 测量钩子（netTask 上下文）；产品构建未定义 → 钩子代码编译消失（零开销）。
 * 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏（上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含）。
 */
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
    (defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
#define TEST_LATENCY_PROBE  1
#endif

#ifdef __cplusplus
}
#endif

#endif /* TEST_CONFIG_H */