STM32F4-Base

wandering1/STM32F4-Base

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Author	SHA1	Message	Date
wandering1	dd8210867a	adc_input: 失败拍清 s_stm32_valid，杜绝超时沿用上一拍旧值（单测 70->79）缺陷（真机实测发现）：本层只有一份 s_stm32_raw[]，有效标志此前只在成功时置 1、失败时从不清零 -> 超时拍消费侧照样取数、照样压入采样环（且超时前几个 Rank 已写本拍新值、后面几个是上一拍旧值 = 半新半旧混合帧），直接污染 20 点 DFT 相量窗；adc_input_poll() 返回值只由 TPAFE 决定，s_frames_skip 也抓不到它。修复：stm32_scan() 两条失败支路（HAL_ADC_Start 失败 / 轮询超时）都清 s_stm32_valid -> 本拍 adc_input_raw() 对 STM32 语义通道返 -2 -> adc_task 走既有 skip 整帧跳过路径；下一拍扫描成功自动置回 1（自愈）。测试：新增 TC-AI-070..078（70 -> 79 用例）。旧用例 TC-AI-034/039b 都是 init 后立刻失败（valid 本就是 0），照不出成功过之后再失败这条路径，故新用例先成功一拍进入有效态再注入失败。反向验证已做：把支路改回旧行为 -> TC-AI-039b/073/074 立即 FAIL（76/79），证明用例有效。验证：主机单测 79/79 PASS；@build 0 错 0 警（Code 256868 -> 256872）； @test PASS（本轮无超时：adc1_err=0、skip=0、idle=0、frames=20001）； 18 钩子全绿。文档同步 4 处（停摆分析 4.4 / ADC采样节拍 10.4 / ADC输入层单测说明 / test-host README）。遗留：2 ms 忙等本身未消（硬化 2 = DMA，方案 B2 待 CubeMX 配置）。	2026-10-10 23:08:01 +08:00
wandering1	696a1a49a9	主机单测：新增 ADC 输入层（L1）用例 70 项并登记 L1/L2 单测钩子新增 App/algo/adc_input.c 的主机侧单测（L1），补齐 L1/L2 算法层 "每个函数都可离线验证"的最后一处空白。 - test/host/adc_input/{adc_input_test.c,run_unit_test.py,stub/}： 70 个用例，覆盖 6 个公开函数 + map_check + stm32_scan。关键判据 = "通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射：给每个 Rank 注入互不相同的码值，逐通道钉死映射（板端无信号源，无法验此项）。另钉死 HAL 启动失败 / 轮询超时 / 参数错 / 无有效数据等分支。 - .pre-commit-config.yaml：登记 phasor-unit-test（7d）与 adc-input-unit-test（7e）两个主机侧单测钩子。主机侧全套：adc_input 70/70、phasor 52/52，均 0 失败、无 /W4 告警。	2026-10-10 17:46:45 +08:00

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wandering1

dd8210867a

adc_input: 失败拍清 s_stm32_valid，杜绝超时沿用上一拍旧值（单测 70->79）

缺陷（真机实测发现）：本层只有一份 s_stm32_raw[]，有效标志此前只在成功时
置 1、失败时从不清零 -> 超时拍消费侧照样取数、照样压入采样环（且超时前
几个 Rank 已写本拍新值、后面几个是上一拍旧值 = 半新半旧混合帧），直接污
染 20 点 DFT 相量窗；adc_input_poll() 返回值只由 TPAFE 决定，s_frames_skip
也抓不到它。

修复：stm32_scan() 两条失败支路（HAL_ADC_Start 失败 / 轮询超时）都清
s_stm32_valid -> 本拍 adc_input_raw() 对 STM32 语义通道返 -2 -> adc_task
走既有 skip 整帧跳过路径；下一拍扫描成功自动置回 1（自愈）。

测试：新增 TC-AI-070..078（70 -> 79 用例）。旧用例 TC-AI-034/039b 都是
init 后立刻失败（valid 本就是 0），照不出成功过之后再失败这条路径，故新
用例先成功一拍进入有效态再注入失败。**反向验证已做**：把支路改回旧行为 ->
TC-AI-039b/073/074 立即 FAIL（76/79），证明用例有效。

验证：主机单测 79/79 PASS；@build 0 错 0 警（Code 256868 -> 256872）；
@test PASS（本轮无超时：adc1_err=0、skip=0、idle=0、frames=20001）；
18 钩子全绿。文档同步 4 处（停摆分析 4.4 / ADC采样节拍 10.4 / ADC输入层
单测说明 / test-host README）。

遗留：2 ms 忙等本身未消（硬化 2 = DMA，方案 B2 待 CubeMX 配置）。

2026-10-10 23:08:01 +08:00

wandering1

696a1a49a9

主机单测：新增 ADC 输入层（L1）用例 70 项并登记 L1/L2 单测钩子

新增 App/algo/adc_input.c 的主机侧单测（L1），补齐 L1/L2 算法层
"每个函数都可离线验证"的最后一处空白。

- test/host/adc_input/{adc_input_test.c,run_unit_test.py,stub/}：
  70 个用例，覆盖 6 个公开函数 + map_check + stm32_scan。
  关键判据 = "通道号 <-> Rank 顺序 <-> 语义"三者映射：给每个 Rank
  注入互不相同的码值，逐通道钉死映射（板端无信号源，无法验此项）。
  另钉死 HAL 启动失败 / 轮询超时 / 参数错 / 无有效数据等分支。
- .pre-commit-config.yaml：登记 phasor-unit-test（7d）与
  adc-input-unit-test（7e）两个主机侧单测钩子。

主机侧全套：adc_input 70/70、phasor 52/52，均 0 失败、无 /W4 告警。

2026-10-10 17:46:45 +08:00

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