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STM32F4-Base/test/board
wandering1 33405a57b5 docs(N34)+test: E13 僵尸会话根因坐实;Phase 11 判据修正+一次性报告
E13(实验方案.md 新增 + E8/E11/E12 口径修正):
- 风暴态根因=僵尸会话,非芯片残渣:PC 网卡禁用/链路断开时
  Windows 直接丢弃 socket 不发 FIN/RST → 芯片侧 ESTABLISHED 僵尸
  → 单连接监听被占(:21 拒连)→ 下一 PASV 重监听与僵尸竞态
  (accept 为垂死僵尸开枪 20ms 后 DISCONNECT)→ lftpd 5s 窗空转
  → 425;每失败轮再生僵尸 → 自续数分钟
- "残渣跨烧录存活/需断电冷启动"口径作废:板上 CH395F RSTI 接
  MCU NRST(V0.0 网表 :174),每次烧录即芯片硬件复位;"存活"是
  锤击再生错觉。正确控制=下一臂前静置 ≥90s 清僵尸窗
- 自愈链端到端验证:TIMEOUT(在途 TX ≈30s)/keepalive(空闲 60/5/3)
  → pump → relisten → 端口恢复;E11 产品路径验证 17s 判死 PASS
- 4 元组复用假设被否(pasv_probe.py:PASV 端口递增、PC 源端口随机)
- e02_probe listener=FAIL 重解读:探针挂起 socket 未关(PC 内核
  代 ACK keepalive)→ 拒连是单连接正确行为;真缺口=应用无法主动
  拆会话 → 阶段 2 sock_reset 职责

Phase 11 测试修复(net_test_task.c,实跑暴露):
- 判据 >=60000ms 是按手册公式写的,实测判死 18~31s 会在正确固件
  上假 FAIL → 改有界窗 10s~120s(下限防误杀存活空闲会话,上限
  防判死缺位)
- 报告后不释放 phase_active → 对已死连接 10ms 节奏刷 594 条假
  FAIL → phase11_run 返回完成态,主循环释放等新连接再测
- 复跑两轮验证:30137ms 单次 PASS → 自动等新连接 → 二轮 accept 正常
- Test_Guide TC-NET-1101 判据/耗时同步;ch395f_test.h Phase 14
  共存安全性注释(有整体超时不永久挡 accept)

工具:test/host/pasv_probe.py(每轮打印 PASV 端口+PC 源端口+结果)
2026-10-13 11:23:40 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4)
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md