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STM32F4-Base/test/board
wandering1 d07a9a4d67 docs(P1-10): sync 追平后补记四档复测数字(产品基线已前进,旧注保留)
sync 到 59da40b / 891ca81 之后重测四档 CH395F 配置(全部 0 错误 0 警告、链接通过):
  默认 11/14   Code=219,112  RW_IRAM1 78,072 B 59.6%   距 92% 线 42,514 B
  NET 全开     Code=220,636  RW_IRAM1 85,688 B 65.4%   距线 34,898 B
  HW 全开      Code=230,900  RW_IRAM1 91,088 B 69.5%   距线 29,498 B(最坏态)
  HW 无 PC     Code=216,888  RW_IRAM1 78,808 B 60.1%   距线 41,778 B
产品基线同期前进到 Code=215,744 / RO=21,396 / RW=1,224 / ZI=131,984,RW_IRAM1
75,784 B / 57.82%(与 lead 信号里给的主干数字逐项相同)。04 点那组旧记录按"历史
不追改"原则留着,只标注基线已前进;两组差值都在 +136~+152 B,来自新增 adc_cal 的
数据段,所以**结论不变**:最坏态仍余约 29 KB,不需要把 scatter 扩到 192 KB。
PHASE5 三块静态缓冲依旧在链上(hw_full 的 ch395f_test_task.o 数据段仍 12,285 B)。

四档复测都走**朴素行注释切换**(改宏 = 行首加/去 //),顺带二次确认 16917bf 修
的开关行注释陷阱没有复发。跑完 test_config.h 与 ch395f_test.h 均按字节还原,
产品固件重建后回到基线数字。

RAM 增量:0 B(纯注释)。gate:test-cppcheck / id-check / no-mojibake /
trailing-whitespace / end-of-file-fixer / doc-links / mem-budget 全 0;
未用 --no-verify。
2026-10-25 05:50:45 +08:00
..

test/board/ — 板端测试套件

⚠️ 编入固件的测试代码(由 testTask 执行)。这些 .c 已注册到 Keil 工程 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx,占用 MCU 的 RAM/Flash。

文件一览

文件 测试对象 / 作用
test_config.c/h 测试任务配置:TEST_SUITE_* 套件选择开关(互斥)+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
test_common.h 公共断言内核:test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL;各套件用一行宏绑定自身统计变量(T-4)
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h CH395F 以太网(硬件层 Phase 15 / NET 层 Phase 611)
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h SD2506 RTC
storage_test_task.c/h + storage_test.h 存储性能
net_test_task.c/h 网络层测试
net_latency_test.c/h 链路时延探针(DWT CYCCNT 时基,MCU 专属)

⚠️ 构建约束(AGENTS.md 详述)

  • 套件互斥:test_config.h 的 TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC 一次只能启用一个 (违反则 #error);全部注释 = 产品构建
  • ⚠️ 测试固件不得静默提交:TEST_SUITE_* 开关受 pre-commit 钩子 test-suite-switch 门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交(2026-10-01 实测已提交 HEAD 里 TEST_SUITE_CH395F 就是开启状态,纯靠人记得改;故补此门禁)。确需提交测试构建时用 ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ... 或 python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build 显式放行
  • 破坏性用例默认关闭:ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS(默认注释)控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式(横幅 mode: READ-ONLY),可随时在在用设备上跑
  • ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块(容量下降且需全片擦除恢复)—— 只在产线首启或明确需要时打开
  • CH395F 套件:硬件层与 NET 层模式互斥
  • 总线独占:CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起,testTask 独占 CH395F

添加新测试套件

  1. 在 test_config.h 加开关(并入互斥 #error 检查)
  2. 新建 <模块>_test_task.c/h
  3. 注册进 Keil 工程(<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>)
  4. 跑回归:@test(.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py)

相关文档

  • 测试指南:docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md
  • 套件配置:AGENTS.md「测试与验证」章
  • 容量恢复:docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md