主机单测：新增 ADC 输入层（L1）用例 70 项并登记 L1/L2 单测钩子
新增 App/algo/adc_input.c 的主机侧单测（L1），补齐 L1/L2 算法层
"每个函数都可离线验证"的最后一处空白。
- test/host/adc_input/{adc_input_test.c,run_unit_test.py,stub/}：
70 个用例，覆盖 6 个公开函数 + map_check + stm32_scan。
关键判据 = "通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射：给每个 Rank
注入互不相同的码值，逐通道钉死映射（板端无信号源，无法验此项）。
另钉死 HAL 启动失败 / 轮询超时 / 参数错 / 无有效数据等分支。
- .pre-commit-config.yaml：登记 phasor-unit-test（7d）与
adc-input-unit-test（7e）两个主机侧单测钩子。
主机侧全套：adc_input 70/70、phasor 52/52，均 0 失败、无 /W4 告警。
This commit is contained in:
@@ -232,6 +232,34 @@ repos:
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files: ^(App/cfg/cfg_file\.(c|h)|App/cfg/cfg_file_store\.h|App/log/sys_log\.h|test/host/cfg_file/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$
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files: ^(App/cfg/cfg_file\.(c|h)|App/cfg/cfg_file_store\.h|App/log/sys_log\.h|test/host/cfg_file/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$
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pass_filenames: false
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pass_filenames: false
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# 7d) 相量层（L2）主机侧单元测试（2026-10-10 加）
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# 背景：App/algo/ 为**纯算法**层（无寄存器、无 RTOS、无外设依赖），是本项目
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# 首个可完全离线验证的算法层。板端**无信号源**，无法注入已知幅值/相位/频率的
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# 标准波形，故"读数 = 设定值"这一核心判据在板上不可验；本钩子用 MSVC 离线编译
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# 真实源文件（#include 纳入，无需桩）+ 合成任意波形，把系数表、幅值/相位、
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# 直流与谐波抑制、频偏敏感度、滑动窗、双区交换一次性钉死。
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# files 含被测的两个源与其头，以及 harness 本身。
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- id: phasor-unit-test
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name: 相量层单测（主机侧）
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entry: python test/host/phasor/run_unit_test.py
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language: system
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files: ^(App/algo/(phasor|sample_ring)\.(c|h)|test/host/phasor/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$
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pass_filenames: false
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# 7e) ADC 输入层（L1）主机侧单元测试（2026-10-10 加）
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# 背景：adc_input.c 的核心是"通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射的正确性；
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# 板端无信号源，无法注入已知电压验证"读到的是哪只脚"（映射说明 §8）。本钩子用
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# MSVC 离线编译真实源文件（#include 纳入）+ HAL/TPAFE 可注入桩：给每个 Rank
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# 注入互不相同的码值以**逐通道钉死映射**，并一次钉死 HAL 启动失败 / 转换超时 /
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# 参数错等真机难复现的分支。
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# files 含被测源与其头、两个桩头所在目录，以及 harness 本身。
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- id: adc-input-unit-test
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name: ADC 输入层单测（主机侧）
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entry: python test/host/adc_input/run_unit_test.py
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language: system
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files: ^(App/algo/adc_input\.(c|h)|test/host/adc_input/.*|test/host/common/unit_test_harness\.py)$
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pass_filenames: false
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# 8) 测试套件开关门禁（2026-10-01 加）
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# 8) 测试套件开关门禁（2026-10-01 加）
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# 背景：test_config.h 的 TEST_SUITE_* 决定固件里编入哪个测试套件，
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# 背景：test_config.h 的 TEST_SUITE_* 决定固件里编入哪个测试套件，
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# 全部注释 = 产品构建。但此前**无任何门禁检查**——实测已提交的 HEAD 里
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# 全部注释 = 产品构建。但此前**无任何门禁检查**——实测已提交的 HEAD 里
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@@ -0,0 +1,463 @@
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/*
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* 模块名称：ADC 输入层（L1）主机侧单元测试
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* 模块功能：在 PC 上对 App/algo/adc_input.c 做离线验证（6 个公开函数 + 2 个静态函数）。
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*
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* 被测对象：真实源文件 ../../../App/algo/adc_input.c（以 #include 原样纳入，
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* 保证测的是生产代码而非副本）。平台依赖由本文件提供的**可注入桩**实现：
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* - adc.h -> HAL_ADC_Start / PollForConversion / GetValue / Stop
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* （可注入 启动失败 / 第 N 次轮询超时 / 逐 Rank 返回值）
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* - tpafe5160.h-> tpafe5160_snapshot（可注入 新帧/无新帧/参数错 + 帧内容）
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*
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* 为什么要主机侧单测（而不是只用板端套件）：
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* 1. 本层核心是"**通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义**"三者的映射正确性。板端**无信号源**
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* （见 docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md §8），无法注入已知电压去验证"读到的是
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* 哪只脚"；主机侧可直接给每个 Rank 注入互不相同的码值，从而**逐通道钉死映射**
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* （这是唯一能在离线端证伪"通道宏写错 -> 读到另一只脚"的手段）。
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* 2. HAL 启动失败 / 转换超时 / 参数错等分支在真机上极难稳定复现，主机侧一次钉死。
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* 3. 不占 MCU 的 RAM，毫秒级完成。
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* 覆盖点（对应 docs/算法/继电保护功能复现规划.md §2.1 的 L1-3 / L1-4）：
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* —— adc_input_init（TC-AI-001..006）——
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* TC-AI-001 poll 失败后失败计数可见（前置状态构造）
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* TC-AI-002 poll 成功后 TPAFE 侧可取数（前置状态构造）
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* TC-AI-003 init 返回 0（映射表自检通过）
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* TC-AI-004 init 后 STM32 状态码 = NOT_RUN
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* TC-AI-005 init 后失败计数归零
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* TC-AI-006 init 后 TPAFE / STM32 两侧均无有效数据（有效标志被清）
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* —— adc_input_desc（TC-AI-010..01A）——
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* TC-AI-010..018 九个语义通道 -> (来源, 下标) 与权威映射表逐项一致
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* TC-AI-019/01A 越界（ADC_SEM_COUNT）与负数语义 -> NULL
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* —— map_check（TC-AI-020）——
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* TC-AI-020 真实映射表自洽（反向路径结构上不可达，见文件末说明）
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* —— stm32_scan（TC-AI-021..03A）——
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* TC-AI-021..025 全通道成功：返回 0 / 状态码 / 不计失败 / Start-Stop 各一次 / 轮询 9 次
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* TC-AI-026..02B **Rank -> 通道号映射**：UB->CH14(rank9) / UC->CH3(rank4) /
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* IB->CH6(rank7) / IC->CH1(rank2) / IN->CH2(rank3) / TEMP->CH5(rank6)
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* TC-AI-02C stm32_scan 不置 TPAFE 有效标志（两来源独立）
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* TC-AI-030..034 HAL_ADC_Start 失败：返回 -1 / 状态码 RC_START / 计数 +1 / 不调 Stop
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* TC-AI-035..039 轮询超时：返回 -2 / 状态码 RC_TIMEOUT / 计数 +1 / 调 Stop 收尾 / 立即退出
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* TC-AI-03A 失败计数跨次单调累计
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* —— adc_input_raw（TC-AI-040..04B）——
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* TC-AI-040..043 参数守卫：out=NULL / 越界 / 负数 -> -1，且不写 out
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* TC-AI-044/045 无有效数据 -> -2（两来源分别）
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* TC-AI-046..048 poll 快照契约：返回码透传 / 请求 8 通道 / 目的缓冲非空
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* TC-AI-049..04B TPAFE 按**下标**取数（UA=6 / UN=5 / IA=2）且补码负值原样保留
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* —— adc_input_poll（TC-AI-050..058）——
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* TC-AI-050..052 无新帧(0)：返回 0 / TPAFE 无效 / STM32 侧照常扫描
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* TC-AI-053/054 参数错(-1)：返回 -1 / TPAFE 无效
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* TC-AI-055 已有有效帧后再"无新帧"**不清零**（保持上次有效值）
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* TC-AI-056..058 STM32 失败**不阻断** TPAFE、**不影响** poll 返回值，另由状态码暴露
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* —— adc_input_stm32_rc / _errs（TC-AI-060..066）——
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* TC-AI-060/061 init 后 = NOT_RUN / 计数 0
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* TC-AI-062 成功: rc=OK 且 errs 不变
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* TC-AI-063/064 两次失败累计 = 2，rc = 最近一次（TIMEOUT）
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* TC-AI-065/066 恢复成功 rc=OK，errs 单调不回退
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*
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* 通过：全部 TC PASS（main 返回 0）。
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* 入口：int main(void)，返回 0=PASS / 1=FAIL（由 run 脚本判读）。
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*
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* 创建日期：2026-10-10
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*/
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#include <stddef.h>
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#include <stdint.h>
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#include <stdio.h>
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/* ===================== 平台桩（先纳入，覆盖真实头） ===================== */
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#include "adc.h"
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#include "tpafe5160.h"
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/* ===================== HAL ADC1 桩 =====================
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* 被测代码经 HAL 只做四件事：启动、逐 Rank 轮询、读 DR、停止。桩把它们变成可注入：
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* s_start_rc HAL_ADC_Start 返回值（注入启动失败）
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* s_poll_fail_at PollForConversion 第几次（0 基）失败；-1 = 永不失败（注入超时）
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* s_poll_vals[i] 第 i 个 Rank 读到的码值（默认 100+i，用于钉死 Rank->通道映射）
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* s_poll_calls / s_rank_idx 轮询次数 / 取数次数（观测：超时后是否立即退出）
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*/
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static HAL_StatusTypeDef s_start_rc = HAL_OK;
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static int s_poll_fail_at = -1;
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static uint32_t s_poll_vals[16];
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static int s_poll_calls = 0;
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static int s_rank_idx = 0;
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static int s_start_calls = 0;
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static int s_stop_calls = 0;
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/* 被测代码把 &hadc1 透传给 HAL 桩；桩不读其字段 */
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ADC_HandleTypeDef hadc1;
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef *hadc) {
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(void)hadc;
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s_start_calls++;
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s_poll_calls = 0;
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|
s_rank_idx = 0;
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return s_start_rc;
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}
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef *hadc, uint32_t Timeout) {
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(void)hadc;
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(void)Timeout;
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{
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int idx = s_poll_calls;
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s_poll_calls++;
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if (s_poll_fail_at >= 0 && idx == s_poll_fail_at) {
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return HAL_ERROR;
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}
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}
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||||||
|
return HAL_OK;
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}
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uint32_t HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef *hadc) {
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uint32_t v;
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(void)hadc;
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v = (s_rank_idx < 16) ? s_poll_vals[s_rank_idx] : 0u;
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s_rank_idx++;
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return v;
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}
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Stop(ADC_HandleTypeDef *hadc) {
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(void)hadc;
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|
s_stop_calls++;
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||||||
|
return HAL_OK;
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}
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/* ===================== TPAFE5160 快照桩 ===================== */
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static int16_t s_fake_tpafe[8];
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static int s_snapshot_rc = 0;
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static int s_snapshot_calls = 0;
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static uint8_t s_snapshot_count = 0u;
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static int16_t *s_snapshot_dst = NULL;
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int tpafe5160_snapshot(int16_t *dst, uint8_t count) {
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uint8_t i;
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s_snapshot_calls++;
|
||||||
|
s_snapshot_count = count;
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||||||
|
s_snapshot_dst = dst;
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||||||
|
if (s_snapshot_rc == 1) {
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for (i = 0u; (i < count) && (i < 8u); i++) {
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dst[i] = s_fake_tpafe[i];
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||||||
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}
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||||||
|
}
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return s_snapshot_rc;
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|
}
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/* ===================== 断言 ===================== */
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static int s_total = 0, s_passed = 0, s_failed = 0;
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#define CHECK(cond, name) do { \
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s_total++; \
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if (cond) { s_passed++; printf(" [PASS] %s\n", name); } \
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else { s_failed++; printf(" [FAIL] %s (line %d)\n", name, __LINE__); } \
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|
} while (0)
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/* ===================== 被测代码（原样纳入生产源） ===================== */
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#include "adc_input.c"
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/* ===================== 工具 ===================== */
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/*
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* 函数功能：把全部桩复位到"健康"初值
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* 入口参数：无
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* 返 回 值：无
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* 限定条件：无
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* 函数说明：默认 Start 成功、轮询永不超时、第 i 个 Rank 读到 100+i（互不相同，
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* 以便逐通道钉死 Rank->通道号映射）、TPAFE 快照无新帧。
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*/
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static void fakes_reset(void) {
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uint8_t i;
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||||||
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||||||
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s_start_rc = HAL_OK;
|
||||||
|
s_poll_fail_at = -1;
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||||||
|
s_poll_calls = 0;
|
||||||
|
s_rank_idx = 0;
|
||||||
|
s_start_calls = 0;
|
||||||
|
s_stop_calls = 0;
|
||||||
|
for (i = 0u; i < 16u; i++) {
|
||||||
|
s_poll_vals[i] = 100u + (uint32_t)i;
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||||||
|
}
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||||||
|
s_snapshot_rc = 0;
|
||||||
|
s_snapshot_calls = 0;
|
||||||
|
s_snapshot_count = 0u;
|
||||||
|
s_snapshot_dst = NULL;
|
||||||
|
for (i = 0u; i < 8u; i++) {
|
||||||
|
s_fake_tpafe[i] = 0;
|
||||||
|
}
|
||||||
|
}
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||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-001..006：init ===================== */
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||||||
|
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||||||
|
static void tc_init(void) {
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int32_t v = -999;
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||||||
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fakes_reset();
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||||||
|
/* 前置：制造"STM32 失败一次 + TPAFE 有效一帧"的状态，再验 init 是否清干净 */
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s_snapshot_rc = 1;
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|
s_fake_tpafe[6] = 4321;
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|
s_start_rc = HAL_ERROR;
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||||||
|
(void)adc_input_poll();
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||||||
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||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-001 poll 失败后 STM32 失败计数 = 1");
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|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 4321),
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"TC-AI-002 poll 后 UA 可取数且值正确");
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||||||
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||||||
|
CHECK(adc_input_init() == 0, "TC-AI-003 adc_input_init 返回 0（映射自检通过）");
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||||||
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CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_NOT_RUN,
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||||||
|
"TC-AI-004 init 后 STM32 状态码 = NOT_RUN");
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||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-005 init 后 STM32 失败计数归零");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2) && (adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2),
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||||||
|
"TC-AI-006 init 后 TPAFE / STM32 两侧均无有效数据");
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||||||
|
}
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||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-010..01A：desc 映射表 ===================== */
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||||||
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||||||
|
static void tc_desc(void) {
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||||||
|
const adc_channel_desc_t *d;
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||||||
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||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_UA);
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||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 6u),
|
||||||
|
"TC-AI-010 UA -> TPAFE buf[6]");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_UB);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 14u),
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||||||
|
"TC-AI-011 UB -> STM32 CH14");
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||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_UC);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 3u),
|
||||||
|
"TC-AI-012 UC -> STM32 CH3");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_UN);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 5u),
|
||||||
|
"TC-AI-013 UN -> TPAFE buf[5]");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_IA);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_TPAFE) && (d->index == 2u),
|
||||||
|
"TC-AI-014 IA -> TPAFE buf[2]");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_IB);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 6u),
|
||||||
|
"TC-AI-015 IB -> STM32 CH6");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_IC);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 1u),
|
||||||
|
"TC-AI-016 IC -> STM32 CH1");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_IN);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 2u),
|
||||||
|
"TC-AI-017 IN -> STM32 CH2");
|
||||||
|
d = adc_input_desc(ADC_SEM_TEMP);
|
||||||
|
CHECK((d != NULL) && (d->source == ADC_SRC_STM32) && (d->index == 5u),
|
||||||
|
"TC-AI-018 TEMP -> STM32 CH5");
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(adc_input_desc(ADC_SEM_COUNT) == NULL, "TC-AI-019 越界(ADC_SEM_COUNT) -> NULL");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_desc((adc_semantic_t)(-1)) == NULL, "TC-AI-01A 负数语义 -> NULL");
|
||||||
|
}
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||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-020：map_check ===================== */
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||||||
|
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||||||
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static void tc_map_check(void) {
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||||||
|
/* 真实映射表自洽：TPAFE 下标 < 8 且每个 STM32 通道号都出现在扫描 Rank 内。
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||||||
|
* 反向路径（表不自洽 -> -1）需在运行时改表，而 k_adc_map / k_stm32_rank_ch 均为
|
||||||
|
* 编译期 static const、无运行时输入可使其不自洽 -> 结构上不可达（见文件末说明）。 */
|
||||||
|
CHECK(map_check() == 0, "TC-AI-020 映射表自洽（TPAFE 下标与 STM32 Rank 均在范围内）");
|
||||||
|
}
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||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-021..02C：stm32_scan 成功路径 ===================== */
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||||||
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||||||
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static void tc_scan_ok(void) {
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||||||
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int32_t v = 0;
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||||||
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fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
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||||||
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||||||
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CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-021 stm32_scan 全通道成功 -> 0");
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||||||
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CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-022 状态码 = RC_OK");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-023 成功不计入失败");
|
||||||
|
CHECK((s_start_calls == 1) && (s_stop_calls == 1), "TC-AI-024 Start / Stop 各一次");
|
||||||
|
CHECK((s_poll_calls == (int)ADC_INPUT_STM32_CH_NUM) && (s_rank_idx == (int)ADC_INPUT_STM32_CH_NUM),
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||||||
|
"TC-AI-025 轮询与取数各 9 次（Rank1..9）");
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||||||
|
|
||||||
|
/* Rank -> 通道号映射：第 i 个 Rank 读到 100+i。
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||||||
|
* k_stm32_rank_ch = [CH0..CH7, CH14]，故 CH3->103 / CH5->105 / CH6->106 / CH14->108。 */
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||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == 0) && (v == 108), "TC-AI-026 UB 取到 CH14(rank9)=108");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UC, &v) == 0) && (v == 103), "TC-AI-027 UC 取到 CH3(rank4)=103");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IB, &v) == 0) && (v == 106), "TC-AI-028 IB 取到 CH6(rank7)=106");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IC, &v) == 0) && (v == 101), "TC-AI-029 IC 取到 CH1(rank2)=101");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IN, &v) == 0) && (v == 102), "TC-AI-02A IN 取到 CH2(rank3)=102");
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||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_TEMP, &v) == 0) && (v == 105), "TC-AI-02B TEMP 取到 CH5(rank6)=105");
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-02C stm32_scan 不置 TPAFE 有效标志");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-030..034：stm32_scan 启动失败 ===================== */
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||||||
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||||||
|
static void tc_scan_start_fail(void) {
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||||||
|
int32_t v = 0;
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||||||
|
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_start_rc = HAL_ERROR;
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||||||
|
|
||||||
|
CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-030 HAL_ADC_Start 失败 -> -1");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-031 状态码 = RC_START");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-032 失败计数 +1");
|
||||||
|
CHECK(s_stop_calls == 0, "TC-AI-033 启动失败不调用 Stop");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-034 启动失败后 STM32 侧仍无有效数据");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-035..03A：stm32_scan 轮询超时 ===================== */
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||||||
|
|
||||||
|
static void tc_scan_timeout(void) {
|
||||||
|
int32_t v = 0;
|
||||||
|
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_poll_fail_at = 4; /* 第 5 个 Rank 轮询超时 */
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(stm32_scan() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-035 轮询超时 -> -2");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-036 状态码 = RC_TIMEOUT");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 1u, "TC-AI-037 超时计入失败");
|
||||||
|
CHECK(s_stop_calls == 1, "TC-AI-038 超时前已 Start -> 调 Stop 收尾");
|
||||||
|
CHECK(s_poll_calls == 5, "TC-AI-039 超时后立即退出（只轮询 5 次）");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-039b 超时后 STM32 侧无有效数据");
|
||||||
|
|
||||||
|
s_poll_fail_at = 0; /* 再失败一次 */
|
||||||
|
(void)stm32_scan();
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-03A 失败计数跨次单调累计 = 2");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-040..045：raw 参数守卫与无数据 ===================== */
|
||||||
|
|
||||||
|
static void tc_raw_guards(void) {
|
||||||
|
int32_t v = 0;
|
||||||
|
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, NULL) == -1, "TC-AI-040 out=NULL -> -1");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_COUNT, &v) == -1, "TC-AI-041 ch 越界 -> -1");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw((adc_semantic_t)(-1), &v) == -1, "TC-AI-042 ch 负数 -> -1");
|
||||||
|
CHECK(v == 0, "TC-AI-043 参数错时不写 out");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-044 TPAFE 无有效帧 -> -2");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UB, &v) == -2, "TC-AI-045 STM32 无有效扫描 -> -2");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-046..04B：raw TPAFE 取数与补码 ===================== */
|
||||||
|
|
||||||
|
static void tc_raw_tpafe(void) {
|
||||||
|
int32_t v = 0;
|
||||||
|
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
/* 注入 8 路 TPAFE 码值（互不相同），UA 应取 buf[6] / UN 取 buf[5] / IA 取 buf[2] */
|
||||||
|
s_fake_tpafe[0] = 1000;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[1] = 1001;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[2] = -1234;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[3] = 1003;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[4] = 1004;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[5] = 2005;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[6] = 3006;
|
||||||
|
s_fake_tpafe[7] = 1007;
|
||||||
|
s_snapshot_rc = 1;
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(adc_input_poll() == 1, "TC-AI-046 poll 透传 TPAFE 快照码 1");
|
||||||
|
CHECK(s_snapshot_count == (uint8_t)ADC_INPUT_TPAFE_CH_NUM, "TC-AI-047 快照请求 8 通道");
|
||||||
|
CHECK(s_snapshot_dst != NULL, "TC-AI-048 快照目的缓冲非空");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 3006), "TC-AI-049 UA -> buf[6]=3006");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UN, &v) == 0) && (v == 2005), "TC-AI-04A UN -> buf[5]=2005");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IA, &v) == 0) && (v == -1234),
|
||||||
|
"TC-AI-04B IA -> buf[2]=-1234（补码负值原样保留）");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-050..058：poll 契约 ===================== */
|
||||||
|
|
||||||
|
static void tc_poll(void) {
|
||||||
|
int32_t v = 0;
|
||||||
|
|
||||||
|
/* --- 无新帧(0)：返回 0，TPAFE 无效，STM32 侧照常扫描 --- */
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_snapshot_rc = 0;
|
||||||
|
CHECK(adc_input_poll() == 0, "TC-AI-050 快照无新帧 -> poll 返回 0");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-051 无新帧时 TPAFE 侧无效");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-052 同拍 STM32 扫描照常执行");
|
||||||
|
|
||||||
|
/* --- 参数错(-1)：返回 -1，TPAFE 无效 --- */
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_snapshot_rc = -1;
|
||||||
|
CHECK(adc_input_poll() == -1, "TC-AI-053 快照参数错 -> poll 返回 -1");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == -2, "TC-AI-054 参数错时 TPAFE 侧无效");
|
||||||
|
|
||||||
|
/* --- 已有有效帧后再"无新帧"：保持上次有效值（不清零） --- */
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_fake_tpafe[6] = 777;
|
||||||
|
s_snapshot_rc = 1;
|
||||||
|
(void)adc_input_poll();
|
||||||
|
s_snapshot_rc = 0;
|
||||||
|
(void)adc_input_poll();
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_UA, &v) == 0) && (v == 777),
|
||||||
|
"TC-AI-055 已有有效帧后无新帧不清零");
|
||||||
|
|
||||||
|
/* --- STM32 失败不阻断 TPAFE、不影响 poll 返回值 --- */
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
s_fake_tpafe[2] = 55;
|
||||||
|
s_snapshot_rc = 1;
|
||||||
|
s_start_rc = HAL_ERROR;
|
||||||
|
CHECK(adc_input_poll() == 1, "TC-AI-056 STM32 失败不影响 poll 返回值（仍为 1）");
|
||||||
|
CHECK((adc_input_raw(ADC_SEM_IA, &v) == 0) && (v == 55),
|
||||||
|
"TC-AI-057 STM32 失败不影响 TPAFE 取数");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_START, "TC-AI-058 STM32 失败另由状态码暴露");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== TC-AI-060..066：rc / errs 观测 ===================== */
|
||||||
|
|
||||||
|
static void tc_rc_errs(void) {
|
||||||
|
fakes_reset();
|
||||||
|
(void)adc_input_init();
|
||||||
|
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_NOT_RUN, "TC-AI-060 init 后未扫描 = NOT_RUN(-3)");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 0u, "TC-AI-061 init 后失败计数 = 0");
|
||||||
|
|
||||||
|
(void)stm32_scan(); /* 成功 */
|
||||||
|
CHECK((adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK) && (adc_input_stm32_errs() == 0u),
|
||||||
|
"TC-AI-062 成功: rc=OK 且 errs 不变");
|
||||||
|
|
||||||
|
s_start_rc = HAL_ERROR;
|
||||||
|
(void)stm32_scan(); /* 失败 1 */
|
||||||
|
s_start_rc = HAL_OK;
|
||||||
|
s_poll_fail_at = 0;
|
||||||
|
(void)stm32_scan(); /* 失败 2 */
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-063 两次失败累计 = 2");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_TIMEOUT, "TC-AI-064 rc = 最近一次（TIMEOUT）");
|
||||||
|
|
||||||
|
s_poll_fail_at = -1;
|
||||||
|
(void)stm32_scan(); /* 恢复成功 */
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_rc() == ADC_INPUT_RC_OK, "TC-AI-065 恢复成功后 rc=OK");
|
||||||
|
CHECK(adc_input_stm32_errs() == 2u, "TC-AI-066 errs 单调递增（不因成功回落）");
|
||||||
|
}
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ===================== main ===================== */
|
||||||
|
|
||||||
|
int main(void) {
|
||||||
|
printf("=== ADC Input Tests ===\n");
|
||||||
|
|
||||||
|
printf("-- init / reset --\n");
|
||||||
|
tc_init();
|
||||||
|
printf("-- semantic map desc --\n");
|
||||||
|
tc_desc();
|
||||||
|
printf("-- map self-check --\n");
|
||||||
|
tc_map_check();
|
||||||
|
printf("-- stm32 scan: success + rank/channel mapping --\n");
|
||||||
|
tc_scan_ok();
|
||||||
|
printf("-- stm32 scan: HAL_ADC_Start fail --\n");
|
||||||
|
tc_scan_start_fail();
|
||||||
|
printf("-- stm32 scan: poll timeout --\n");
|
||||||
|
tc_scan_timeout();
|
||||||
|
printf("-- raw: guards / no-data --\n");
|
||||||
|
tc_raw_guards();
|
||||||
|
printf("-- raw: tpafe index + two's complement --\n");
|
||||||
|
tc_raw_tpafe();
|
||||||
|
printf("-- poll contract --\n");
|
||||||
|
tc_poll();
|
||||||
|
printf("-- rc / errs observability --\n");
|
||||||
|
tc_rc_errs();
|
||||||
|
|
||||||
|
printf("\n=== ADC Input Tests: %d/%d PASSED (failed=%d) ===\n",
|
||||||
|
s_passed, s_total, s_failed);
|
||||||
|
return (s_failed == 0) ? 0 : 1;
|
||||||
|
}
|
||||||
@@ -0,0 +1,54 @@
|
|||||||
|
#!/usr/bin/env python3
|
||||||
|
# -*- coding: utf-8 -*-
|
||||||
|
"""ADC 输入层（L1，adc_input）的主机侧单元测试运行器（L0.5，纯标准库）。
|
||||||
|
|
||||||
|
做什么：
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||||||
|
用本机 MSVC 编译 test/host/adc_input/adc_input_test.c（它以 #include 纳入
|
||||||
|
**生产源文件** App/algo/adc_input.c），在 PC 上离线跑语义映射表 / STM32 ADC1
|
||||||
|
顺序扫描 / TPAFE 快照消费 / 取数守卫 / poll 契约 / 状态码统计，失败即非 0 退出。
|
||||||
|
零硬件、零烧录、毫秒级。
|
||||||
|
|
||||||
|
工具链探测 / INCLUDE-LIB 拼接 / 编译运行 / 退出码判定全部委托给通用 harness
|
||||||
|
`test/host/common/unit_test_harness.py`（本文件只做声明）。
|
||||||
|
|
||||||
|
为什么要主机侧单测（而不是只用板端套件）：
|
||||||
|
本层核心是"**通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义**"三者映射的正确性。板端无信号源
|
||||||
|
（docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md §8），无法注入已知电压验证"读到的是哪只脚"；
|
||||||
|
主机侧给每个 Rank 注入互不相同的码值，即可**逐通道钉死映射**，并一次钉死
|
||||||
|
HAL 启动失败 / 转换超时 / 参数错等真机难复现的分支。
|
||||||
|
|
||||||
|
用法（仓库根目录）：
|
||||||
|
python test/host/adc_input/run_unit_test.py
|
||||||
|
或统一用 .venv： & '.venv\\Scripts\\python.exe' test/host/adc_input/run_unit_test.py
|
||||||
|
|
||||||
|
退出码：0=PASS / 1=测试失败 / 2=环境错误（找不到编译器 / 编译失败 / 无汇总行）。
|
||||||
|
|
||||||
|
设计依据：docs/算法/继电保护功能复现规划.md §2.1（L1-3 / L1-4）；
|
||||||
|
创建日期：2026-10-10
|
||||||
|
"""
|
||||||
|
import os
|
||||||
|
import sys
|
||||||
|
|
||||||
|
HERE = os.path.dirname(os.path.abspath(__file__))
|
||||||
|
ROOT = os.path.dirname(os.path.dirname(os.path.dirname(HERE)))
|
||||||
|
# harness 位于 test/host/common/
|
||||||
|
sys.path.insert(0, os.path.join(ROOT, "test", "host", "common"))
|
||||||
|
|
||||||
|
from unit_test_harness import TestBuild, run_host_unit_test # noqa: E402
|
||||||
|
|
||||||
|
# 顺序敏感：stub 目录必须**先于**生产目录，才能覆盖 adc.h / tpafe5160.h
|
||||||
|
# （真实头会经 main.h 拖入整套 HAL，主机侧无法编译）。adc_input.h 用真实头
|
||||||
|
# （接口契约原汁）；HAL_ADC_* 与 tpafe5160_snapshot 由测试单元给强符号桩。
|
||||||
|
BUILD = TestBuild(
|
||||||
|
name="ADC Input Tests",
|
||||||
|
src=os.path.join(HERE, "adc_input_test.c"),
|
||||||
|
include_dirs=[
|
||||||
|
os.path.join(HERE, "stub"),
|
||||||
|
os.path.join(ROOT, "App", "algo"),
|
||||||
|
HERE,
|
||||||
|
],
|
||||||
|
summary_marker="=== ADC Input Tests:",
|
||||||
|
)
|
||||||
|
|
||||||
|
if __name__ == "__main__":
|
||||||
|
sys.exit(run_host_unit_test(BUILD))
|
||||||
@@ -0,0 +1,58 @@
|
|||||||
|
/*
|
||||||
|
* 主机侧单测桩：adc.h
|
||||||
|
* 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 STM32 ADC1 句柄与 HAL 接口
|
||||||
|
* 声明（真实 Inc/adc.h 会经 main.h 拖入整套 HAL，主机侧无法编译）。
|
||||||
|
*
|
||||||
|
* ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。
|
||||||
|
*
|
||||||
|
* 保真点：F4 HAL 的 ADC_CHANNEL_x 宏值**即通道号 x**（0..15），本桩按此定义，
|
||||||
|
* 故被测代码里 `(uint8_t)ADC_CHANNEL_14` 得到 14 —— 与真机一致。
|
||||||
|
* 另声明 4 个 HAL_ADC_* 接口，由测试单元给强符号桩（可注入失败/超时/返回值）。
|
||||||
|
*
|
||||||
|
* 创建日期：2026-10-10
|
||||||
|
*/
|
||||||
|
|
||||||
|
#ifndef ADC_H
|
||||||
|
#define ADC_H
|
||||||
|
|
||||||
|
#include <stdint.h>
|
||||||
|
|
||||||
|
/* HAL 状态码（与 stm32f4xx_hal_def.h 同值，仅取被测代码用到的子集） */
|
||||||
|
typedef enum {
|
||||||
|
HAL_OK = 0x00,
|
||||||
|
HAL_ERROR = 0x01,
|
||||||
|
HAL_BUSY = 0x02,
|
||||||
|
HAL_TIMEOUT = 0x03
|
||||||
|
} HAL_StatusTypeDef;
|
||||||
|
|
||||||
|
/* ADC 句柄：被测代码只把 &hadc1 透传给 HAL 接口，从不读其字段，故为不透明占位 */
|
||||||
|
typedef struct {
|
||||||
|
uint32_t reserved;
|
||||||
|
} ADC_HandleTypeDef;
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extern ADC_HandleTypeDef hadc1;
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/* ADC 通道宏（F4：宏值 = 通道号） */
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#define ADC_CHANNEL_0 (0x00000000U)
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#define ADC_CHANNEL_1 (0x00000001U)
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#define ADC_CHANNEL_2 (0x00000002U)
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#define ADC_CHANNEL_3 (0x00000003U)
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#define ADC_CHANNEL_4 (0x00000004U)
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#define ADC_CHANNEL_5 (0x00000005U)
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#define ADC_CHANNEL_6 (0x00000006U)
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#define ADC_CHANNEL_7 (0x00000007U)
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#define ADC_CHANNEL_8 (0x00000008U)
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#define ADC_CHANNEL_9 (0x00000009U)
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#define ADC_CHANNEL_10 (0x0000000AU)
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#define ADC_CHANNEL_11 (0x0000000BU)
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#define ADC_CHANNEL_12 (0x0000000CU)
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#define ADC_CHANNEL_13 (0x0000000DU)
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#define ADC_CHANNEL_14 (0x0000000EU)
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#define ADC_CHANNEL_15 (0x0000000FU)
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef *hadc);
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef *hadc, uint32_t Timeout);
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uint32_t HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef *hadc);
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HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Stop(ADC_HandleTypeDef *hadc);
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#endif /* ADC_H */
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@@ -0,0 +1,28 @@
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/*
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* 主机侧单测桩：tpafe5160.h
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* 模块功能：为 App/algo/adc_input.c 提供主机可编译的 TPAFE5160 快照接口声明
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* （真实头会经 main.h 拖入 HAL 与 GPIO 宏，主机侧无法编译）。
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*
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* ⚠ 仅供 test/host/adc_input/ 使用，不参与 MCU 构建。
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*
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* 被测代码只消费 tpafe5160_snapshot()（E-58 原子快照），故桩只保留该声明；
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* 其返回值语义（1=新帧 / 0=无新帧 / -1=参数错）与真实驱动一致，由测试单元
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* 给强符号桩并按用例注入。
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*
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* 创建日期：2026-10-10
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*/
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#ifndef TPAFE5160_H
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#define TPAFE5160_H
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#include <stdint.h>
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/*
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* 函数功能：原子快照最新一帧（消费者取数的唯一正确姿势）
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* 入口参数：dst - 输出缓冲区 int16_t* 不为 NULL
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* count - 拷贝通道数 uint8_t 1 - 8
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* 返 回 值：1 - 取到新帧，0 - 无新帧，-1 - 参数无效
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*/
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int tpafe5160_snapshot(int16_t *dst, uint8_t count);
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#endif /* TPAFE5160_H */
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