wandering1
e0b02d397c
待办池 docs/待处理内容.md §3.2 的 10 个 P2 全部闭环；逐项落代码 + 注释说明。 P2-1 cfg_file: 受管键行超 CFG_LINE_TEST_MAX 拒绝保存（防重复键行） P2-2 ch395f: DMA 失败传播状态 + 锁存通道故障 + 读不拷不可信数据 P2-7 net_select: LISTENING 不再恒判可读（消除 select 忙轮询地雷） P2-8 time_sync: 核实 L3 pending 改写已闭环（net_recv_to 分片 + 总预算） P2-9 sys_log: 挂载改幂等 + 卷锁，defaultTask 2s 重试建 /log P2-10 sys_log: s_read_raw 纳入卷锁 try（读者/写者 unlink 互斥） P2-11 net_task: RECONFIG 改 osEventFlagsWait 原子取走 + 清除 P2-12 app_cfg: APP_*_ENABLE 如实标注为未接线占位，删“开关”说法 P2-13 freertos: 产品构建 vTaskDelete(testTask) 回收 8KB CCM 栈 P2-15 download.bat: 先删旧日志 + 增“未产出日志”判定 P2-13 用 USER CODE 区回收而非生成区 #if 门控：生成区改动会被 CubeMX 重生成覆盖，本方案重生成不丢。P2-12 因产品定义 B0 未定、APP_NET_ENABLE 无单一接线点，按修复建议备选（删“开关”说法）处理。 验证：@build 0 错 0 警；主机单测 watchdog 39/39 + sys_clock 100/100 + cfg_file 149/149（新增 TC-CFG-044）；pre-commit --all-files 17/17。
122 lines
5.6 KiB
C
122 lines
5.6 KiB
C
/*
|
||
* 模块名称：统一测试套件选择
|
||
* 模块功能：集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
|
||
* testTask（start_test_task）调度，defaultTask 在测试
|
||
* 构建下空闲，正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
|
||
* 适用平台：STM32F4 系列
|
||
* 作者：王建锋
|
||
* 创建日期：2026-08-26
|
||
*
|
||
* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*（或都不启用 = 正常产品构建）：
|
||
* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试（沿用 ch395f_test.h 阶段宏，HW 1~5 / NET 6~11）
|
||
* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试（从 defaultTask 迁入）
|
||
* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
|
||
*/
|
||
|
||
#ifndef TEST_CONFIG_H
|
||
#define TEST_CONFIG_H
|
||
|
||
#ifdef __cplusplus
|
||
extern "C" {
|
||
#endif
|
||
|
||
#include <stdint.h>
|
||
|
||
/* === 选择当前构建的测试套件（三选一，或都注释 = 正常产品构建）===
|
||
* ⚠️ 默认必须是**产品构建**（全部注释）——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
|
||
* 未显式放行的测试构建（`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`）。
|
||
* 跑套件回归时取消注释所需套件；跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
|
||
* （自动改宏 + 结束后无条件还原）。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
|
||
//#define TEST_SUITE_CH395F
|
||
//#define TEST_SUITE_STORAGE
|
||
//#define TEST_SUITE_GD5F
|
||
//#define TEST_SUITE_RTC
|
||
|
||
/* === 破坏性测试总开关（默认关闭）===
|
||
* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**，跑一次即有代价（2026-09-21 实测：GD5F 整轮
|
||
* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块，容量 95248 → 95200，且 TC-STO-04 恢复不回来）：
|
||
* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块（永久减少可用容量）
|
||
* - 写、擦 NAND 块（覆盖卷数据）；格式化卷（nand_ftl_format / f_mkfs）
|
||
* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
|
||
* 默认关闭：套件只跑**只读与参数校验**类用例，可随时在在用设备上执行。
|
||
* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开；打开跑完建议做一次恢复。 */
|
||
//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
|
||
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
|
||
#error "测试套件互斥：一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
|
||
#endif
|
||
|
||
/* 派生标记：任一套件被选中时置位。**2026-10-04 起有唯一消费点**——`Src/freertos.c`
|
||
* 的 MX_FREERTOS_Init() 用它门控 testTask 的回收（P2-13）：产品构建下 CubeMX 生成区
|
||
* 无条件创建 testTask，随后本标记未定义 → 立即 vTaskDelete 回收其 8KB CCM 栈 + TCB，
|
||
* 避免空转占堆。testTask 的调度见 test/board/test_config.c 的 start_test_task()，
|
||
* 后者**直接按 TEST_SUITE_RTC 等宏分支**，与本标记无关——故"RTC 构建下 testTask 不被
|
||
* 创建"的旧疑点不成立（实测 RTC 套件正常执行；RTC 已计入下方析取，故 RTC 构建下本
|
||
* 标记亦置位、testTask 正常保留）。
|
||
* 4 个套件（含 RTC）在此补齐：若将来再引入"测试构建下 defaultTask 空闲"等分支而复用
|
||
* 本标记，可避免重演"漏 RTC"的隐患。详见 docs/测试说明/实机测试实施指南.md §8.3。 */
|
||
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F) || defined(TEST_SUITE_RTC)
|
||
#define TEST_SUITE_SELECTED
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef TEST_SUITE_CH395F
|
||
#include "ch395f_test.h"
|
||
#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
|
||
#include "storage_test.h"
|
||
#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef TEST_SUITE_GD5F
|
||
/* 选中 GD5F 套件时，自动开启 gd5f 测试总开关；
|
||
* 只读阶段无条件启用，破坏性阶段（写/擦/格式化/BBT 落盘）受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
|
||
#define ENABLE_GD5F_TESTS
|
||
|
||
/* --- 只读阶段：随时可跑，不改设备状态 --- */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记（206/207 落盘另受门控） */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫（701~703/705 写擦受门控；704 只读，日常回归亦跑） */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验（1003/1004 写入另受门控） */
|
||
//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验（2026-09-21 已完成：16 轮×48 读零复现；仅擦写最高一块，可随时重开） */
|
||
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
/* --- 破坏性阶段：写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语（块擦除 + 编程） */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format（格式化清卷） */
|
||
#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
|
||
#endif
|
||
|
||
#include "gd5f_test.h"
|
||
#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef TEST_SUITE_RTC
|
||
#include "sd2506_test.h"
|
||
#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifndef TEST_SUITE_NAME
|
||
#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
|
||
#endif
|
||
|
||
/*
|
||
* 链路时延探针（M2/M3）：在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3（chunk_wait）
|
||
* 测量钩子（netTask 上下文）；产品构建未定义 → 钩子代码编译消失（零开销）。
|
||
* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏（上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含）。
|
||
*/
|
||
#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
|
||
(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
|
||
#define TEST_LATENCY_PROBE 1
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef __cplusplus
|
||
}
|
||
#endif
|
||
|
||
#endif /* TEST_CONFIG_H */
|