114 lines
4.7 KiB
C
114 lines
4.7 KiB
C
/*
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* 模块名称：统一测试套件选择
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* 模块功能：集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
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* testTask（start_test_task）调度，defaultTask 在测试
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* 构建下空闲，正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
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* 适用平台：STM32F4 系列
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* 作者：王建锋
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* 创建日期：2026-08-26
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*
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* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*（或都不启用 = 正常产品构建）：
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* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试（沿用 ch395f_test.h 阶段宏，HW 1~5 / NET 6~11）
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* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试（从 defaultTask 迁入）
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* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
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*/
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#ifndef TEST_CONFIG_H
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#define TEST_CONFIG_H
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#ifdef __cplusplus
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extern "C" {
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#endif
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#include <stdint.h>
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/* === 选择当前构建的测试套件（三选一，或都注释 = 正常产品构建）===
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* 2026-09-22：M2（链路时延 Phase 13，NET 层，需 PC peer）交付 ——
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* 当前启用 CH395F 套件 + Phase 13（独立运行，勿与其他 Phase 混选）。
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* 执行：先起 test/latency_peer.py --mode net --port 8080，再 @test 烧录。
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* 恢复产品构建 = 注释掉下面两行（TEST_SUITE_CH395F 与 ch395f_test.h 的
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* ENABLE_PHASE13_TESTS）。详见 docs/测试说明/链路延迟测试说明.md §3.2。 */
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#define TEST_SUITE_CH395F
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//#define TEST_SUITE_STORAGE
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//#define TEST_SUITE_GD5F
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//#define TEST_SUITE_RTC
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/* === 破坏性测试总开关（默认关闭）===
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* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**，跑一次即有代价（2026-09-21 实测：GD5F 整轮
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* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块，容量 95248 → 95200，且 TC-STO-04 恢复不回来）：
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* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块（永久减少可用容量）
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* - 写、擦 NAND 块（覆盖卷数据）；格式化卷（nand_ftl_format / f_mkfs）
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* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
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* 默认关闭：套件只跑**只读与参数校验**类用例，可随时在在用设备上执行。
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* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开；打开跑完建议做一次恢复。 */
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//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
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#error "测试套件互斥：一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
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#endif
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F)
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#define TEST_SUITE_SELECTED
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_CH395F
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#include "ch395f_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
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#include "storage_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_GD5F
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/* 选中 GD5F 套件时，自动开启 gd5f 测试总开关；
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* 只读阶段无条件启用，破坏性阶段（写/擦/格式化/BBT 落盘）受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
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#define ENABLE_GD5F_TESTS
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/* --- 只读阶段：随时可跑，不改设备状态 --- */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记（206/207 落盘另受门控） */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫（701~703/705 写擦受门控；704 只读，日常回归亦跑） */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验（1003/1004 写入另受门控） */
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验（2026-09-21 已完成：16 轮×48 读零复现；仅擦写最高一块，可随时重开） */
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#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
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/* --- 破坏性阶段：写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语（块擦除 + 编程） */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format（格式化清卷） */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
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#endif
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#include "gd5f_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_RTC
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#include "sd2506_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
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#endif
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#ifndef TEST_SUITE_NAME
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#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
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#endif
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/*
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* 链路时延探针（M2/M3）：在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3（chunk_wait）
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* 测量钩子（netTask 上下文）；产品构建未定义 → 钩子代码编译消失（零开销）。
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* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏（上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含）。
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*/
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
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(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
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#define TEST_LATENCY_PROBE 1
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#endif
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#ifdef __cplusplus
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}
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#endif
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#endif /* TEST_CONFIG_H */
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