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STM32F4-Base/test
wandering1 728d60675f feat(UI/采集/104): 通讯设置页 + 开机账本 + adc_cal 可诊断化——三车道同树一次构建入库
三条道在同一棵树上交付,故合并成**一次权威构建**(@build 0 错 0 警,Code=235236 RO=26308 RW=1572
ZI=136924)后同笔入库;台账已按该构建回填(`ram_baseline.py --update` + `--write`、`chec
k_mem_numbers.py
 --write`),凭证与实际 .map 同源。归属如下:

· **通讯设置页**(道G task-9):新增 `Drivers/BSP/UI/ui_page_comm.{c,h}`(通道六注入,与死
区页同骨架同纪
  律),`#page=comm` 绑定使 bound **21 → 22**、内容页黄金 **47 → 53**(旧 47 页字节零变化,
新增六态含
  WAIT/OK 两张);`iec104_comm` 脏位 + store_save(**无事件位**)挂 defaultTask 同点位
轮询;`port_104` 由
  宏改走 getter、`IEC104_SERV_PORT` 删除;字体 +听/监(185 字全覆)。**实机链已闭环**:FTP 外改
[comm]
  的 ca/port → 复位 → 串口出现 `section 'comm' (2 keys)` 与 `i104: listening o
n 9004` → 还原 2404,全程无
  FAIL ⇒「重启即生效 + 端口真值」不是推断是实测。上限核对 6/8 段、2/16 键,超限现象由 TC-CONFIG-056/057
  钉死(注册 -1 + `comm init: FAIL` 锚 + getter 回 ROM),**不抬宏**。
· **开机账本**(道F task-12):新增 `App/util/boot_stats.{c,h}`——上电次数落 SD2506 用户
 SRAM(magic +
  小端计数 + 版本 + 异或校验),一次上电 = 1 读 + ≤1 写,**零 NAND、零卷锁、零配置段**;四态互斥
  UNKNOWN / FRESH / CONTINUED / RESTARTED(BLF=1 才算电池域掉过电),**读失败绝不回写**;
文案口径「自 RTC
  电池周期起」,**禁写终身次数**。复位原因优先级链从 `app_main.c` 的 if-else 收进一份真源(串口与屏幕同
  源);104 四个只增不清计数 + `iec104_serv_get_stats()` 留在 serv、未塞进 link(会被 open
/close 洗掉)。
  运行时长按用户裁定 = **只报本次开机以来**,零新增代码。新套件 `test/host/boot_stats` 21/21,五处注入
  **全部有牙**(含「漂一字节被校验和挡下而不是报 256 倍错账」)。
· **adc_cal 可诊断化**(道E task-43):三个 volatile 计数 + `adc_cal_get_stats()`
/ `adc_cal_note_persisted()`
  (水位**盖写非自增**,因为一次 save 覆盖整档,数 save 会留假未落盘);「差额 × 脏位」三态语义唯一落在
  `adc_cal.h`,其中「差额 > 0 且脏位恒 0」= 绕过语义 setter 的静默丢失;TC-ADCCAL-019~023。

三条**必须留档的自纠**(都是执行道自己报的,我不替他们润色):
① stdint 那条断链是**宿主套件抓到、通讯道先修**,采集道承认自己是重复添加者并删掉自己那份;
② 「exit 2 不是证据,断言变红才是」——采集道第一版反证注入了未声明标识符导致编译错,差点当成功;
③ 套件汇总行原写 `s_total/s_total`,失败时会打印「21/21 PASSED (failed=1)」这种自相矛盾的行,已改。

另修:`check_registration.py` 的 `SIM_EXEMPT` 加一行豁免 `App/util/boot_stats.c
`(依赖 I2C 与 RCC 位掩码,
MCU 专属;核过 `sys_clock.c`/`sha256.c` 同形态先例),注册反向校验 exit 1 → 0。发号 TC-IEC1
04-034、
TC-UIDATA-029 已实抬游标(`TC-IEC104-033→034`、`TC-UIDATA-026→029`)。

门禁:id-check --strict 与 plain 均 rc=0、doc-links --all rc=0、注册校验 0、cppche
ck / coding-standard /
bom-drift 0;iec104 179/179、ui_data 295/295、boot_stats 21/21、adc_cal 11
7/117、run_par 67/67;菜单 8 状态
池 5368 不变、内容页 53/53。**已知遗留**:内容页数 47 → 53 的全仓文本同步尚未做(另卡跟踪),本笔只保
证代码与黄金一致;面板注键真机那一腿缺 CLI,交台架道补。
2026-10-27 11:29:23 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — L0~L3 分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md