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STM32F4-Base/test
wandering1 f5902bcc21 docs(design): 运行/自检记录与 ADC 节拍两篇改为现状设计并去掉档名"说明"
两篇规划期文档改成对当前系统的描述,档名统一去掉"设计说明"的"说明"。

运行与自检记录:
- 旧档重写为现状版(10 节:概览 / 记录布局 / 写入路径 / 读取与呈现 /
  事件分类 / 控制台日志 / 双端差异 / 内存 / 异常恢复 / 自测要点),
  删掉需求表、调研摘要、模块清单动作列、实施步骤与开放问题。
- 按代码纠正:七类记录齐备(原文只写了两类)、自检描述串换成实际
  落盘的 28 条、待机阈值以 ui_tokens.h 为准、记录页已走 ui_w_records
  共享组件、容量满只删该文件而非整卷清空。
- 待机屏移出本篇:它不属于日志,归 UI 侧;内容页架构补"待机屏
  (覆盖层)"一节,产品需求 FR-LOG-3 拆成单纯的上电/重启分类,
  待机显示归口已有的 FR-UI-3。

ADC 采样节拍:
- §4.5 从 45 行压到 24 行,只留规则 / 违反的代价 / 为什么 / 兜底与
  档案指针;九路置换实测表、A/B 对照、探针计数等取证归
  ADC_Trap_Records.md 的 TRAP-ADC-01(那里已有完整档案)。
- adc1_gap 字段去掉"2026-10-21 起、此前固件为次数"的修订记录式括号。
- app_main.c 的注释改为指向 TRAP-ADC-01 取证、§4.5 设计口径。

引用同步:两个旧档名全仓替换(含代码注释、角色档、归档 id 表),
旧名残留 0;对 ADC 篇的 § 引用逐条复核落在真实章节上。

验证:48 个提交期钩子全通过,check_doc_links --sections-strict 通过。
2026-11-15 21:30:07 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# /serial-boot-test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + /keil-build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/流程与规范/测试开发标准流程.md — 测试验证分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/流程与规范/自动化测试流程.md — /serial-boot-test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/板级测试/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/专项验证/链路延迟测试说明.md