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STM32F4-Base/test
wandering1 506eccc68f docs: 错误码传播审计收口并删除该文档(E-xx 转历史编号族)
本次会话先后销项与关闭:
- E-61 SD2506 清 INTAF:原实现只读取 CTR1,而按手册 ARST=0 时读操作
  不清标志,属空操作;改为读-改-写 CTR1,并按手册订正 CTR1 位宏
  (INTAF/INTDF/BLF 位置,ARST 归 CTR3)
- E-16 cfg_file:新增 CFG_FILE_MAX_NAME_LEN(段名/键名 ≤15),注册时
  拒绝超长键名;s_gen_document 两处 snprintf 改检查式;补 TC-CFG-024
  用例(主机单测 149→151 PASSED)
- E-23 TC704:PHASE7_MULTI_COUNT 8→5(并发上限 = 8 − 3 个常驻监听),
  accept 失败分支加网络代次检查(网络重建即重建监听)
- E-26(UDP)按“保留 API + 文档定案”关闭;E-30 评估为不必要后关闭;
  N-4(ACCEPT 决定不实施)关闭

审计文档剩余 5 项 P2 + 2 项监督,经用户裁定“都不重要”后整体删除:
- 删除 docs/问题记录/错误码传播审计.md(634 行)
- 九类缺陷模式表迁入 docs/编号规范.md §4.2.1(PAT-01~09)
- E-xx 转为纯历史编号族:编号规范 §4.1 属主改“无(原属主已删除)”,
  §4.3 保持冻结;全仓 26 处引用按“保留编号、去悬空文档名”处理
- 顺带修正 N-4 收口遗留:排期详述 C1 才是 E-25/E-27/E-28 的承载处
  (审计 §4 曾误写为登记簿);README 两处 C1 旧名改回“net 层跨上下文收口”

一并提交此前遗留的体系层评审报告 2026-10-14 复核 WIP(六维评分复核、
未闭环 Top 5→3、三区水位实测刷新)。

校验:Keil 构建 0 错误 0 警告(Code=212344);check_doc_links
--sections-strict 与 --all(142 文档)通过;内存双台账刷新后均 PASS。
2026-10-15 07:39:38 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(S6;不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — L0~L3 分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md