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步骤 3/4(IWDG V2/V4/V5 + 堆低水位 S11):
- V2 任务饿死 stall 后 ≤2.5s IWDG 复位;V4 关中断死循环 ~4.9s 稳定复位;
V5 30min 120×FTP 全 PASS、零 IWDG 复位。堆告警全程未触发(min_ever=4728B)。
- task_watchdog.c:stall 证据写盘会经 nand_ftl_wd_feed 喂狗 → 增 s_stall_evidenced
每次 stall 仅取一次证据,避免"取证据"本身阻止复位。
- default_task.c:堆低水位告警(HEAP_LOW_WATER_B=3072)。
步骤 5(GD5F 错误通道 S9):gd5f2gq5ue.c/.h + nand_ftl.c 错误码统一为 int32_t 并
全量检查返回值;套件回归 16/16 PASSED。
- test/run_all_suites.py:--forbidden 改为按套件覆盖(GD5F 用 "HardFault;assert")——
TC-GD5F-704 故意触发 [ERR] 回落轮询,统一默认值会误判 FAIL。
步骤 6(网络稳定性):7.1 正常路径 ✅(V5 证据);7.2 N-2 丢弃可观测性代码已具备、
49s 静默在 V5 未复现(降级低风险观察项);7.3 N-3 待 PC peer。
步骤 7(工程卫生):
- S5:新增 test-cppcheck 钩子(仅 warning,排除模拟器桩)。
- S4:新增 scripts/check_test_traceability.py(默认仅告警)。
- 待核实项 TEST_SUITE_SELECTED 实机核实 = 死代码(无使用点);RTC 套件实际正常执行,
真缺口 = 缺套件级汇总行 → sd2506_test_task.c 补 === RTC Tests: N/M PASSED === 并
修正 Phase 级汇总累计问题;test_config.h 补齐 RTC 并注释"当前无引用"。
验证:产品 @build 0/0;pre-commit --all-files 17/17 Passed;
run_all_suites.py --suites RTC → PASS。
文档:实机测试实施指南 / SD2506_Test_Guide / 待处理内容 / 测试与架构改进建议 同步。
120 lines
5.4 KiB
C
120 lines
5.4 KiB
C
/*
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* 模块名称:统一测试套件选择
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* 模块功能:集中选择当前构建要运行的测试套件。所有测试统一由
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* testTask(start_test_task)调度,defaultTask 在测试
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* 构建下空闲,正常产品构建下仅运行存储挂载/测试。
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* 适用平台:STM32F4 系列
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* 作者:王建锋
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* 创建日期:2026-08-26
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*
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* 一次构建仅启用一个 TEST_SUITE_*(或都不启用 = 正常产品构建):
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* TEST_SUITE_CH395F : CH395F 测试(沿用 ch395f_test.h 阶段宏,HW 1~5 / NET 6~11)
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* TEST_SUITE_STORAGE : FTL + FatFS 存储测试(从 defaultTask 迁入)
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* TEST_SUITE_GD5F : GD5F2GQ5UE NAND 驱动测试
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*/
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#ifndef TEST_CONFIG_H
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#define TEST_CONFIG_H
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#ifdef __cplusplus
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extern "C" {
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#endif
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#include <stdint.h>
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/* === 选择当前构建的测试套件(三选一,或都注释 = 正常产品构建)===
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* ⚠️ 默认必须是**产品构建**(全部注释)——pre-commit 钩子 `test-suite-switch` 会拦截
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* 未显式放行的测试构建(`--allow-test-build` / `ALLOW_TEST_BUILD=1`)。
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* 跑套件回归时取消注释所需套件;跑完务必改回、或直接用 `test/run_all_suites.py`
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* (自动改宏 + 结束后无条件还原)。详见 docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.1/§3.6。 */
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//#define TEST_SUITE_CH395F
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//#define TEST_SUITE_STORAGE
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//#define TEST_SUITE_GD5F
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//#define TEST_SUITE_RTC
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/* === 破坏性测试总开关(默认关闭)===
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* 破坏性用例会改变设备的**持久状态**,跑一次即有代价(2026-09-21 实测:GD5F 整轮
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* 破坏性用例跑一次即消耗一个 NAND 块,容量 95248 → 95200,且 TC-STO-04 恢复不回来):
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* - 向 BBT 持久化坏块标记 / 注入坏块(永久减少可用容量)
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* - 写、擦 NAND 块(覆盖卷数据);格式化卷(nand_ftl_format / f_mkfs)
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* - FatFS 建文件、写文件、性能压测
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* 默认关闭:套件只跑**只读与参数校验**类用例,可随时在在用设备上执行。
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* 仅在**产品首次上电/产线首启**或明确需要时打开;打开跑完建议做一次恢复。 */
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//#define ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) + defined(TEST_SUITE_STORAGE) + defined(TEST_SUITE_GD5F) + defined(TEST_SUITE_RTC) > 1
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#error "测试套件互斥:一次构建只能启用一个 TEST_SUITE_*"
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#endif
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/* 派生标记:当前**仅作语义标记,全仓无任何代码引用**(2026-10-03 实机核实:
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* grep 全仓仅本文件有定义,无使用点)。testTask 的创建与调度见 Src/freertos.c
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* (无条件创建 testTask)+ test/board/test_config.c 的 start_test_task(),后者**直接
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* 按 TEST_SUITE_RTC 等宏分支**,与本标记无关——故"RTC 构建下 testTask 不被创建"
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* 的旧疑点不成立(实测 RTC 套件正常执行)。
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* 4 个套件(含 RTC)在此补齐:若将来真引入"测试构建下 defaultTask 空闲"等分支而复用
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* 本标记,可避免重演"漏 RTC"的隐患。详见 docs/测试说明/实机测试实施指南.md §8.3。 */
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) || defined(TEST_SUITE_STORAGE) || defined(TEST_SUITE_GD5F) || defined(TEST_SUITE_RTC)
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#define TEST_SUITE_SELECTED
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_CH395F
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#include "ch395f_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "CH395F"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_STORAGE
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#include "storage_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "STORAGE"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_GD5F
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/* 选中 GD5F 套件时,自动开启 gd5f 测试总开关;
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* 只读阶段无条件启用,破坏性阶段(写/擦/格式化/BBT 落盘)受 ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS 门控 */
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#define ENABLE_GD5F_TESTS
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/* --- 只读阶段:随时可跑,不改设备状态 --- */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS /* init / read_id / reset */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS /* BBT 读取与 RAM 内标记(206/207 落盘另受门控) */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS /* DMA 边界与守卫(701~703/705 写擦受门控;704 只读,日常回归亦跑) */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS /* 越界与 size=0 参数校验(1003/1004 写入另受门控) */
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现实验(2026-09-21 已完成:16 轮×48 读零复现;仅擦写最高一块,可随时重开) */
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#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
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/* --- 破坏性阶段:写/擦页与块、格式化、FatFS 写入 --- */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS /* 页/跨页/多页读写 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS /* 块擦除 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS /* ECC 写读 */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS /* SPI 原语(块擦除 + 编程) */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS /* FTL init + nand_ftl_format(格式化清卷) */
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#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS /* FatFS 挂载 + 写文件 */
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#endif
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#include "gd5f_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "GD5F"
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#endif
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#ifdef TEST_SUITE_RTC
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#include "sd2506_test.h"
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#define TEST_SUITE_NAME "RTC"
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#endif
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#ifndef TEST_SUITE_NAME
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#define TEST_SUITE_NAME "NONE"
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#endif
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/*
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* 链路时延探针(M2/M3):在 net_socket.c 发送分块循环内定义 L3(chunk_wait)
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* 测量钩子(netTask 上下文);产品构建未定义 → 钩子代码编译消失(零开销)。
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* 依赖 ch395f_test.h 的 Phase 宏(上方 TEST_SUITE_CH395F 块内已包含)。
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*/
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#if defined(TEST_SUITE_CH395F) && \
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(defined(ENABLE_PHASE13_TESTS) || defined(ENABLE_PHASE14_TESTS))
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#define TEST_LATENCY_PROBE 1
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#endif
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#ifdef __cplusplus
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}
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#endif
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#endif /* TEST_CONFIG_H */
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