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新增 App/algo/adc_input.c/h（L1 采集与预处理层，落实 L1-3/L1-4）：
- L1-4 语义通道映射表 k_adc_map[]：UA/UN/IA → TPAFE buf[6]/[5]/[2]；
UB/UC/IB/IC/IN/TEMP → STM32 ADC1 CH14/3/6/1/2/5。消费侧一律经
adc_input_raw() 按语义取数，不写死下标（V0.2 改版只改表内容）。
- L1-3 STM32 ADC1 9 通道软件触发顺序扫描：HAL_ADC_Start + 逐通道
PollForConversion/GetValue（EOC_SINGLE_CONV + 无 DMA，可逐通道轮询）。
- adc_input_poll() 统一"TPAFE 原子快照 + STM32 扫描"；
adc_input_init() 做映射自检（STM32 映射通道必落在扫描序列内，否则
返回 -1），挡住"映射到不扫描的通道 → 恒读陈旧值"的静默错。
集成：
- adc_task.c 取数改走 L1 层（首帧日志补全 8 路 + 温度；心跳增
adc1_rc/adc1_err 观测 STM32 侧健康度）。
- app_main.c 在 tpafe5160_init() 之后调 adc_input_init()，失败记
SYSLOG_SELFTEST("ADC map fault")。
- Keil 工程挂 adc_input.c 并加 ../App/algo 包含路径。
- 文档同步：继电保护规划 §1.2/§3.1（L1-3/L1-4 改 ✅）、ADC通道映射说明
§7/§8/§9、产品需求 §5.9/§9、架构总览 §7、AGENTS.md、App/README.md、
App/task/README.md、新增 App/algo/README.md、boot_log_data 清单。
验证：
- @build 0 错 0 警；镜像无源文件新于 hex。
- 台架 @test PASS：ADC input layer init OK、adc1_rc=0/adc1_err=0
（30 s ≈27 万次转换零超时）、seq 仍 1000.0 Hz、adc 栈峰值
528→584 B（余 71%）、回读一致、零 [ERR]/HardFault。
证据 docs/测试说明/boot_log_data/20261010_prod_adc_l1_boot_log.txt
- 内存快照已刷新（Flash 269,404→270,712 B）。
App/algo/ — 采集与算法层（L1 / L2）
自研代码，属
docs/算法/继电保护功能复现规划.md§2.1 分层中的 L1（采集与预处理） 与 L2（相量计算，拟）。原则：算法与 I/O 分离——本层不碰寄存器、不碰任务调度， 只做"数"（码值 → 工程量）与"相量"（工程量 → 复相量），从而可成为主机侧单元测试 （L0.5）的天然适格对象（落实登记簿 A-4）。
现有模块
| 文件 | 层 | 职责 |
|---|---|---|
adc_input.c/h |
L1 | ADC 输入层：① 语义通道映射（L1-4）——UA/UB/UC/UN/IA/IB/IC/IN/温度 → 物理通道，消费侧按语义取数、不写死下标；② STM32 ADC1 9 通道软件触发顺序扫描（L1-3）；③ TPAFE5160 原子快照消费 |
关键约定
- 语义映射的唯一权威口径是
docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md（V0.1 有 13/17 路被置换， 网名编号 ≠ 通道号）。V0.1 上 8 路电气量分属两片转换器（硬件缺陷 N-18）：UA/UN/IA在 TPAFE5160、UB/UC/IB/IC/IN在 STM32 ADC1。V0.2 改版只改映射表内容，本层 API 与上层语义不动。 - 取数一律经
adc_input_raw()（按语义），禁止在消费侧直接索引驱动缓冲或写死下标。 - 本层不做跨转换器的相位 / 功率 / 功率因数 / 矢量类运算（V0.1 硬件缺陷 N-18 限制）。
相关文档
- 通道映射权威口径：
docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md - 分层与路线图：
docs/算法/继电保护功能复现规划.md（§2.1 分层、§3.1 L1 清单） - 采样节拍：
docs/子系统设计/ADC采样节拍设计说明.md