SD2506_RTC 测试指南

对应驱动：Drivers/BSP/SD2506/sd2506.c 测试代码：test/sd2506_test_task.c + test/sd2506_test.h

1. 概述

本测试套件对 sd2506.c 做黑盒功能自测，只调用公共 API，不触碰驱动内部函数。每个用例通过 SD2506_TEST_CHECK 记录 pass/fail，最终由 SD2506_TEST_REPORT 汇总。

历史背景：本驱动曾出现“时间写不进”问题，根因是寄存器宏写成 0x0FH（KEIL/ARMCC 不识别 H 整数后缀，被编译为 0），导致 SD2506_REG_CTR1 实际等于 0（秒寄存器）， sd2506_write_enable() 把 WRTC 写错地址、写保护永不解除。修正为 0x0FU 后恢复。详见 docs/SD2506_Trap_Records.md。

2. 启用与编译

test/test_config.h 中一次只能启用一个 TEST_SUITE_*（互斥）：

//#define TEST_SUITE_CH395F
//#define TEST_SUITE_STORAGE
//#define TEST_SUITE_GD5F
#define TEST_SUITE_RTC          /* 启用 RTC 测试套件 */

test/sd2506_test.h 中控制各阶段（默认全开）：

#define ENABLE_RTC_BASIC_TESTS  /* Phase 1: 基本读写 / 走时 */
#define ENABLE_RTC_API_TESTS    /* Phase 2: 全功能 API 覆盖 */

编译（要求 0 错误 0 警告）：

MDK-ARM\build.bat

烧录后在串口（USART1, 115200bps）观察 [RTC_TEST] 日志。

3. 测试用例

编号	目标	覆盖函数	判定
TC-RTC-001	初始化并读取当前时间	`sd2506_init` / `sd2506_get_time`	init 返回 0；get 返回 0
TC-RTC-002	写固定时间立即回读一致	`sd2506_set_time` / `sd2506_get_time`	set==readback（允许 +1s 进位）
TC-RTC-003	走时验证	`sd2506_get_time`	延时 3s 后秒数前进 2~5s
TC-RTC-010	BCD↔DEC 互转	`sd2506_dec_to_bcd` / `sd2506_bcd_to_dec`	10 组样本双向一致
TC-RTC-011	内部温度读取	`sd2506_get_temperature`	返回 0；值 ∈ [-40, 85]
TC-RTC-012	电池电压（mV）	`sd2506_get_battery_voltage`	返回 0；值 ∈ (2000, 5000)
TC-RTC-013	芯片 8 字节 ID	`sd2506_get_id`	返回 0；读出 8 字节
TC-RTC-014	用户 SRAM 回环	`sd2506_write_sram` / `sd2506_read_sram`	写入 8 字节后回读一致
TC-RTC-015	报警设置 + 清除	`sd2506_set_alarm` / `sd2506_clear_alarm`	两者均返回 0

4. 覆盖矩阵

公共 API	是否覆盖	用例
`sd2506_init`	✅	TC-RTC-001
`sd2506_get_time`	✅	TC-RTC-001/002/003
`sd2506_set_time`	✅	TC-RTC-002
`sd2506_get_temperature`	✅	TC-RTC-011
`sd2506_get_battery_voltage`	✅	TC-RTC-012
`sd2506_get_id`	✅	TC-RTC-013
`sd2506_read_sram`	✅	TC-RTC-014
`sd2506_write_sram`	✅	TC-RTC-014
`sd2506_set_alarm`	✅	TC-RTC-015
`sd2506_clear_alarm`	✅	TC-RTC-015
`sd2506_read_ctr1`	△（诊断）	run() 内打印 CTR1
`sd2506_bcd_to_dec` / `sd2506_dec_to_bcd`	✅	TC-RTC-010

未覆盖（需专项验证，不在本自测范围）：倒计时寄存器、温度报警历史、跨重启持久化（原 Phase 3 已废弃，依赖实际掉电/上电，建议手动或另写用例）。

5. 运行与判定

sd2506_test_run() 由测试调度器调用，先 init 并记录原始时间，最后用 sd2506_set_time 把板子时间恢复为测试前的值（不污染真实时钟）。

输出形如：

[RTC_TEST] === SD2506 Phase 1: basic read/write (public API) ===
[RTC_TEST] [PASS] sd2506_init() ret=0 (expect 0)
...
[RTC_TEST] === Phase 1 basic: 6/6 PASSED (failed=0) ===
[RTC_TEST] === SD2506 Phase 2: full API coverage ===
...
[RTC_TEST] === Phase 2 API: 9/9 PASSED (failed=0) ===

通过标准：所有 Phase 的 failed=0，且总量 X/Y PASSED 中 Y 与 PASS 数相等。

6. 失败排查

TC-RTC-002 FAIL（set≠readback）：优先查 sd2506.h 中各寄存器宏是否被写成 0xNNH（H 后缀陷阱）。例如 SD2506_REG_CTR1 必须是 0x0FU 而非 0x0FH。
init/get/set 返回 -2（I2C 错误）：查 I2C1 接线（PB6-SCL / PB7-SDA）、上拉电阻、芯片供电与器件地址 0x32。
温度/电压越界：多为芯片未上电或 I2C 读到全 0xFF，按 I2C 链路排查。

7. 已知限制

TC-RTC-015 会让 sd2506_set_alarm 置 CTR2.INTAE=1（报警中断允许）。测试固件未挂 INT 中断处理，且 INT 引脚在板上未连接，对运行无影响；若要完全复位，可手动再调用一次 set_alarm(..., mask=0)。
SRAM 回环会在 addr=0 写入测试数据（8 字节），属用户 SRAM 区域，不影响时间/控制寄存器。

4.6 KiB Raw Blame History Unescape Escape