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STM32F4-Base/test
wandering1 7c8669e52a feat(屏板): USART1 700 kbaud + 收中断传输层 sb_link(1-2/1-3)
批 1 的 1-2 / 1-3:把屏板(DTU-LCD)发来的 6 B 帧 A 在 USART1 上稳定收下来。

1-2 波特率:.ioc 不保存任何 UART 的波特率(只有
USART1.IPParameters=VirtualMode),GUI 里改也不落盘,所以只能在
Src/usart.c 的 USER CODE BEGIN USART1_Init 2 区覆盖 huart1.Init.BaudRate
后重调一次 HAL_UART_Init(第二次调用时 gState 已非 RESET,HAL 只重算
BRR、不再跑 MspInit,GPIO/DMA/NVIC 不会被重配)。开机日志实测
BRR=0x0078,与理论值 84 MHz/(16x700 kHz)=7.5 逐位相符,误差 0%。

1-3 收中断:新建 Drivers/BSP/ScreenLink/sb_link.c/h——16 B 缓冲 + IDLE
中断断帧、帧 A 校验、错误中断里按 RM0090 清 ORE/NE/FE/PE、周期统计上报。
HAL_UARTEx_RxEventCallback / HAL_UART_ErrorCallback 是全局单例(唯一实现
在 rs485.c),故只在那里各加一行转发,按句柄过滤放在 sb_link 内。

台架实测(PC + USB 转 TTL 顶替屏板,COM6@700000)撞出两个真问题:
- 错误回调里无条件重挂 -> 出现 err=160 / rearm=160 同步增长,看着像每帧
  都重挂失败。真因是 HAL 把 NE/FE/PE 归为非阻塞型(接收照跑、RxState 仍是
  BUSY_RX),此时 ReceiveToIdle_IT 只会返回 HAL_BUSY。改为仅当
  RxState == HAL_UART_STATE_READY(ORE 那类阻塞型)时才重挂。
- 日志字面量里带中文 -> ARMCC #870-D invalid multibyte character
  sequence。字面量一律纯 ASCII,中文只写注释。

验证:主机单测 81/81 PASSED(test/host/sb_link/,其中按 RM0090 的清除语义
把"必须 SR->DR 顺序才清得掉 ORE"钉成断言);Keil 0 错误 0 警告;台架
rx == 发送帧数、ok == rx、crc=0、len=0、size=6、keys 随按键帧递增;先用
错波特率灌 64 B 垃圾(len=31、bits=0x06)后自动恢复且 rearm=0。
新增 test/host/screenlink_bench.py 作为可复跑的屏板激励(--key / --glitch-baud)。
2026-10-29 20:13:18 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — 测试验证分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md