Files
STM32F4-Base/test/board/test_config.h
T
wandering1 0f7b5a87fb chore(编号): 存量编号全量转语义短语,门禁识别面与语料同批重打
登记簿、文档与代码注释里的存量字母加数字编号(N-x / S-x / T-x / E-x / A-x / 卡号)
一律改写为语义短语,净删 2,028 处引用;删除基线与待确认、并行分道方案、排期详述、
采集保护收尾 4 篇(内容已并入 docs/任务规划/README 与登记簿)。

门禁机器与三张账同批重打:check_ids.py 新增变更记录行豁免与第二根护栏
undecidable_total_ceiling;check_test_traceability.py 只加 stdout/stderr UTF-8
reconfigure(TC_RE 未动);check_cubemx_survival.py 的 --write 固定 newline=LF;
id_registry / id_aliases(+19 条 retired-to-phrase)/ id_known_backlog 重打。

test/ 56 个文件同步 TC 标签语义化,其中 18 个 TU 改了 CHECK / printf 里的标签文字,
是本批唯一改变构建产物的文件集合。

为什么合成一笔、不拆四笔(实测撞闸,非偏好):pre-commit 跑钩子前会 stash 未 staged
部分,拆开后中间提交必然是「新规则 + 旧语料」——实跑可判定 85.15% < 基线 86.00%、
不可判定 1,453 > 上限 1,166,编号门禁直接拦下。编号识别面与它描述的语料只能同码移动。

实跑基线(工作区全量):754 文件 / 8,230 处编号字面量 / 可判定 7,079 = 86.01%
(基线 86.0%,容差 0.1pp)/ 不可判定绝对数 1,151(上限 1,166)/ 校验 1-6 错误级 0 /
告警 = 悬空 2(App/algo/freq.c 的 S2,属 §4.4 同号不同义)+ 孤儿 50。

基线从 84.0 抬到 86.0 的理由见 docs/门禁说明/id-check.md §7.6:本批真删了 2,028 处
引用,可判定面随真实内容上升,不是把分母做小。同批新增排除 docs/硬件平台/ 语料,使
识别面少 264 处——芯片手册位号与网表料号不属编号空间(registry 有 excluded_paths_note)。

⚠ 余量只剩 0.11pp(约 10 处)与绝对数 15 处:把「可判定的引用」改成散文会立刻撞第二
根护栏。另遗留一项:id_aliases 里 retired 的 N / S / T / A 别名没有 scope(U1~U5 有),
今后有人新写一个 A-4,校验 3 不会响,只能靠人,建议下批补 scope。

固件不变证据:115 个 .c/.h 剥注释并归一字符串后与 HEAD 逐字节全等,残留代码差异 0;
App / Src / Drivers 的字符串字面量零改动。@build 0 错误 0 警告;40/40 主机套件、2,889
断言全通过;覆盖率 line 89.2% / func 92.6%;pre-commit 48 钩子 --all-files 全绿;
check_doc_links --all 通过(176 文档,章节引用无法判定 0);逐字节卫生核过:14 个带
BOM 文件与 HEAD 一致、0 个 CR、0 个 U+FFFD,字符串字面量纯 ASCII。

.cubemx_survival_baseline.json 的 watchdog-module 哈希 56bf27 变 2bb051 属合法:
Src/freertos.c 的 USER CODE 区内只有注释文字随编号改写,代码未变。

同批带上体积同码凭证与 RAM 台账行(@build 之后盖戳):RW_IRAM1 79,008 B / 60.3%,
RW_CCM 57,376 B / 87.9%,阈值 92%。
2026-10-26 12:28:14 +08:00

122 lines
5.6 KiB
C
Raw Blame History

This file contains ambiguous Unicode characters
This file contains Unicode characters that might be confused with other characters. If you think that this is intentional, you can safely ignore this warning. Use the Escape button to reveal them.
/*
* 模块名称:统一测试套件选择
* 模块功能:集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
* testTask(start_test_task)调度,defaultTask 在测试
* 构建下空闲,正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
* 适用平台:STM32F4 系列
* 作者:王建锋
* 创建日期:2026-08-26
*
* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*(或都不启用 = 正常产品构建):
* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试(沿用 ch395f_test.h 阶段宏,HW 1~5 / NET 6~11)
* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试(从 defaultTask 迁入)
* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
*/
#ifndef TEST_CONFIG_H
#define TEST_CONFIG_H
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif
#include <stdint.h>
/* === 选择当前构建的测试套件(三选一,或都注释 = 正常产品构建)===
* ⚠️ 默认必须是**产品构建**(全部注释)——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
* 未显式放行的测试构建(`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`)。
* 跑套件回归时取消注释所需套件;跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
* (自动改宏 + 结束后无条件还原)。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
//#define TEST_SUITE_CH395F
//#define TEST_SUITE_STORAGE
//#define TEST_SUITE_GD5F
//#define TEST_SUITE_RTC
/* === 破坏性测试总开关(默认关闭)===
* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**,跑一次即有代价(2026-09-21 实测:GD5F 整轮
* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块,容量 95248 → 95200,且 TC-STORAGE-04 恢复不回来):
* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块(永久减少可用容量)
* - 写、擦 NAND 块(覆盖卷数据);格式化卷(nand_ftl_format / f_mkfs)
* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
* 默认关闭:套件只跑**只读与参数校验**类用例,可随时在在用设备上执行。
* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开;打开跑完建议做一次恢复。 */
//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
#error "测试套件互斥:一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
#endif
/* 派生标记:任一套件被选中时置位。**2026-10-04 起有唯一消费点**——`Src/freertos.c`
* 的 MX_FREERTOS_Init() 用它门控 testTask 的回收:产品构建下 CubeMX 生成区
* 无条件创建 testTask,随后本标记未定义 → 立即 vTaskDelete 回收其 8KB CCM 栈 + TCB,
* 避免空转占堆。testTask 的调度见 test/board/test_config.c 的 start_test_task(),
* 后者**直接按 TEST_SUITE_RTC 等宏分支**,与本标记无关——故"RTC 构建下 testTask 不被
* 创建"的旧疑点不成立(实测 RTC 套件正常执行;RTC 已计入下方析取,故 RTC 构建下本
* 标记亦置位、testTask 正常保留)。
* 4 个套件(含 RTC)在此补齐:若将来再引入"测试构建下 defaultTask 空闲"等分支而复用
* 本标记,可避免重演"漏 RTC"的隐患。详见 docs/测试说明/实机测试实施指南.md §8.3。 */
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F) || defined(TEST_SUITE_RTC)
#define TEST_SUITE_SELECTED
#endif
#ifdef TEST_SUITE_CH395F
#include "ch395f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
#include "storage_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_GD5F
/* 选中 GD5F 套件时,自动开启 gd5f 测试总开关;
* 只读阶段无条件启用,破坏性阶段(写/擦/格式化/BBT 落盘)受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
#define ENABLE_GD5F_TESTS
/* --- 只读阶段:随时可跑,不改设备状态 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记(206/207 落盘另受门控) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫(701~703/705 写擦受门控;704 只读,日常回归亦跑) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验(1003/1004 写入另受门控) */
//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验(2026-09-21 已完成:16 轮×48 读零复现;仅擦写最高一块,可随时重开) */
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
/* --- 破坏性阶段:写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语(块擦除 + 编程) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format(格式化清卷) */
#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
#endif
#include "gd5f_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
#endif
#ifdef TEST_SUITE_RTC
#include "sd2506_test.h"
#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
#endif
#ifndef TEST_SUITE_NAME
#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
#endif
/*
* 链路时延探针(M2/M3):在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3(chunk_wait)
* 测量钩子(netTask 上下文);产品构建未定义 → 钩子代码编译消失(零开销)。
* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏(上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含)。
*/
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
#define TEST_LATENCY_PROBE 1
#endif
#ifdef __cplusplus
}
#endif
#endif /* TEST_CONFIG_H */