4c0a0af9f8
纯注释/死码(零行为变更): - 0-1 pump 注释 50ms→100ms(宏真值源 100U,net_socket.c) - 0-2 D10 give-up 文案改"retry budget exhausted, pump takes over" (旧文案夸大永久失效语义,pump 100ms 仍周期认领重建) - 0-7 IP 字节序注释更正:set_ip/gw/mask 实为点分十进制序(调用方 parse_ip_string 数组直传、芯片按首段接受、台架多年实证); set_des_ip 补"与 get_remot_ipp 输出同序"往返注(ch395f.h/.c) - 0-8 Trap 13 注释降级为"未证实历史观察"(对齐 2026-10-11 Trap 13 复核注,与手册 §5.34 相左):DMA 定容理由改"接收缓冲 2KB 整缓冲 单读=Trap 25 排空契约形态";net_socket.c 四处引用改写 - 0-9 删死声明:GET_GLOB_INT_STATUS(0x29)/ENTER_SLEEP/EEPROM×3/ GPIO×2/SPI_BEGIN_DELAY_MS/GINT_STAT_SOCK0..3(全仓零引用核实) 小逻辑(台架冒烟实证): - 0-3 U12 对称:TCP_LISTEN 失败补 close 两处(net_relisten_locked / net_listen_locked)——防芯片 Socket 卡"OPEN 无监听"、下轮 open 恒返 USE(U12 同源事故形态) - 0-4 retry_tick 状态门:仅 LISTENING/CLOSED 才重试;已转 ESTABLISHED (新会话抢先)清陈旧登记,防 open→close 摧毁活连接(认领口径同 pump) - 0-5 FUN_PARA 裸 0x08 → CH395F_FUN_PARA_SOCKET_CLOSE(复用既有宏 (1UL<<3),注释补 §5.52/版本/红线口径;曾重复定义触发 9 警告, 已并入原宏块) - 0-6 版本门控:ver<0x46 拒置 bit3 并 [ERR] 留痕(防芯片批次漂移; 本台架 ≥0x46 行为不变,fun_para 日志改打实际值) 验证:@build 全量重编 0 错 0 警(Code=209580,RW/ZI 不变);@test PASS(回读无差异);冒烟 n30 0/20、:21 @0ms 20/20、:7003 20/20、 ftp_regression 11/11。 门禁说明:doc-links 工作树 junction 伪影按既定口径 SKIP;mem-budget 分支 .map 漂移同前;cppcheck/coding-standard 手跑 Passed。
test/board/ — 板端测试套件
⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些
.c已注册到 Keil 工程MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。
文件一览
| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
test_config.c/h |
测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS |
test_common.h |
公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4) |
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h |
CH395F 以太网(硬件层 Phase 1 |
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h |
GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h |
SD2506 RTC |
storage_test_task.c/h + storage_test.h |
存储性能 |
net_test_task.c/h |
网络层测试 |
net_latency_test.c/h |
链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属) |
⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)
- 套件互斥:
test_config.h的TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC一次只能启用一个 (违反则#error);全部注释 = 产品构建 - ⚠️ 测试固件不得静默提交:
TEST_SUITE_*开关受 pre-commit 钩子test-suite-switch门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里TEST_SUITE_CH395F就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...或python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build显式放行 - 破坏性用例默认关闭:
ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑 - ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
- 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F
添加新测试套件
- 在
test_config.h加开关(并入互斥#error检查) - 新建
<模块>_test_task.c/h - 注册进 Keil 工程(
<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>) - 跑回归:
@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)
相关文档
- 测试指南:
docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md - 套件配置:
AGENTS.md「测试与验证」章 - 容量恢复:
docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md