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STM32F4-Base/test/board/test_config.h
T
wandering1 6572591181 refactor(编号): 链路时延段号 L1~L11 → 权威 ASCII 段名(含 C 宏名与 peer 变量)
批次六余账之一。批次 3b 当时只改了 net_latency_test.c 的日志串与注释,本笔收掉剩下
的:标识符、peer 脚本、其余四个 board 文件。

- 段名映射(权威表在 scripts/archive/id_gate/编号治理历史.md §10):SPI_CMD /
  SPI_DMA / CHUNK_WAIT / TO_PC / QUEUE_RT / ECHO_RT / FRAME_RT / PROD_CYCLE /
  RELISTEN / LOGTAX / UI_LOOP。C 侧纯 ASCII,文档侧沿用中文段名。
- C 标识符 29 条规则 86 token:LAT_P13_OP_L5_RECV → LAT_P13_OP_QUEUE_RT_RECV、
  P13_ST_L3 → P13_ST_CHUNK_WAIT、LAT_P13_L3_SAMPLES → LAT_P13_CHUNK_WAIT_SAMPLES,
  并把文件内既有的 CW / QRT / LT 三个缩写前缀一并展开成同一套词,不留两套词汇。
- REQ2FIRST / FULLFRAME **不并入** FRAME_RT:它们是整帧往返段内两个不同测量
  (报告标签本就叫 req2first_mcu / fullframe_mcu),并入会撞名并丢掉区分度。
- peer(test/host/latency_peer.py)42 条标识符 + 7 个小写局部量 + 操作表整表重排。
  **JSON 输出键 l5_recv / seg_l6 / frames_l7 等 48 token 刻意不改**——它们是
  docs/测试说明/m2_data/ 五份冻结实测数据的 schema,改名等于让代码与归档证据
  漂移;边界与理由写进归档 §10.3,是**有记录的例外**不是漏网。
- 注释 23 处;顺带修一处上一批路径残留:peer 被写成 test/latency_peer.py,实际
  在 test/host/ 下,三处注释改对。
- 站点:test/board 111 + Drivers/BSP/CH395F/ch395f.h 1 + peer 46(无词边界口径)。
- 零代码生成变化:@build 改前/改后各一次,均 0 错 0 警且 Program Size 完全相同
  (Code=236456 RO=28124 RW=1876 ZI=137084)。被改名的标识符全落在
  ENABLE_PHASE13_TESTS 区间内 → 另开 TEST_SUITE_CH395F + PHASE13 组合编一次
  (0 错 0 警),套件开关事后无条件还原、sha256 与还原前一致,再重建产品构建。
- 等价证明:剥注释 + 套登记表后与 HEAD 逐字节相同(not_equivalent=0)。
- 禁改一字未动:console_log 的 "L1\r\n"(测试数据)、lftpd 与
  ftp_capture 的 "215 UNIX Type: L8"(FTP 应答断言)。
2026-10-28 18:49:45 +08:00

122 lines
5.6 KiB
C
Raw Blame History

This file contains ambiguous Unicode characters
This file contains Unicode characters that might be confused with other characters. If you think that this is intentional, you can safely ignore this warning. Use the Escape button to reveal them.
/*
* 模块名称:统一测试套件选择
* 模块功能:集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
* testTask(start_test_task)调度,defaultTask 在测试
* 构建下空闲,正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
* 适用平台:STM32F4 系列
* 作者:王建锋
* 创建日期:2026-08-26
*
* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*(或都不启用 = 正常产品构建):
* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试(沿用 ch395f_test.h 阶段宏,HW 1~5 / NET 6~11)
* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试(从 defaultTask 迁入)
* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
*/
#ifndef TEST_CONFIG_H
#define TEST_CONFIG_H
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif
#include <stdint.h>
/* === 选择当前构建的测试套件(三选一,或都注释 = 正常产品构建)===
* ⚠️ 默认必须是**产品构建**(全部注释)——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
* 未显式放行的测试构建(`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`)。
* 跑套件回归时取消注释所需套件;跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
* (自动改宏 + 结束后无条件还原)。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
//#define TEST_SUITE_CH395F
//#define TEST_SUITE_STORAGE
//#define TEST_SUITE_GD5F
//#define TEST_SUITE_RTC
/* === 破坏性测试总开关(默认关闭)===
* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**,跑一次即有代价(2026-09-21 实测:GD5F 整轮
* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块,容量 95248 → 95200,且 TC-STORAGE-04 恢复不回来):
* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块(永久减少可用容量)
* - 写、擦 NAND 块(覆盖卷数据);格式化卷(nand_ftl_format / f_mkfs)
* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
* 默认关闭:套件只跑**只读与参数校验**类用例,可随时在在用设备上执行。
* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开;打开跑完建议做一次恢复。 */
//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
#error "测试套件互斥:一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
#endif
/* 派生标记:任一套件被选中时置位。**2026-10-04 起有唯一消费点**——`Src/freertos.c`
* 的 MX_FREERTOS_Init() 用它门控 testTask 的回收:产品构建下 CubeMX 生成区
* 无条件创建 testTask,随后本标记未定义 → 立即 vTaskDelete 回收其 8KB CCM 栈 + TCB,
* 避免空转占堆。testTask 的调度见 test/board/test_config.c 的 start_test_task(),
* 后者**直接按 TEST_SUITE_RTC 等宏分支**,与本标记无关——故"RTC 构建下 testTask 不被
* 创建"的旧疑点不成立(实测 RTC 套件正常执行;RTC 已计入下方析取,故 RTC 构建下本
* 标记亦置位、testTask 正常保留)。
* 4 个套件(含 RTC)在此补齐:若将来再引入"测试构建下 defaultTask 空闲"等分支而复用
* 本标记,可避免重演"漏 RTC"的隐患。详见 docs/测试说明/实机测试实施指南.md §8.3。 */
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F) || defined(TEST_SUITE_RTC)
#define TEST_SUITE_SELECTED
#endif
#ifdef TEST_SUITE_CH395F
#include "ch395f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
#include "storage_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_GD5F
/* 选中 GD5F 套件时,自动开启 gd5f 测试总开关;
* 只读阶段无条件启用,破坏性阶段(写/擦/格式化/BBT 落盘)受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
#define ENABLE_GD5F_TESTS
/* --- 只读阶段:随时可跑,不改设备状态 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记(206/207 落盘另受门控) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫(701~703/705 写擦受门控;704 只读,日常回归亦跑) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验(1003/1004 写入另受门控) */
//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验(2026-09-21 已完成:16 轮×48 读零复现;仅擦写最高一块,可随时重开) */
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
/* --- 破坏性阶段:写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语(块擦除 + 编程) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format(格式化清卷) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
#endif
#include "gd5f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_RTC
#include "sd2506_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
#endif
#ifndef TEST_SUITE_NAME
#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
#endif
/*
* 链路时延探针(M2/M3):在 net_socket.c 发送分块循环内定义 CHUNK_WAIT
* 测量钩子(netTask 上下文);产品构建未定义 → 钩子代码编译消失(零开销)。
* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏(上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含)。
*/
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
#define TEST_LATENCY_PROBE 1
#endif
#ifdef __cplusplus
}
#endif
#endif /* TEST_CONFIG_H */