wandering1
2055de0303
背景：L0.5 主机侧单测落地后复审测试架构，给出 6 条改进意见（P0~P3）， 登记进 docs/待处理内容.md「测试与验证基础设施」后逐条实施。 - T-1(P0) 测试套件开关门禁：新增 scripts/check_test_suite.py + pre-commit 钩子 test-suite-switch，默认要求产品构建（全部 TEST_SUITE_* 注释），跑套件回归用 --allow-test-build / ALLOW_TEST_BUILD=1 显式放行。顺带把 test_config.h 中长期 开启的 TEST_SUITE_CH395F 改回注释（仓库此前躺着的是测试固件）。 - T-2(P1) verify_log.py 增加 --require-suite-summary：要求 "=== <名称>: N/M PASSED (failed=0) ===" 且 N>0，堵住"套件没跑到汇总行/ 断言数为 0 仍判 PASS"的盲区；run_boot_test.py 同名参数透传。不传参向后兼容。 - T-3(P1) 抽取通用 harness test/host/common/unit_test_harness.py（工具链探测/ INCLUDE-LIB 拼接/wd4819/GBK 解码/退出码契约）；watchdog 运行器 170→55 行，只声明 TestBuild。 - T-4(P2) 新增 test/board/test_common.h 集中断言内核（TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL）， 4 套件各用一行宏绑定自身统计变量（保持 g_xxx_stats 独立、防跨套件串数）。 刻意不 include dbg_log.h——否则冻结 DBG_TAG 默认值触发 #47-D 重定义警告。 - T-5(P2) 新增 test/run_all_suites.py 多套件回归编排，try/finally 无条件还原套件开关。 验证：@build 产品构建 0 错 0 警；4 套件逐一构建均 0/0；看门狗单测 39/39 PASS； pre-commit 14 钩子全通过；编排脚本 dry-run/开关切换/异常还原均实测通过。
2.7 KiB
2.7 KiB
test/board/ — 板端测试套件
⚠️ 编入固件的测试代码（由 testTask 执行）。这些
.c已注册到 Keil 工程MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx，占用 MCU 的 RAM/Flash。
文件一览
| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
test_config.c/h |
测试任务配置：TEST_SUITE_* 套件选择开关（互斥）+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS |
test_common.h |
公共断言内核：test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL；各套件用一行宏绑定自身统计变量（T-4） |
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h |
CH395F 以太网（硬件层 Phase 1 |
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h |
GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h |
SD2506 RTC |
storage_test_task.c/h + storage_test.h |
存储性能 |
net_test_task.c/h |
网络层测试 |
net_latency_test.c/h |
链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |
⚠️ 构建约束（AGENTS.md 详述）
- 套件互斥：
test_config.h的TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC一次只能启用一个 （违反则#error）；全部注释 = 产品构建 - ⚠️ 测试固件不得静默提交：
TEST_SUITE_*开关受 pre-commit 钩子test-suite-switch门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交（2026-10-01 实测已提交 HEAD 里TEST_SUITE_CH395F就是开启状态，纯靠人记得改；故补此门禁）。确需提交测试构建时用ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...或python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build显式放行 - 破坏性用例默认关闭：
ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式（横幅mode: READ-ONLY），可随时在在用设备上跑 - ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量下降且需全片擦除恢复）—— 只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
- 总线独占：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F
添加新测试套件
- 在
test_config.h加开关（并入互斥#error检查） - 新建
<模块>_test_task.c/h - 注册进 Keil 工程（
<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>） - 跑回归：
@test（test/host/run_boot_test.py）
相关文档
- 测试指南：
docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md - 套件配置：
AGENTS.md「测试与验证」章 - 容量恢复：
docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md