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STM32F4-Base/test/board
wandering1 bda7ab2b50 refactor(编号): 16 个测试模块码单词化 + 门禁识别面连带放宽
批 2(用户授权改名 + 「新名要一眼看懂」裁定)
- 16 个有歧义模块码单词化,共 1,146 处随 scripts/rename_ids.py 改写:
  AI→ADCIN、AH→ADCHEALTH、PS→PROTSET、PE→PROTELEM、PH→PHASOR、
  TS→TIMESYNC、VL→VOLLOCK、NP→NANDPORT、CFG→CONFIG、CLK→SYSCLK、
  WD→WATCHDOG、STO→STORAGE、SH→SHA256、FA→FTPAUTH、FR→FREQ、104→IEC104
- 不动 NET/GD5F/RTC/SOE/UI/ADC/LOG/RS485/TOOL(已是单词、芯片名或业界通用词,
  改了纯属 churn)
- 别名按全局登记:这批字面量已完全限定(TC-<码>-<nnn>),不存在裸形多义
- 映射表存档 scripts/rename_maps/batch2.json 作审计轨迹;§6 模块码表同步

连带修门禁(关键教训)
- 模块码涨到 9 位(ADCHEALTH/WATCHDOG)后,候选正则与族正则的 {0,4} 上界
  会让改名后的号**整批从门禁眼里消失**:实测编号字面量从 8271 掉到 7315、
  悬空假降 490 处。已放宽到 {0,9} 并写进 §6 注记
- 结论:改名批次必须连带复核识别面,只改数据不改判据 = 静默放行;
  这次是靠「可判定比例跌破基线即失败」那条线拦下来的

现状与遗留
- 校验 1 未登记前缀 0 处;可判定比例 82.71%(基线 82.6%,只涨不跌成立)
- 遗留:7 个模块的「单元测试说明.md」仍缺(PROTSET 116、NANDPORT 109、
  PROTELEM 65、FREQ 48、FTPAUTH 45、SHA256 25、SOE 14 处悬空)——改名不解决
  缺文档,处置方式待议
- 遗留:T-2/T-3/T-4/T-6 历史任务号悬空(别名表未收全,属本工具批次漏项)
- 未改任何 C/H 可编译语义(仅注释与宏名内的编号),故不需 @build
2026-10-21 09:53:28 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4)
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md