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STM32F4-Base/test/board
wandering1 4c0a0af9f8 fix(net): N34 阶段0 零风险清理 9 条(注释债/死码/三处小逻辑门)
纯注释/死码(零行为变更):
- 0-1 pump 注释 50ms→100ms(宏真值源 100U,net_socket.c)
- 0-2 D10 give-up 文案改"retry budget exhausted, pump takes over"
  (旧文案夸大永久失效语义,pump 100ms 仍周期认领重建)
- 0-7 IP 字节序注释更正:set_ip/gw/mask 实为点分十进制序(调用方
  parse_ip_string 数组直传、芯片按首段接受、台架多年实证);
  set_des_ip 补"与 get_remot_ipp 输出同序"往返注(ch395f.h/.c)
- 0-8 Trap 13 注释降级为"未证实历史观察"(对齐 2026-10-11 Trap 13
  复核注,与手册 §5.34 相左):DMA 定容理由改"接收缓冲 2KB 整缓冲
  单读=Trap 25 排空契约形态";net_socket.c 四处引用改写
- 0-9 删死声明:GET_GLOB_INT_STATUS(0x29)/ENTER_SLEEP/EEPROM×3/
  GPIO×2/SPI_BEGIN_DELAY_MS/GINT_STAT_SOCK0..3(全仓零引用核实)

小逻辑(台架冒烟实证):
- 0-3 U12 对称:TCP_LISTEN 失败补 close 两处(net_relisten_locked /
  net_listen_locked)——防芯片 Socket 卡"OPEN 无监听"、下轮 open
  恒返 USE(U12 同源事故形态)
- 0-4 retry_tick 状态门:仅 LISTENING/CLOSED 才重试;已转 ESTABLISHED
  (新会话抢先)清陈旧登记,防 open→close 摧毁活连接(认领口径同 pump)
- 0-5 FUN_PARA 裸 0x08 → CH395F_FUN_PARA_SOCKET_CLOSE(复用既有宏
  (1UL<<3),注释补 §5.52/版本/红线口径;曾重复定义触发 9 警告,
  已并入原宏块)
- 0-6 版本门控:ver<0x46 拒置 bit3 并 [ERR] 留痕(防芯片批次漂移;
  本台架 ≥0x46 行为不变,fun_para 日志改打实际值)

验证:@build 全量重编 0 错 0 警(Code=209580,RW/ZI 不变);@test
PASS(回读无差异);冒烟 n30 0/20、:21 @0ms 20/20、:7003 20/20、
ftp_regression 11/11。

门禁说明:doc-links 工作树 junction 伪影按既定口径 SKIP;mem-budget
分支 .map 漂移同前;cppcheck/coding-standard 手跑 Passed。
2026-10-13 05:54:42 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4)
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md