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STM32F4-Base/test/board/test_config.h
T
wandering1 2055de0303 测试:落地测试架构改进 T-1~T-5(套件开关门禁/汇总行校验/通用 harness/公共断言宏/多套件编排)
背景:L0.5 主机侧单测落地后复审测试架构,给出 6 条改进意见(P0~P3),
登记进 docs/待处理内容.md「测试与验证基础设施」后逐条实施。

- T-1(P0) 测试套件开关门禁:新增 scripts/check_test_suite.py + pre-commit 钩子
  test-suite-switch,默认要求产品构建(全部 TEST_SUITE_* 注释),跑套件回归用
  --allow-test-build / ALLOW_TEST_BUILD=1 显式放行。顺带把 test_config.h 中长期
  开启的 TEST_SUITE_CH395F 改回注释(仓库此前躺着的是测试固件)。
- T-2(P1) verify_log.py 增加 --require-suite-summary:要求
  "=== <名称>: N/M PASSED (failed=0) ===" 且 N>0,堵住"套件没跑到汇总行/
  断言数为 0 仍判 PASS"的盲区;run_boot_test.py 同名参数透传。不传参向后兼容。
- T-3(P1) 抽取通用 harness test/host/common/unit_test_harness.py(工具链探测/
  INCLUDE-LIB 拼接/wd4819/GBK 解码/退出码契约);watchdog 运行器 170→55 行,只声明 TestBuild。
- T-4(P2) 新增 test/board/test_common.h 集中断言内核(TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL),
  4 套件各用一行宏绑定自身统计变量(保持 g_xxx_stats 独立、防跨套件串数)。
  刻意不 include dbg_log.h——否则冻结 DBG_TAG 默认值触发 #47-D 重定义警告。
- T-5(P2) 新增 test/run_all_suites.py 多套件回归编排,try/finally 无条件还原套件开关。

验证:@build 产品构建 0 错 0 警;4 套件逐一构建均 0/0;看门狗单测 39/39 PASS;
pre-commit 14 钩子全通过;编排脚本 dry-run/开关切换/异常还原均实测通过。
2026-10-01 07:28:57 +08:00

113 lines
4.7 KiB
C
Raw Blame History

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/*
* 模块名称:统一测试套件选择
* 模块功能:集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
* testTask(start_test_task)调度,defaultTask 在测试
* 构建下空闲,正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
* 适用平台:STM32F4 系列
* 作者:王建锋
* 创建日期:2026-08-26
*
* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*(或都不启用 = 正常产品构建):
* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试(沿用 ch395f_test.h 阶段宏,HW 1~5 / NET 6~11)
* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试(从 defaultTask 迁入)
* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
*/
#ifndef TEST_CONFIG_H
#define TEST_CONFIG_H
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif
#include <stdint.h>
/* === 选择当前构建的测试套件(三选一,或都注释 = 正常产品构建)===
* ⚠️ 默认必须是**产品构建**(全部注释)——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
* 未显式放行的测试构建(`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`)。
* 跑套件回归时取消注释所需套件;跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
* (自动改宏 + 结束后无条件还原)。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
//#define TEST_SUITE_CH395F
//#define TEST_SUITE_STORAGE
//#define TEST_SUITE_GD5F
//#define TEST_SUITE_RTC
/* === 破坏性测试总开关(默认关闭)===
* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**,跑一次即有代价(2026-09-21 实测:GD5F 整轮
* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块,容量 95248 → 95200,且 TC-STO-04 恢复不回来):
* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块(永久减少可用容量)
* - 写、擦 NAND 块(覆盖卷数据);格式化卷(nand_ftl_format / f_mkfs)
* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
* 默认关闭:套件只跑**只读与参数校验**类用例,可随时在在用设备上执行。
* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开;打开跑完建议做一次恢复。 */
//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
#error "测试套件互斥:一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
#endif
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F)
#define TEST_SUITE_SELECTED
#endif
#ifdef TEST_SUITE_CH395F
#include "ch395f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
#include "storage_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_GD5F
/* 选中 GD5F 套件时,自动开启 gd5f 测试总开关;
* 只读阶段无条件启用,破坏性阶段(写/擦/格式化/BBT 落盘)受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
#define ENABLE_GD5F_TESTS
/* --- 只读阶段:随时可跑,不改设备状态 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记(206/207 落盘另受门控) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫(701~703/705 写擦受门控;704 只读,日常回归亦跑) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验(1003/1004 写入另受门控) */
//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验(2026-09-21 已完成:16 轮×48 读零复现;仅擦写最高一块,可随时重开) */
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
/* --- 破坏性阶段:写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语(块擦除 + 编程) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format(格式化清卷) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
#endif
#include "gd5f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_RTC
#include "sd2506_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
#endif
#ifndef TEST_SUITE_NAME
#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
#endif
/*
* 链路时延探针(M2/M3):在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3(chunk_wait)
* 测量钩子(netTask 上下文);产品构建未定义 → 钩子代码编译消失(零开销)。
* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏(上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含)。
*/
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
#define TEST_LATENCY_PROBE 1
#endif
#ifdef __cplusplus
}
#endif
#endif /* TEST_CONFIG_H */