Files
STM32F4-Base/test
wandering1 9f826dbb4d fix(protect): 采样陈旧时独立闭锁保护(判定层失明的兜底门)
问题:L5-4 闭锁读的 adc_health_flags() 只有 adcTask 每拍跑
adc_health_check() 才可能置位。TIM3 一停,adcTask 就永久阻塞在
osThreadFlagsWait(刻意的 fail-safe),check() 不再执行 → stall 位
永远是 0,而 protectTask 仍每 20 ms 拿冻在最后一帧的相量继续判据。
窗口最坏约 800 ms(停喂阈值)+ 2498 ms(IWDG 标称)≈ 3.3 s。

方案:保护侧建一条与消费者存活完全解耦的兜底新鲜度门。
- adc_health.c/h 新增 adc_health_age_stale():无模块状态的纯判据,
  参照系 adc_health_age_t 由调用方自存。故意不让 protectTask 去调
  adc_health_check()——那是「每拍一次、单写者」的契约,两个上下文
  同写会互相刷新差值基线,把现有判定层一起弄坏。
- 新增 ADC_HF_STALE = bit8(与判定层 bit0..bit7 位段错开)。本位
  不由判定层写、不进 sticky、不进编排层 logged 位图。
- protect_task.c 用自己的时基直接读两个**中断侧递增**的计数器
  (tpafe5160_frame_seq / adc_input_stm32_seq),并入掩码。两条车道
  各自一份 primed:共用会让先观测的那条把标志置 1,另一条首拍拿
  adv_ms = 0 算年龄 → 开机即误锁保护。
- 门限 PROT_STALE_AGE_MS = 100 + 20 = 120 ms,买的是时序阶梯:
  判定层活着时它先报 0x1/0x2(带日志与自检留痕),死了只出现
  0x100。闭锁最迟 140 ms,仍远小于最小动作延时(默认 1000 ms)。

实测:
- @build 0 错 0 警:Code 213424 → 213520(+96 B);ZI 131480 →
  131504(+24 B = 两份 age 结构);RW-data 1184 不变
- stack_report:protectTask 静态最坏链 872 B 不变(余 1176 B / 57%)、
  adcTask 1320 B 不变——新判据无日志,不进最坏链
- 主机单测 45/45(新增 TC-ADCHEALTH-012..017 共 14 条断言:首拍只建
  基线 / 超拍不判老 / 门限含等号 / 跨 tick 回绕 / 倒退按分工不判老 /
  双观察者互不污染 / 空参数不判老)
- 台架注入(一次性停 TIM3 300 ms 探针,验完已撤;探针固件与最终
  固件 Program Size 逐字节相同):
  [+5462ms] [ERR][PROT] sampling FAULT -> protection blocked (hf=0x00000100)
  [+5757ms] [PROT] sampling recovered -> protection resumed
  同次开机 [ADC_TASK] health: 出现 0 次;MISS 快照缺的正是 bit6
  (0x1F7 - 0x1B7 = 0x40,实证 adcTask 当时确实阻塞,不是"在跑但没报");
  reset cause: 仅 1 次(300 ms 被 800 ms 容忍吸收,闭锁不靠复位)
  证据 docs/测试说明/boot_log_data/20261021_probe_stale_gate_boot_log.txt
- 字节卫生:BOM 无 / CR 0 / U+FFFD 0;新增行无非法字面量

gate: only mem-budget/mem-numbers pending lead ledger backfill
pre-commit run --all-files 失败仅这两条(台账受管快照与本树 .map 的
Flash/RAM 水位漂移,即本次 +96 B Code、+24 B ZI)。按并行分支约定
本分支不跑 --write,台账由 Lead 合并后统一回填。

文档同步:设计说明新增 §15(原相关文档改 §16),§7 位表加 bit8 行、
§8 责任矩阵与「已知窗口」段改写为已闭合、§10 盲区第 3 条、§11 用例
表、§12 判读手册、§14 改前清单全部跟上;位图配图补 bit8 列,并修掉
生成器把列数硬编码成 8 列导致新列被备注框盖住的问题。
2026-10-22 00:43:32 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(S6;不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — L0~L3 分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md