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STM32F4-Base/test/storage_test.h
T
wandering1 bb76cfd779 修复规范矛盾并定案5项规则,保护宏统一XXX_H
规则定案:常量在右(a>5)、保护宏XXX_H(禁双下划线)、
头文件常量用#define、存储类前缀(g_/s_)优先、允许void返回值
全库32个.h头文件保护宏 __XXX_H → XXX_H 改名(字节级替换)
S1检查规则同步更新(拒绝双下划线),Inc/gpio.h 反向验证被正确拦截
规范示例矛盾修复:K&R括号、标准类型、变量初始化、命名常量、注释字段补全
2026-09-01 16:07:00 +08:00

58 lines
1.6 KiB
C
Raw Blame History

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/*
* 模块名称:Storage Test Suite
* 模块功能:FTL + FatFS 存储测试的声明与断言宏。实现见 storage_test_task.c,
* 统一由 testTask 调度;正常产品构建下由 defaultTask 调用,
* 行为与原 defaultTask 内联逻辑一致。
* 适用平台:STM32F4 系列
* 作者:王建锋
* 创建日期:2026-08-26
*/
#ifndef STORAGE_TEST_H
#define STORAGE_TEST_H
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif
#include <stdint.h>
typedef struct {
uint16_t total;
uint16_t passed;
uint16_t failed;
} storage_test_stats_t;
extern storage_test_stats_t g_storage_stats;
#define STORAGE_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) do { \
g_storage_stats.total++; \
if (cond) { \
g_storage_stats.passed++; \
DBG_INFO(" [PASS] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
} else { \
g_storage_stats.failed++; \
DBG_ERROR(" [FAIL] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
} \
} while (0)
#define STORAGE_TEST_REPORT(name) do { \
DBG_INFO("=== %s: %d/%d PASSED (failed=%d) ===", \
name, g_storage_stats.passed, g_storage_stats.total, \
g_storage_stats.failed); \
} while (0)
/* 存储测试入口:FTL + FatFS 文件系统与性能测试 */
void storage_test_run(void);
/* 存储套件恢复测试(默认关闭):取消注释并编译 STORAGE 套件运行一次,
* 即可重建 BBT(清除 TC-STO-03 等注入的坏块)并重新格式化,恢复设备干净态。
* 恢复完成后建议重新注释并编译正常构建。 */
//#define ENABLE_STORAGE_RECOVERY_TESTS
#ifdef __cplusplus
}
#endif
#endif /* STORAGE_TEST_H */