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STM32F4-Base/test/board
wandering1 506eccc68f docs: 错误码传播审计收口并删除该文档(E-xx 转历史编号族)
本次会话先后销项与关闭:
- E-61 SD2506 清 INTAF:原实现只读取 CTR1,而按手册 ARST=0 时读操作
  不清标志,属空操作;改为读-改-写 CTR1,并按手册订正 CTR1 位宏
  (INTAF/INTDF/BLF 位置,ARST 归 CTR3)
- E-16 cfg_file:新增 CFG_FILE_MAX_NAME_LEN(段名/键名 ≤15),注册时
  拒绝超长键名;s_gen_document 两处 snprintf 改检查式;补 TC-CFG-024
  用例(主机单测 149→151 PASSED)
- E-23 TC704:PHASE7_MULTI_COUNT 8→5(并发上限 = 8 − 3 个常驻监听),
  accept 失败分支加网络代次检查(网络重建即重建监听)
- E-26(UDP)按“保留 API + 文档定案”关闭;E-30 评估为不必要后关闭;
  N-4(ACCEPT 决定不实施)关闭

审计文档剩余 5 项 P2 + 2 项监督,经用户裁定“都不重要”后整体删除:
- 删除 docs/问题记录/错误码传播审计.md(634 行)
- 九类缺陷模式表迁入 docs/编号规范.md §4.2.1(PAT-01~09)
- E-xx 转为纯历史编号族:编号规范 §4.1 属主改“无(原属主已删除)”,
  §4.3 保持冻结;全仓 26 处引用按“保留编号、去悬空文档名”处理
- 顺带修正 N-4 收口遗留:排期详述 C1 才是 E-25/E-27/E-28 的承载处
  (审计 §4 曾误写为登记簿);README 两处 C1 旧名改回“net 层跨上下文收口”

一并提交此前遗留的体系层评审报告 2026-10-14 复核 WIP(六维评分复核、
未闭环 Top 5→3、三区水位实测刷新)。

校验:Keil 构建 0 错误 0 警告(Code=212344);check_doc_links
--sections-strict 与 --all(142 文档)通过;内存双台账刷新后均 PASS。
2026-10-15 07:39:38 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4)
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md