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登记簿、文档与代码注释里的存量字母加数字编号（N-x / S-x / T-x / E-x / A-x / 卡号） 一律改写为语义短语，净删 2,028 处引用；删除基线与待确认、并行分道方案、排期详述、 采集保护收尾 4 篇（内容已并入 docs/任务规划/README 与登记簿）。 门禁机器与三张账同批重打：check_ids.py 新增变更记录行豁免与第二根护栏 undecidable_total_ceiling；check_test_traceability.py 只加 stdout/stderr UTF-8 reconfigure（TC_RE 未动）；check_cubemx_survival.py 的 --write 固定 newline=LF； id_registry / id_aliases（+19 条 retired-to-phrase）/ id_known_backlog 重打。 test/ 56 个文件同步 TC 标签语义化，其中 18 个 TU 改了 CHECK / printf 里的标签文字， 是本批唯一改变构建产物的文件集合。 为什么合成一笔、不拆四笔（实测撞闸，非偏好）：pre-commit 跑钩子前会 stash 未 staged 部分，拆开后中间提交必然是「新规则 + 旧语料」——实跑可判定 85.15% < 基线 86.00%、 不可判定 1,453 > 上限 1,166，编号门禁直接拦下。编号识别面与它描述的语料只能同码移动。 实跑基线（工作区全量）：754 文件 / 8,230 处编号字面量 / 可判定 7,079 = 86.01% （基线 86.0%，容差 0.1pp）/ 不可判定绝对数 1,151（上限 1,166）/ 校验 1-6 错误级 0 / 告警 = 悬空 2（App/algo/freq.c 的 S2，属 §4.4 同号不同义）+ 孤儿 50。 基线从 84.0 抬到 86.0 的理由见 docs/门禁说明/id-check.md §7.6：本批真删了 2,028 处 引用，可判定面随真实内容上升，不是把分母做小。同批新增排除 docs/硬件平台/ 语料，使 识别面少 264 处——芯片手册位号与网表料号不属编号空间（registry 有 excluded_paths_note）。 ⚠ 余量只剩 0.11pp（约 10 处）与绝对数 15 处：把「可判定的引用」改成散文会立刻撞第二 根护栏。另遗留一项：id_aliases 里 retired 的 N / S / T / A 别名没有 scope（U1~U5 有）， 今后有人新写一个 A-4，校验 3 不会响，只能靠人，建议下批补 scope。 固件不变证据：115 个 .c/.h 剥注释并归一字符串后与 HEAD 逐字节全等，残留代码差异 0； App / Src / Drivers 的字符串字面量零改动。@build 0 错误 0 警告；40/40 主机套件、2,889 断言全通过；覆盖率 line 89.2% / func 92.6%；pre-commit 48 钩子 --all-files 全绿； check_doc_links --all 通过（176 文档，章节引用无法判定 0）；逐字节卫生核过：14 个带 BOM 文件与 HEAD 一致、0 个 CR、0 个 U+FFFD，字符串字面量纯 ASCII。 .cubemx_survival_baseline.json 的 watchdog-module 哈希 56bf27 变 2bb051 属合法： Src/freertos.c 的 USER CODE 区内只有注释文字随编号改写，代码未变。 同批带上体积同码凭证与 RAM 台账行（@build 之后盖戳）：RW_IRAM1 79,008 B / 60.3%， RW_CCM 57,376 B / 87.9%，阈值 92%。
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# test/board/ — 板端测试套件
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> ⚠️ **编入固件**的测试代码（由 testTask 执行）。这些 `.c` 已注册到 Keil 工程
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> `MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx`，占用 MCU 的 RAM/Flash。
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## 文件一览
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| 文件 | 测试对象 / 作用 |
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| `test_config.c/h` | **测试任务配置**：`TEST_SUITE_*` 套件选择开关（互斥）+ `ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS` |
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| `test_common.h` | **公共断言内核**：`test_stats_t` + `TEST_CHECK_IMPL`/`TEST_REPORT_IMPL`；各套件用一行宏绑定自身统计变量 |
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| `ch395f_test_task.c/h` + `ch395f_test.h` | CH395F 以太网（硬件层 Phase 1~5 / NET 层 Phase 6~11） |
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| `gd5f_test_task.c/h` + `gd5f_test.h` | GD5F2GQ5UE SPI NAND 存储 |
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| `sd2506_test_task.c/h` + `sd2506_test.h` | SD2506 RTC |
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| `storage_test_task.c/h` + `storage_test.h` | 存储性能 |
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| `net_test_task.c/h` | 网络层测试 |
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| `net_latency_test.c/h` | 链路时延探针（DWT CYCCNT 时基，MCU 专属） |
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## ⚠️ 构建约束（`AGENTS.md` 详述）
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- **套件互斥**：`test_config.h` 的 `TEST_SUITE_CH395F/STORAGE/GD5F/RTC` 一次只能启用一个
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（违反则 `#error`）；**全部注释 = 产品构建**
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- ⚠️ **测试固件不得静默提交**：`TEST_SUITE_*` 开关受 pre-commit 钩子 `test-suite-switch`
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门禁——默认要求全部注释。跑完套件回归**务必改回产品构建**再提交（2026-10-01 实测已提交
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HEAD 里 `TEST_SUITE_CH395F` 就是开启状态，纯靠人记得改；故补此门禁）。确需提交测试构建时用
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`ALLOW_TEST_BUILD=1 git commit ...` 或 `python scripts/check_test_suite.py --allow-test-build` 显式放行
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- **破坏性用例默认关闭**：`ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS`（默认注释）控制写/擦 NAND、格式化、
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坏块注入。关闭时为**只读模式**（横幅 `mode: READ-ONLY`），可随时在在用设备上跑
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- ⚠️ 实测一轮破坏性 GD5F 运行即让 dhara **多记一个坏块**（容量下降且需全片擦除恢复）——
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只在产线首启或明确需要时打开
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- CH395F 套件：硬件层与 NET 层模式互斥
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- **总线独占**：CH395F 硬件层模式下 netTask 自挂起，testTask 独占 CH395F
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## 添加新测试套件
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1. 在 `test_config.h` 加开关（并入互斥 `#error` 检查）
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2. 新建 `<模块>_test_task.c/h`
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3. **注册进 Keil 工程**（`<FilePath>..\test\board\xxx.c</FilePath>`）
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4. 跑回归：`@test`（`.dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py`）
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## 相关文档
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- 测试指南：`docs/测试说明/CH395F_Test_Guide.md`、`GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md`、`SD2506_Test_Guide.md`、`FTP_Test_Guide.md`
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- 套件配置：`AGENTS.md`「测试与验证」章
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- 容量恢复：`docs/测试说明/存储维护与容量恢复.md`
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