super_agent_bot
5538af829b
根因（真机定案，问题 #79）：旧 dhara_nand_erase/prog() 把一切失败一律 mark_bad，而 mark_block_bad 每次**立即持久化**板级 BBT（不可撤销）—— 一次传输层/等忙抖动就把好块永久记成坏块。台架 129 个好块（1016–1142 连续段）被固化，journal prepare_head() 连续 8 次撞 is_bad → TOO_BAD → Cache flush FAIL → reformat 又被同一页挡住 → 整卷禁用、重启不恢复。 - 修复①：只有芯片明确回 E_FAIL/P_FAIL（状态位证据）才标坏； 传输/超时失败只报 DHARA_E_BAD_BLOCK 让 dhara 重试，不标坏 - 修复②：nand_ftl_format() 尽力刷一次脏缓存，失败即丢弃并继续 dhara_map_clear()（格式化语义本就是销毁映射；旧实现第一步返回， 恢复动作在同一页死锁，f_mkfs 全在旧映射上必失败） - C4 还债：新增跨调用失败类快照 nand_ftl_fault_get/clear（20 B， resume/读/刷/同步四点位记账）；defaultTask 探针按类分流， BSP_ERR_NO_SPACE 跳过重格式化（容量问题不该用 mkfs 解） - 哨兵与诊断：init 解锁块保护（A0h）后补回读校验（与 B0h ECC 同族 缺口，实测本板 A0h=0，非本次根因，留作哨兵）；gd5f_bbt_load() 合并后坏块数 > 出厂扫描时打「BBT after merge」，现场可区分 真坏与误标固化 - 测试：主机单测 149→178 全绿；新增 format 死锁（TC-NANDPORT-800.. 813b）、传输失败不标坏（207 语义翻转 + 208/505）；牙齿检查过—— 把修复回退即见红 - 真机：恢复动作 A 重建 BBT 清除已固化误标（3/3 PASSED，BBT version=71）；产品镜像复烧 [FS] FATFS mounted、配置出厂模板 落盘、0 条 flush FAIL——#79 真机闭环（旧卷内容随 map clear 作废，台架卷为可弃数据） - 文档：存储架构说明 §10.4 口径修正 + 新增 §10.4.1/§10.4.2（页级 失败升级链与误标持久化机理），存储维护与容量恢复 §2 补板级 BBT 独立持久化注记 + §2.1（动作 A 此前静默失效），登记簿 C4 销项 - Keil 0 错 0 警（Code=255552，与烧录验证镜像一致）；doc-links 213 文档通过
test/board/ — 板端测试套件
⚠️ 编入固件的测试代码（由 testTask 执行）。这些
.c已注册到 Keil 工程MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx，占用 MCU 的 RAM/Flash。
文件一览
| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
test_config.c/h |
测试任务配置：TEST_SUITE_* 套件选择开关（互斥）+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS |
test_common.h |
公共断言内核：test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL；各套件用一行宏绑定自身统计变量 |
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h |
CH395F 以太网（硬件层 Phase 1 |
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h |
GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h |
SD2506 RTC |
storage_test_task.c/h + storage_test.h |
存储性能 |
net_test_task.c/h |
网络层测试 |
net_latency_test.c/h |
链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |
⚠️ 构建约束（AGENTS.md 详述）
- 套件互斥：
test_config.h的TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC一次只能启用一个 （违反则#error）；全部注释 = 产品构建 - ⚠️ 测试固件不得静默提交：
TEST_SUITE_*开关受 pre-commit 钩子test-suite-switch门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交（2026-10-01 实测已提交 HEAD 里TEST_SUITE_CH395F就是开启状态，纯靠人记得改；故补此门禁）。确需提交测试构建时用ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...或python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build显式放行 - 破坏性用例默认关闭：
ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式（横幅mode: READ-ONLY），可随时在在用设备上跑 - ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量下降且需全片擦除恢复）—— 只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
- 总线独占：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F
添加新测试套件
- 在
test_config.h加开关（并入互斥#error检查） - 新建
<模块>_test_task.c/h - 注册进 Keil 工程（
<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>） - 跑回归：
/serial-boot-test（.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py）
相关文档
- 测试指南：
docs/测试说明/板级测试/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md - 套件配置：
AGENTS.md「测试与验证」章 - 容量恢复：
docs/测试说明/专项验证/存储维护与容量恢复.md