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台架第一轮（boot log 20261025_050539）判 VERDICT FAIL，命中 469 条 [ERR]，两类：
1) [ERR][CH395] ch395f P2 boundary fault @get_state sn —— **设计内**：Phase 15 的
sn 越界负向用例故意命中驱动守卫（Drivers/BSP/CH395F/ch395f.c 的
ch395f_p2_fault_note()：首次 DBG_ERROR、之后只计数），用例本身 PASS；
2) [ERR][WD] task stall ×468 —— **设计外**，已在 a9ba8ec 单独修（掩码死分支），
不用豁免去掩盖它。
本笔只管判据：套件回归这条路要豁免的是"设计内守卫 [ERR]"，不是崩溃。
为什么不能只是把 [ERR] 从 forbidden 里删掉（核过 verify_log 源码与固件崩溃行）：
四种 Fault 的崩溃行是 [ERR] HARDFAULT / MEMFAULT / BUSFAULT / USAGEFAULT
（Src/stm32f4xx_it.c 的 hard_fault_report 先打 "[ERR] " 再打标签），而 verify_log 的
forbidden 是**大小写不敏感的子串匹配**（fl in ln.lower()）→ 默认集合
HardFault;assert;[ERR] 里的 HardFault 只兜得住硬Fault，**MEM/BUS/USAGE 三种平时
完全靠 [ERR] 兜**。据此：
- 新增 FORBIDDEN_SUITE =
HardFault;MEMFAULT;BUSFAULT;USAGEFAULT;assert;bring-up FAIL
- CH395F 用它（原来吃默认值，含 [ERR]）；
- GD5F 也用它——旧值 "HardFault;assert" 正是上面那个漏法（当初只为豁免
TC-GD5F-704 的设计内 [ERR] 就把整条 [ERR] 摘了，等于顺手放走了三种 Fault），
现在既保留豁免意图，又把崩溃判定补齐；
- STORAGE / RTC 不动（它们没有设计内 [ERR]，继续吃含 [ERR] 的默认判据）。
边界写死在注释里：产品 @test 的判据（.serialtest/config.json 的 forbidden 含 [ERR]）
**一个字节没动**，豁免只活在"套件回归"这条路上，渗不回产品路径。
test/board/ch395f_test.h：
- Phase 15 汇总实测 21/21（旧注释写"台架 20/20 PASS"是历史记录，已按本轮改正）；
- 记一条台架档案：镜像 ch395f_hw_nopc_v2.hex 单次开机跑完 1/12/15，汇总行
9/9、1/1、21/21，failed=0，全程无 Fault；并记下同轮暴露的掩码死分支结论与它的
证据位置，后来人切阶段时不必再踩一遍。
验证：
- py_compile 通过；test/run_all_suites.py --check-build --suites CH395F 走**官方编排**
实跑 PASS（BUILD_OK 0 错 0 警，Code=217468 RO=21452 RW=1268 ZI=134076），脚本自己
还原 test_config.h 并重建产品固件；这个 Code 与上一笔实测表里"默认阶段 11/14"一行
逐项相同 → 两个独立工具互证同一组数字。
- gate：id-check / no-mojibake / trailing-whitespace / end-of-file-fixer /
doc-links / cppcheck(test/) / test-suite-switch（产品态 Skipped）全 0；
未用 --no-verify。
- RAM/Flash 增量：0 B（Python 与注释，不进固件；test/board/*.h 的注释不改代码）。
下一轮台架等 lead：f2 镜像我会在 sync 到 A-3/B-3 之后重编（现在这份
ci-artifacts/p110_fw/ch395f_hw_nopc_f2.hex 戳 05:23:03，若中途主干动过固件就要重编），
判据用上面的 FORBIDDEN_SUITE；请顺手带回两个数：[ERR][WD] 总条数、mask 含 bit4(ui)
缺位的条数。
test/board/ — 板端测试套件
⚠️ 编入固件的测试代码（由 testTask 执行）。这些
.c已注册到 Keil 工程MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx，占用 MCU 的 RAM/Flash。
文件一览
| 文件 | 测试对象 / 作用 |
|---|---|
test_config.c/h |
测试任务配置：TEST_SUITE_* 套件选择开关（互斥）+ ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS |
test_common.h |
公共断言内核：test_stats_t + TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL；各套件用一行宏绑定自身统计变量（T-4） |
ch395f_test_task.c/h + ch395f_test.h |
CH395F 以太网（硬件层 Phase 1 |
gd5f_test_task.c/h + gd5f_test.h |
GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
sd2506_test_task.c/h + sd2506_test.h |
SD2506 RTC |
storage_test_task.c/h + storage_test.h |
存储性能 |
net_test_task.c/h |
网络层测试 |
net_latency_test.c/h |
链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |
⚠️ 构建约束（AGENTS.md 详述）
- 套件互斥：
test_config.h的TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC一次只能启用一个 （违反则#error）；全部注释 = 产品构建 - ⚠️ 测试固件不得静默提交：
TEST_SUITE_*开关受 pre-commit 钩子test-suite-switch门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归务必改回产品构建再提交（2026-10-01 实测已提交 HEAD 里TEST_SUITE_CH395F就是开启状态，纯靠人记得改；故补此门禁）。确需提交测试构建时用ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...或python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build显式放行 - 破坏性用例默认关闭：
ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、 坏块注入。关闭时为只读模式（横幅mode: READ-ONLY），可随时在在用设备上跑 - ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara 多记一个坏块（容量下降且需全片擦除恢复）—— 只在产线首启或明确需要时打开
- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
- 总线独占：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F
添加新测试套件
- 在
test_config.h加开关（并入互斥#error检查） - 新建
<模块>_test_task.c/h - 注册进 Keil 工程（
<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>） - 跑回归：
@test（.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py）
相关文档
- 测试指南：
docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md、GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md、SD2506_Test_Guide.md、FTP_Test_Guide.md - 套件配置：
AGENTS.md「测试与验证」章 - 容量恢复：
docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md