主机单测：新增 ADC 输入层（L1）用例 70 项并登记 L1/L2 单测钩子

新增 App/algo/adc_input.c 的主机侧单测（L1），补齐 L1/L2 算法层
"每个函数都可离线验证"的最后一处空白。

- test/host/adc_input/{adc_input_test.c,run_unit_test.py,stub/}：
  70 个用例，覆盖 6 个公开函数 + map_check + stm32_scan。
  关键判据 = "通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射：给每个 Rank
  注入互不相同的码值，逐通道钉死映射（板端无信号源，无法验此项）。
  另钉死 HAL 启动失败 / 轮询超时 / 参数错 / 无有效数据等分支。
- .pre-commit-config.yaml：登记 phasor-unit-test（7d）与
  adc-input-unit-test（7e）两个主机侧单测钩子。

主机侧全套：adc_input 70/70、phasor 52/52，均 0 失败、无 /W4 告警。

test/host/adc_input/stub/adc.h

@@ -0,0 +1,58 @@
+/*
+ * 主机侧单测桩：adc.h
+ * 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 STM32 ADC1 句柄与 HAL 接口
+ *          声明（真实 Inc/adc.h 会经 main.h 拖入整套 HAL，主机侧无法编译）。
+ *
+ * ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。
+ *
+ * 保真点：F4 HAL 的 ADC_CHANNEL_x 宏值**即通道号 x**（0..15），本桩按此定义，
+ * 故被测代码里 `(uint8_t)ADC_CHANNEL_14` 得到 14 —— 与真机一致。
+ * 另声明 4 个 HAL_ADC_* 接口，由测试单元给强符号桩（可注入失败/超时/返回值）。
+ *
+ * 创建日期：2026-10-10
+ */
+
+#ifndef ADC_H
+#define ADC_H
+
+#include <stdint.h>
+
+/* HAL 状态码（与 stm32f4xx_hal_def.h 同值，仅取被测代码用到的子集） */
+typedef enum {
+    HAL_OK      = 0x00,
+    HAL_ERROR   = 0x01,
+    HAL_BUSY    = 0x02,
+    HAL_TIMEOUT = 0x03
+} HAL_StatusTypeDef;
+
+/* ADC 句柄：被测代码只把 &hadc1 透传给 HAL 接口，从不读其字段，故为不透明占位 */
+typedef struct {
+    uint32_t reserved;
+} ADC_HandleTypeDef;
+
+extern ADC_HandleTypeDef hadc1;
+
+/* ADC 通道宏（F4：宏值 = 通道号） */
+#define ADC_CHANNEL_0   (0x00000000U)
+#define ADC_CHANNEL_1   (0x00000001U)
+#define ADC_CHANNEL_2   (0x00000002U)
+#define ADC_CHANNEL_3   (0x00000003U)
+#define ADC_CHANNEL_4   (0x00000004U)
+#define ADC_CHANNEL_5   (0x00000005U)
+#define ADC_CHANNEL_6   (0x00000006U)
+#define ADC_CHANNEL_7   (0x00000007U)
+#define ADC_CHANNEL_8   (0x00000008U)
+#define ADC_CHANNEL_9   (0x00000009U)
+#define ADC_CHANNEL_10  (0x0000000AU)
+#define ADC_CHANNEL_11  (0x0000000BU)
+#define ADC_CHANNEL_12  (0x0000000CU)
+#define ADC_CHANNEL_13  (0x0000000DU)
+#define ADC_CHANNEL_14  (0x0000000EU)
+#define ADC_CHANNEL_15  (0x0000000FU)
+
+HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef *hadc);
+HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef *hadc, uint32_t Timeout);
+uint32_t          HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef *hadc);
+HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Stop(ADC_HandleTypeDef *hadc);
+
+#endif /* ADC_H */

test/host/adc_input/stub/tpafe5160.h

@@ -0,0 +1,28 @@
+/*
+ * 主机侧单测桩：tpafe5160.h
+ * 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 TPAFE5160 快照接口声明
+ *          （真实头会经 main.h 拖入 HAL 与 GPIO 宏，主机侧无法编译）。
+ *
+ * ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。
+ *
+ * 被测代码只消费 tpafe5160_snapshot()（E-58 原子快照），故桩只保留该声明；
+ * 其返回值语义（1=新帧 / 0=无新帧 / -1=参数错）与真实驱动一致，由测试单元
+ * 给强符号桩并按用例注入。
+ *
+ * 创建日期：2026-10-10
+ */
+
+#ifndef TPAFE5160_H
+#define TPAFE5160_H
+
+#include <stdint.h>
+
+/*
+ * 函数功能：原子快照最新一帧（消费者取数的唯一正确姿势）
+ * 入口参数：dst   - 输出缓冲区  int16_t*  不为 NULL
+ *           count - 拷贝通道数  uint8_t   1 - 8
+ * 返 回 值：1 - 取到新帧，0 - 无新帧，-1 - 参数无效
+ */
+int tpafe5160_snapshot(int16_t *dst, uint8_t count);
+
+#endif /* TPAFE5160_H */