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两篇规划期文档改成对当前系统的描述,档名统一去掉"设计说明"的"说明"。 运行与自检记录: - 旧档重写为现状版(10 节:概览 / 记录布局 / 写入路径 / 读取与呈现 / 事件分类 / 控制台日志 / 双端差异 / 内存 / 异常恢复 / 自测要点), 删掉需求表、调研摘要、模块清单动作列、实施步骤与开放问题。 - 按代码纠正:七类记录齐备(原文只写了两类)、自检描述串换成实际 落盘的 28 条、待机阈值以 ui_tokens.h 为准、记录页已走 ui_w_records 共享组件、容量满只删该文件而非整卷清空。 - 待机屏移出本篇:它不属于日志,归 UI 侧;内容页架构补"待机屏 (覆盖层)"一节,产品需求 FR-LOG-3 拆成单纯的上电/重启分类, 待机显示归口已有的 FR-UI-3。 ADC 采样节拍: - §4.5 从 45 行压到 24 行,只留规则 / 违反的代价 / 为什么 / 兜底与 档案指针;九路置换实测表、A/B 对照、探针计数等取证归 ADC_Trap_Records.md 的 TRAP-ADC-01(那里已有完整档案)。 - adc1_gap 字段去掉"2026-10-21 起、此前固件为次数"的修订记录式括号。 - app_main.c 的注释改为指向 TRAP-ADC-01 取证、§4.5 设计口径。 引用同步:两个旧档名全仓替换(含代码注释、角色档、归档 id 表), 旧名残留 0;对 ADC 篇的 § 引用逐条复核落在真实章节上。 验证:48 个提交期钩子全通过,check_doc_links --sections-strict 通过。
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/*
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* 模块名称:UI Page SelfTest (自检记录内容页)
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* 模块功能:自检记录叶子节点(node 39)的内容页数据——动态列表,每条记录 2 行
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* (偶数行 = 时间戳、奇数行 = 故障描述),可移选分页;数据源 = sys_log API
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* (/log/selftest.log,开机自检故障,仅故障才写);空日志显示单条伪行"无记录";
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* 向框架 ui_content_page 提供页面描述符(零 LVGL 对象)
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* 适用平台:STM32F407ZGTx / PC 模拟器(两端共用)
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* 作者:王建锋
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* 创建日期:2026-09-14
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* 修改记录:
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* v1.0 2026-09-14 王建锋 创建初始版本(设计见 docs/子系统设计/运行与自检记录设计.md §5.2)
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*/
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#ifndef UI_PAGE_SELFTEST_H
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#define UI_PAGE_SELFTEST_H
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#include "ui_content_page.h"
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* 页面描述符(Flash const):自检记录页(描述符 .id = "selftest");
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* 由生成物 ui_page_registry.c 按菜单树 #page=selftest 注记绑定引用(定义于 ui_page_selftest.c)
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extern const content_page_def_t ui_page_selftest_desc;
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#endif /* UI_PAGE_SELFTEST_H */
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