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登记簿 N-21(报告 N-12/N-13)与 N-24(报告 N-16)两项未闭环问题修复并销项。 N-12:dhara_nand_is_free() 旧实现只读页首 64 B 判全 0xFF,会把"页首 0xFF、后段有数据"的已编程页误判空闲,dhara 遂往已编程页再编程 = 位碰撞、 journal/map 指向垃圾且不报任何错。改整页扫描(栈上 64 B 分块、页首命中即 早退,故"已编程且页首有数据"的绝大多数页成本与旧实现同价)。 N-13:报告原建议经核对不成立——本仓裁剪版 dhara 既无 DHARA_NO_PAGE(哨兵 实为 DHARA_PAGE_NONE,journal.h:46)也无 DHARA_E_UNSUPPORTED(error.h 枚举 里没有,照抄直接编译失败),且 map.c 三处 dhara_journal_copy 调用点各自已 挡掉哨兵。真风险是移植层零上界校验:越界页号被芯片地址位截断成某个真实页 → 静默读写错页。改为六个 HAL 入口统一几何上界守卫 + DHARA_E_CORRUPT_MAP。 错误码选择是刻意的:BAD_BLOCK 会让 journal.c:904 标坏无辜好块,RECOVER 会 让 map.c:275 启动回收;无错误通道的 is_free/is_bad/mark_bad 一律取保守值。 N-16 写侧:一次排空合并成"每文件一次 open/write/close"(≤8 条 = 512 B 静态缓冲)。掉电语义不变——批次仍在同一次 drain 调用内 close,而 close 回写目录项这个不同 LPN 会把 FTL 单页写回缓存逼出到 NAND;失败尾部回投 队列,条目不丢(旧实现 -2 卷忙会直接丢掉那一条)。容量轮转仍只在按条慢 路径做,批量路径发现装不下一批就返回 -3 退回。 N-16 读侧:s_read_raw() 加 8 条滑动读窗口 + 写者代数失效,API 与 UI 零改动。 验证:@build 0 错 0 警(Code 213,540 / ER_IROM1 232,280 B = 22.2%, RW_IRAM1 75,232 B = 57.4%,ZI +1,640 B 全为静态缓冲、不吃任务栈); @test PASS,且台架 journal 恢复点与修复前同轨——连续四次启动 sectors used 恒 14,094、Map head 每轮 +128 单调推进、epoch 稳定 3 → 整页 is_free 未 改变恢复语义、无双编程、无回退;stack_report 9 个任务全 PASS(defaultTask 静态最坏链 3,024 B / 余 40%,实测峰值 2,164 B / 余 57%)。 新增主机侧移植层单测 test/host/nand_port/(第 16 个 -unit-test 钩子): RAM 假芯片 + 真实 dhara map/journal 源,149 断言,含"旧算法只看页首 64 B" 对照用例(将来有人把 is_free 改回去会立刻红)与 dhara 级 resume 双编程计数 为 0 的场景。L0.5 由 15 runner / 955 断言 → 16 runner / 1,104 断言。 文档:存储架构说明 §5.3 加移植层两条硬约束;运行与自检记录设计说明 §4.4/§4.5 写批量化与读窗口;GD5F Trap Records 新增 Trap 07(含三条遗留 代价与一条待办编译期断言);登记簿 N-21/N-24 删行销项并同步 README §1/§2.0/§2.1、排期详述 C3、报告 §0.1/§0.2/§0.4/§4.x/§7 与去处表; 钩子计数 33→34、主机侧单测 15→16 全库同步。
39 lines
1.6 KiB
C
39 lines
1.6 KiB
C
/*
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* 主机侧单测桩:dbg_log.h
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* 模块功能:为 Drivers/BSP/GD5F2GQ5UE/nand_ftl.c 提供主机可编译的日志宏
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* (DBG_* 映射为计数,不真正打印,避免污染测试输出)。
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* ⚠ 仅供 test/host/nand_port/ 使用,不参与 MCU 构建。
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* MCU 版(Drivers/BSP/dbg_log.h)依赖 sys_clock(RTC 时间戳)与 console,
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* 并在 DBG_ENABLE_* 开关下展开成行缓冲 + 时间戳格式化。
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* 被测源在 `#include "dbg_log.h"` 之前自定义了 DBG_LINE_BUF_MAX / DBG_TAG,
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* 本桩不使用它们(宏重定义无副作用:本桩不定义同名宏)。
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* 为什么计数而不是直通 printf:
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* nand_ftl.c 的日志只在 disk_initialize / 缓存回写路径上,本套件测的是
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* dhara HAL 六个入口;直通打印会让"越界不产生任何芯片访问"这类断言的
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* 输出被日志淹没。留计数则仍可断言"错误路径确有留痕"。
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* 创建日期:2026-10-15
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*/
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#ifndef DBG_LOG_H
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#define DBG_LOG_H
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#include <stdio.h>
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/* 测试观测计数(在 nand_port_test.c 实现):
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* g_nandtest_err_count —— DBG_ERROR 次数
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* g_nandtest_info_count —— DBG_INFO 次数
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* g_nandtest_debug_count —— DBG_DEBUG 次数 */
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extern int g_nandtest_err_count;
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extern int g_nandtest_info_count;
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extern int g_nandtest_debug_count;
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#define DBG_INFO(fmt, ...) do { g_nandtest_info_count++; } while (0)
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#define DBG_DEBUG(fmt, ...) do { g_nandtest_debug_count++; } while (0)
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#define DBG_ERROR(fmt, ...) do { g_nandtest_err_count++; } while (0)
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#endif /* DBG_LOG_H */
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