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STM32F4-Base/test/board
wandering1 b7c0889cc7 refactor(编号·批次二): 代码与测试侧 215 处保护功能号改成功能名,零行为改动
用户裁定「不要用字母加数字的编号,语义标识是最好的」后的批次二代码半(道 ui-param 执行,逐文件站点数与
自证见其交付)。唯一口径 = 映射表 ci-artifacts/lprot_map.tsv 的功能名列原文,**零自造同义词**;L2.5 与
L-TEST 经实测各 0 处(不是本族),TC 族一字未动。

固件 22 文件 128 处(adc_task.c 21、phasor.c 22、phasor.h 13…),主机测试 13 文件 87 处(pha
sor_test.c
57…);设计文档指针新增 19 行,另 16 只文件本来就写着规划文档 ⇒ 不重复加。

**两条只有真改过 215 处才会踩到的坑,都写进注释规范实践**:
· 指针**不能接在原句尾部**——那会替原文一个未闭合的半括号封口,实测咬坏 App/algo/sample_ring.h 这类
  跨行句 ⇒ 指针一律**单独成行**;
· 号删掉会留下**叠词**(「自检失败闭锁 闭锁判定」「定值校验和 定值巡检」)⇒ 复扫并收口 4 处,措辞只用
  映射名本身;具体对象需要留住时写成「自检失败闭锁(采样故障闭锁)」。

自证(不靠嘴说):改前把 35 只文件原文备份到仓外 temp,逐文件比 `/*`、`*/` 计数、三类括号计数、行数增量
恰等于指针行数、全角括号增删相等、残留号 0 ⇒ **35/35 通过**;Lead 复核后跑权威 @build **0 错 0 警**,
Program Size `Code=233900 RO=26104 RW=1536 ZI=136808` —— **与三条道各自改前改后测的四数逐
字节同数**,
这就是「只动注释与文本」的机器证据;八套主机单测 exit 0,cppcheck 按钩子参数零发现,coding-standard 0。

文件头「修改记录」里的号**一并换名、不还原**(Lead 裁定):这些号是全仓退役的,留一个查无此号的引用比
留一条改过名的条目更坏——「冻结历史不回改」保护的是**别替历史改口**,不是保护一个再也查不到的字符串;
id-check 对变更记录行本就豁免,两种选择都不影响门禁。
2026-10-27 08:59:26 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md