wandering1
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步骤 3/4（IWDG V2/V4/V5 + 堆低水位 S11）：
- V2 任务饿死 stall 后 ≤2.5s IWDG 复位；V4 关中断死循环 ~4.9s 稳定复位；
V5 30min 120×FTP 全 PASS、零 IWDG 复位。堆告警全程未触发（min_ever=4728B）。
- task_watchdog.c：stall 证据写盘会经 nand_ftl_wd_feed 喂狗 → 增 s_stall_evidenced
每次 stall 仅取一次证据，避免"取证据"本身阻止复位。
- default_task.c：堆低水位告警（HEAP_LOW_WATER_B=3072）。
步骤 5（GD5F 错误通道 S9）：gd5f2gq5ue.c/.h + nand_ftl.c 错误码统一为 int32_t 并
全量检查返回值；套件回归 16/16 PASSED。
- test/run_all_suites.py：--forbidden 改为按套件覆盖（GD5F 用 "HardFault;assert"）——
TC-GD5F-704 故意触发 [ERR] 回落轮询，统一默认值会误判 FAIL。
步骤 6（网络稳定性）：7.1 正常路径 ✅（V5 证据）；7.2 N-2 丢弃可观测性代码已具备、
49s 静默在 V5 未复现（降级低风险观察项）；7.3 N-3 待 PC peer。
步骤 7（工程卫生）：
- S5：新增 test-cppcheck 钩子（仅 warning，排除模拟器桩）。
- S4：新增 scripts/check_test_traceability.py（默认仅告警）。
- 待核实项 TEST_SUITE_SELECTED 实机核实 = 死代码（无使用点）；RTC 套件实际正常执行，
真缺口 = 缺套件级汇总行 → sd2506_test_task.c 补 === RTC Tests: N/M PASSED === 并
修正 Phase 级汇总累计问题；test_config.h 补齐 RTC 并注释"当前无引用"。
验证：产品 @build 0/0；pre-commit --all-files 17/17 Passed；
run_all_suites.py --suites RTC → PASS。
文档：实机测试实施指南 / SD2506_Test_Guide / 待处理内容 / 测试与架构改进建议 同步。
test/board/ — 板端测试套件
⚠️ 编入固件的测试代码（由 testTask 执行）。这些
.c已注册到 Keil 工程MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx，占用 MCU 的 RAM/Flash。
文件一览
| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
test_config.c/h |
测试任务配置：TEST_SUITE_* 套件选择开关（互斥）+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS |
test_common.h |
公共断言内核：test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL；各套件用一行宏绑定自身统计变量（T-4） |
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h |
CH395F 以太网（硬件层 Phase 1 |
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h |
GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h |
SD2506 RTC |
storage_test_task.c/h + storage_test.h |
存储性能 |
net_test_task.c/h |
网络层测试 |
net_latency_test.c/h |
链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |
⚠️ 构建约束（AGENTS.md 详述）
- 套件互斥：
test_config.h的TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC一次只能启用一个 （违反则#error）；全部注释 = 产品构建 - ⚠️ 测试固件不得静默提交：
TEST_SUITE_*开关受 pre-commit 钩子test-suite-switch门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交（2026-10-01 实测已提交 HEAD 里TEST_SUITE_CH395F就是开启状态，纯靠人记得改；故补此门禁）。确需提交测试构建时用ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...或python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build显式放行 - 破坏性用例默认关闭：
ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式（横幅mode: READ-ONLY），可随时在在用设备上跑 - ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量下降且需全片擦除恢复）—— 只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
- 总线独占：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F
添加新测试套件
- 在
test_config.h加开关（并入互斥#error检查） - 新建
<模块>_test_task.c/h - 注册进 Keil 工程（
<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>） - 跑回归：
@test（test/host/run_boot_test.py）
相关文档
- 测试指南：
docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md - 套件配置：
AGENTS.md「测试与验证」章 - 容量恢复：
docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md