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- D-6 目录规范化：docs 根目录散落文档归入 UI设计/子系统设计/架构设计/审查记录/ 环境与部署/网络 等子目录，去掉目录名空格，重命名 嵌入式C语言代码规范_V1.0.md - D-7 三档一致性门禁：新增 scripts/check_doc_links.py（链接存在性）、 scripts/gen_task_table.py（FreeRTOS 任务表数值）、scripts/check_mem_numbers.py （内存/Flash 体积），均支持 --check/--write/--diff，pre-commit 钩子同步注册 - D-5 文档索引：新建 docs/README.md，新建 docs/文档规范.md 约束目录命名与链接写法 - D-1 芯片手册瘦身：删除 1069 张无引用孤儿图片（77.06 MB）， docs/芯片手册 120 MB → 41 MB，已引用图片零断链 - 同步 C 源码注释中的文档路径引用（D-6 重组后），构建 0 错误 0 警告
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C
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C
/*
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* 模块名称：GD5F2GQ5UE Driver Test Suite
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* 模块功能：GD5F2GQ5UE SPI NAND Flash 驱动测试入口，按阶段组织测试用例，
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* 覆盖 gd5f2gq5ue.c 全部公开/私有函数，并延伸到 FTL（nand_ftl）与
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* FatFS diskio。详见 docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md。
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* 适用平台：STM32F4 系列（GD5F2GQ5UE SPI NAND）
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* 作者：王建锋
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* 创建日期：2026-08-26
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* === 测试阶段一览（与指南 TC 一一对应）===
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* Phase | 描述
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* Phase 1 | 初始化与 ID 识别（init / read_id / reset）
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* Phase 2 | 坏块管理（BBT：scan / is_block_bad / mark+clear / rescan）
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* Phase 3 | 页读写（跨页 / 非对齐 / 多页 / 单字节）
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* Phase 4 | 块擦除（单块 / 多块 / 非对齐负向 / 擦写读闭环）
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* Phase 5 | ECC 验证（开启下写读 / check_ecc）
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* Phase 6 | SPI 原语（page_read / program_load+exec / block_erase / write_enable / wait_busy）
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* Phase 7 | DMA 边界（阈值 32/33/整页）
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* Phase 8 | FTL 层（nand_ftl_init / nand_ftl_format）
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* Phase 9 | FatFS diskio（可选）
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* Phase 10 | 边界条件（offset 越界 / size=0 / 未擦除写入 / 写保护解除）
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* Phase 11 | 13h 锁存 / WIP 提前清零对照复现（编程擦除风暴 + 立即读比对，2026-09-21）
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*/
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#ifndef GD5F_TEST_H
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#define GD5F_TEST_H
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#ifdef __cplusplus
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extern "C" {
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#endif
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#include <stdint.h>
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#include "gd5f2gq5ue.h"
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/* ======================== 阶段使能开关 ======================== */
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/* 取消注释对应阶段即可启用；总开关 ENABLE_GD5F_TESTS 控制是否编译并运行测试。
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* 启用后，defaultTask 中的常规 FTL/FatFS 存储测试会被跳过（独占 NAND）。
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* 注意：测试会擦除/写入若干块，且 Phase 8/9 会格式化 FTL/FatFS，仅用于测试构建。 */
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//#define ENABLE_GD5F_TESTS /* 总开关（由 test_config.h 的 TEST_SUITE_GD5F 自动开启） */
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现（仅擦写最高一块，独立门控，可随时启用） */
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/* ======================== 测试统计与断言 ======================== */
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typedef struct {
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uint16_t total;
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uint16_t passed;
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uint16_t failed;
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} gd5f_test_stats_t;
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extern gd5f_test_stats_t g_gd5f_test_stats;
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#define GD5F_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) do { \
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g_gd5f_test_stats.total++; \
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if (cond) { \
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g_gd5f_test_stats.passed++; \
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DBG_INFO("[PASS] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
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} else { \
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g_gd5f_test_stats.failed++; \
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DBG_ERROR("[FAIL] " fmt, ##__VA_ARGS__); \
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} \
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} while (0)
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#define GD5F_TEST_REPORT(name) do { \
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DBG_INFO("=== %s: %d/%d PASSED (failed=%d) ===", \
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name, g_gd5f_test_stats.passed, g_gd5f_test_stats.total, \
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g_gd5f_test_stats.failed); \
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} while (0)
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#if defined(ENABLE_GD5F_TESTS)
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void gd5f_test_run(void);
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#else
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#define gd5f_test_run() ((void)0)
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#endif
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#ifdef __cplusplus
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}
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#endif
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#endif /* GD5F_TEST_H */
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