adc_input: 失败拍清 s_stm32_valid，杜绝超时沿用上一拍旧值（单测 70->79）

缺陷（真机实测发现）：本层只有一份 s_stm32_raw[]，有效标志此前只在成功时
置 1、失败时从不清零 -> 超时拍消费侧照样取数、照样压入采样环（且超时前
几个 Rank 已写本拍新值、后面几个是上一拍旧值 = 半新半旧混合帧），直接污
染 20 点 DFT 相量窗；adc_input_poll() 返回值只由 TPAFE 决定，s_frames_skip
也抓不到它。

修复：stm32_scan() 两条失败支路（HAL_ADC_Start 失败 / 轮询超时）都清
s_stm32_valid -> 本拍 adc_input_raw() 对 STM32 语义通道返 -2 -> adc_task
走既有 skip 整帧跳过路径；下一拍扫描成功自动置回 1（自愈）。

测试：新增 TC-AI-070..078（70 -> 79 用例）。旧用例 TC-AI-034/039b 都是
init 后立刻失败（valid 本就是 0），照不出成功过之后再失败这条路径，故新
用例先成功一拍进入有效态再注入失败。**反向验证已做**：把支路改回旧行为 ->
TC-AI-039b/073/074 立即 FAIL（76/79），证明用例有效。

验证：主机单测 79/79 PASS；@build 0 错 0 警（Code 256868 -> 256872）；
@test PASS（本轮无超时：adc1_err=0、skip=0、idle=0、frames=20001）；
18 钩子全绿。文档同步 4 处（停摆分析 4.4 / ADC采样节拍 10.4 / ADC输入层
单测说明 / test-host README）。

遗留：2 ms 忙等本身未消（硬化 2 = DMA，方案 B2 待 CubeMX 配置）。

test/host/README.md

@@ -46,7 +46,7 @@
 | `cfg_file/stub/` | 桩头文件（`dbg_log.h`），覆盖 MCU 版以在 PC 上编译 |
 | `phasor/run_unit_test.py` | **相量层（L2）单测**：离线编译真实 `App/algo/phasor.c` + `sample_ring.c`（**无需任何桩**，纯算法），57 用例覆盖傅氏系数表 / 幅值·相位 / 谐波抑制与提取 / 频偏 / 采样环 / 双区原子交换 |
 | `phasor/phasor_test.c` | 测试单元本体（`#include` 两个生产源码 + 合成任意波形） |
-| `adc_input/run_unit_test.py` | **ADC 输入层（L1）单测**：离线编译真实 `App/algo/adc_input.c`，70 用例给每个 Rank 注入互异码值**逐通道钉死映射**，并覆盖 HAL 启动失败 / 转换超时 / 参数错等真机难复现分支 |
+| `adc_input/run_unit_test.py` | **ADC 输入层（L1）单测**：离线编译真实 `App/algo/adc_input.c`，79 用例给每个 Rank 注入互异码值**逐通道钉死映射**，并覆盖 HAL 启动失败 / 转换超时 / **失败拍陈旧帧** / 参数错等真机难复现分支 |
 | `adc_input/adc_input_test.c` | 测试单元本体（`#include` 生产源码 + HAL / TPAFE 可注入桩） |
 | `adc_input/stub/` | 桩头文件（`adc.h` / `tpafe5160.h`） |
 | `vol_lock/run_unit_test.py` | **卷锁单测**：离线编译真实 `App/fs/vol_lock.c`，33 断言点覆盖创建 / 获取 / 释放契约（**fail-open 不变量**：创建失败仍返回 1 且零阻塞）/ 幂等 / 超时透传 |