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道F 批 2 / task-16。FTL 单页写回缓存（nand_ftl.c s_cache_dirty）与 dhara journal 只在换页/整页写/f_close 时刷出，漏网脏页的掉电驻留窗无上限。本 提交以最小面收口：不碰 GD5F/dhara 驱动，全部走既有 FatFs CTRL_SYNC 路径。 实现 App/fs/vol_idle_sync.[ch]（新增，仅 MCU 端，uvprojx App 组注册）： - 四级门：STORAGE_READY 就绪门 → 5 s 节流（无符号差回绕安全判据）→ vol_lock_wait(0) try（锁被持有=文件序列在做，跳过，不改 STOR 持有期 语义）→ disk_ioctl(0, CTRL_SYNC)； - clean 态脏标志+journal 双短路、零 NAND 触点；脏态最坏 = 一次 f_close 的同步段同型成本，不引入新磨损来源； - 失败按边沿 latch 一条 DBG_ERROR、成功重新武装；失败路径也成对放锁； - TEST_SUITE_STORAGE 构建整体 no-op（卷由 testTask 独占）。 接线：defaultTask 主循环 syslog_drain 之后（default_task.c v1.3）。 文档：docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md §5.5 补空闲兜底与边界； 本板无掉电检测硬件、不做掉电前强制 flush、勿当掉电保护——口径同步落 注释与文档（sys_log_mcu.c 两处旧「暂不做」注释随实现改口）。 测试：新主机单测 test/host/vol_idle_sync/（TC-VOLSYNC-001..012，19 断言 全过）；scripts/id_registry.json 建 TC-HOST-VOLSYNC 族（仿 ADCCAL 先例）； .pre-commit-config.yaml 加 vol-idle-sync-unit-test hook（只加自己条目）。 越界申报（①②③ 均 lead 批准，④ 为门禁连带必要）： ① App/task/default_task.c 单点接线（include + 1 调用 + 头修改记录）； ② docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md §5.5； ③ .pre-commit-config.yaml 单 hook + scripts/id_registry.json 单族； ④ scripts/check_registration.py SIM_EXEMPT 加一行（vol_idle_sync.c 模拟器 侧豁免，registration-check GAP 所需；与批准③同类别但未列名，特此申报）。 体积增量（vs scripts/ram_baseline.tsv 2026-10-25 行）： Flash(Code+RO) 237140→237328（+188 B）、RW 1224→1232（+8 B）、ZI 0； 增量 = 3 个文件级 static + 一处 DBG_ERROR 调用点；栈/堆无变化。 gate: only mem-budget/mem-numbers pending lead ledger backfill 全量 pre-commit --all-files：40 项 Passed，仅 mem-numbers（D-7 体积档）与 mem-budget 两条红 = 台账数字待回填（增量如上，属 lead 单写者禁区）； 其余含 doc-links/id-check/registration/test-coverage/全部主机单测皆绿。 @build 0 错误 0 警告（Code=215932 RO=21396 RW=1232 ZI=131984）。 台架：空闲 sync 实机节奏（clean 零触点、脏态时长、无心跳扰动）属实际 测量采样类——本批跳过，留「待台架实测」。
test/ — 测试代码与主机端脚本
测试分两部分，物理隔离在两个子目录：
board/—— 板端测试套件（.c/.h，编入固件由 testTask 执行）host/—— 主机端脚本（.py，PC 侧驱动板子并判读结果）
目录结构
| 目录 | 内容 | README |
|---|---|---|
board/ |
板端测试套件（编入 Keil 工程，占 RAM） | board/README.md |
host/ |
PC 端测试/判读脚本（Python） | host/README.md |
run_all_suites.py |
多套件回归编排（改宏 → 构建 → 烧录 → 采集，try/finally 保证还原开关）；--check-build = 只编译不烧录（纯离机） |
本文 §多套件回归 |
运行方式
# @test 一键闭环（推荐）
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py
# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>
# 多套件回归编排（需真机；自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集，结束后还原）
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run # 只看计划
# 只编译不烧录（S6；不需要 MCU / 串口 / ST-LINK，验证 4 套件可编译性）
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build
退出码约定：0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。
多套件回归（run_all_suites.py）
套件互斥（编译期 #error）意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条
命令，并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库，这是它存在的
核心理由（与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线）。
⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集，4 套件约数分钟起；破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用，绝不挂 pre-commit。
--check-build 则相反：只改宏 + @build，不烧录不采集，无需任何硬件，用于防止
"测试套件长期编不过而无人知"（2026-08~09 CH395F 套件实例）。改动 test/board/ 下测试
代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。
⚠️ 注意
- 本目录被 pre-commit 门禁排除（测试代码不受 C 规范约束）
board/套件占用 RAM，启用前先核算预算（见docs/内存管理/）- Keil 工程已同步：
board/下 7 个.c编入MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx， IncludePath 含../test/board；移动文件须同步改工程文件 - 套件选择开关：
board/test_config.h的TEST_SUITE_*（互斥，一次只启用一个） - 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲（避免
L6406E溢出）
相关文档
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docs/测试说明/*_Test_Guide.md docs/测试说明/链路延迟测试说明.md