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STM32F4-Base/test
wandering1 ffd462ef3c feat(保护标定): 卡5 未标定闭锁 + 卡6 下游三常数重定 + 卡7 量纲回归单测
卡 5(protect_task.c 第⑤闭锁源,「数据可信」§4.3 决策 1=闭锁):
- UA/UN/IA 的 adc_cal VALID 未全置位 → prot_elm_init + 本拍不 eval;每拍现查
  flags、无自有状态(卡 12 标定写入后自动解锁);判据链优先级 = 采样可信在前、
  标定可用在后(数据都是旧的谈不上标定)
- 边沿日志用 DBG_INFO 而非 [ERR]:未标定是出厂常态、非故障,且 @test 禁用
  [ERR](「默认构建保护不动作 = 期望」的台架判据同步项已在 MR 报 lead);
  SOE 分型 SOE_T_CAL_BLOCK/RESUME(soe_rec.h 枚举尾追加,值 6/7——reader 侧
  显示标签映射归道B reader,MR 已报)
- 台架旁路 = 编译期宏 DTU_BENCH(§4.3:不进 cfg 不进 104;本仓所有提交目标
  都不定义它 = 产品恒强制闭锁)

卡 6(下游三常数按工程量重定,依据同源 docs/任务规划/数据可信.md §2.3):
- FREQ_AMP_MIN(freq.h):语义从拟定码值域重定为二次值 V——50 V = 0.5×Un
  (标称 100 V),断保险/PT 空载/浮空必低于之;数值沿用 50.0f 属巧合并在
  注释明写;eng=0 过渡期本门恒失效 → OF/UF 按必不启动填充,与卡 5 同向安全
- k_yc[].deadband(iec104_pts.c):9 点按「额定 0.5 %」规则重定:电压类
  0.5 %×100 V=0.5、电流类 0.5 %×1 A=0.005、频率维持 0.5 Hz 绝对值(非额定
  比,卡 10 运行参数化);标称基准与 prot_set 头部同源,防两处真相
- g_prot_set_meta[](prot_set.c):数值/范围复核结论=不动(0~4×标称自洽),
  文件头补量纲口径块:A/V = 二次值、标称 100 V/1 A、OV120=1.2Un/UV20=.2Un/
  3U0 15=.15Un、OC1/2/3=10/5/2×Ir、OL=1.0×Ir;PS_ID_COUNT/blob VER 未动
- iec104 套件 TC-008 死区用例同步重定标(100.4 带内 / 101.25 越带),97/97

卡 7(test/host/prot_dim 新套件,真实链 adc_cal→ring→phasor→prot_elm):
- 用例从 ADC 码值出发、显式写出 code↔二次值互逆换算(dim_code vs apply),
  折算点被旁路或量纲再错位断言立刻翻转(M4 判据⑥「不该动作时不动作」)
- 合成 ROM 覆写(#undef K_Q16 宏)模拟卡 12 标定后板级口径,走 adc_cal_set
  正规路径置 VALID;b=-30 码全链对消进 rms 断言
- 38/38:基线静默(含 OL 低定值陷阱)、反错配对照(raw 码值灌环复现历史事故
  必假动作 vs 经折算必静默)、OC1/2/3+OL+OV+UV+3U0 七类逐一:越限定值→
  受控启动拍→dly-2 不动作/+5 动作→返回系数带内保持→跌破释放、双件聚合位图
  独立性(撤 IA 只回 OC1)

测试与注册:prot-dim-unit-test 钩子 + TC-HOST-PROTDIM 族(游标 010,B 层口径
同 ADCHEALTH/ADCCAL 先例);无新 MCU 源文件(uvprojx/SIM_EXEMPT 零改动)

gate:@build 0 错 0 警(Code=215640 RO=21388 RW=1220 ZI=131980 vs 基线
215440/19780/1220/131980 → Flash +1808 B、RAM 零增量);protectTask 静态最坏
链 872 B/margin 1176 B(57%)PASS,adcTask 不变;staged 门禁除 mem-numbers/
mem-budget(台账漂移,回填归 lead)外全绿:
gate: only mem-budget/mem-numbers pending lead ledger backfill
BOM/CR/U+FFFD/字面量 ASCII 已逐文件自查(本轮未触碰带 BOM 文件)
2026-10-25 05:22:17 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(S6;不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — L0~L3 分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md