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STM32F4-Base/test
super_agent_bot f979b39474 fix(nand-ftl): 传输失败不再误标坏块 + format 不再被脏缓存挡死(#79)
根因(真机定案,问题 #79):旧 dhara_nand_erase/prog() 把一切失败一律
mark_bad,而 mark_block_bad 每次**立即持久化**板级 BBT(不可撤销)——
一次传输层/等忙抖动就把好块永久记成坏块。台架 129 个好块(1016–1142
连续段)被固化,journal prepare_head() 连续 8 次撞 is_bad → TOO_BAD →
Cache flush FAIL → reformat 又被同一页挡住 → 整卷禁用、重启不恢复。

- 修复①:只有芯片明确回 E_FAIL/P_FAIL(状态位证据)才标坏;
  传输/超时失败只报 DHARA_E_BAD_BLOCK 让 dhara 重试,不标坏
- 修复②:nand_ftl_format() 尽力刷一次脏缓存,失败即丢弃并继续
  dhara_map_clear()(格式化语义本就是销毁映射;旧实现第一步返回,
  恢复动作在同一页死锁,f_mkfs 全在旧映射上必失败)
- C4 还债:新增跨调用失败类快照 nand_ftl_fault_get/clear(20 B,
  resume/读/刷/同步四点位记账);defaultTask 探针按类分流,
  BSP_ERR_NO_SPACE 跳过重格式化(容量问题不该用 mkfs 解)
- 哨兵与诊断:init 解锁块保护(A0h)后补回读校验(与 B0h ECC 同族
  缺口,实测本板 A0h=0,非本次根因,留作哨兵);gd5f_bbt_load()
  合并后坏块数 > 出厂扫描时打「BBT after merge」,现场可区分
  真坏与误标固化
- 测试:主机单测 149→178 全绿;新增 format 死锁(TC-NANDPORT-800..
  813b)、传输失败不标坏(207 语义翻转 + 208/505);牙齿检查过——
  把修复回退即见红
- 真机:恢复动作 A 重建 BBT 清除已固化误标(3/3 PASSED,BBT
  version=71);产品镜像复烧 [FS] FATFS mounted、配置出厂模板
  落盘、0 条 flush FAIL——#79 真机闭环(旧卷内容随 map clear
  作废,台架卷为可弃数据)
- 文档:存储架构说明 §10.4 口径修正 + 新增 §10.4.1/§10.4.2(页级
  失败升级链与误标持久化机理),存储维护与容量恢复 §2 补板级 BBT
  独立持久化注记 + §2.1(动作 A 此前静默失效),登记簿 C4 销项
- Keil 0 错 0 警(Code=255552,与烧录验证镜像一致);doc-links 213
  文档通过
2026-11-04 18:16:36 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# /serial-boot-test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + /keil-build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/流程与规范/测试开发标准流程.md — 测试验证分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/流程与规范/自动化测试流程.md — /serial-boot-test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/板级测试/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/专项验证/链路延迟测试说明.md