wandering1
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前一笔立契约与门禁（`Drivers/BSP/bsp_err.h` + `bsp-err` 钩子 + RS485 试点）；这一笔按用户
指定顺序 C3 → C1 → C2 把三个模块真正收编，并让存储失败第一次变得可读、可分类。
**C3 · SD2506 整模块（11 个公共 API + 6 个内部 helper）**：三枚私有宏 `SD2506_OK`/
`SD2506_ERROR`/`SD2506_I2C_ERROR` **删除而不是留别名**——留别名等于新代码还能用旧形状，
把迁移洗掉；编译器替我们找全所有调用点。新增 `sd2506_err_from_hal()`，**把 I2C 超时从
"和没人应答共用一个 −2"里拆出来归成 `BSP_ERR_TIMEOUT`（可重试）**——SD2506 是启动链第一站、
I2C1 上电时序敏感，这是本波唯一真正的语义改善，不是改名。`sd2506_init` 的 charge 寄存器
**回读校验不符**原返参数类错误，改归 `BSP_ERR_IO`（那不是调用方的错）。
**C1 · 同形两义**：`GD5F_BUSY_TIMEOUT` → `GD5F_WAIT_EXPIRED`（**值 −2 不变**，纯消"名字叫
TIMEOUT 其实是返回码"）。**GD5F 私有码集整体收编刻意没做**：169 处引用里 48 处在板级套件、
还要动 Trap 记录用词，属另一波带真机+套件回归的工作，不夹带。TPAFE5160 收编 23 处：
`BUSY_TIMEOUT → BSP_ERR_TIMEOUT`、`ERROR → BSP_ERR_PARAM`（**同值 −1，行为零变化**）、
`FRSTDATA_ERR → BSP_ERR_NO_DEVICE`（E-44 的本义就是"芯片没驱动 DB 总线"，归到器件无响应比
私有 −3 有用，且避开与 `BSP_ERR_TIMEOUT` 撞值）。实测 `tpafe5160.o`/`gd5f2gq5ue.o` 的 Code
增量为 **0**——改名不产生一条指令。
⚠ **`tpafe5160_snapshot()` 刻意不套成败码**：它是 1=有新帧 / 0=无新帧 / −1=参数错 的三态
**状态**返回，0 不是错误而是"这一拍没有新数据"，强行收编会把慢消费者的正常路径变成失败。
顺带订正我上一版在 `bsp_err.h` 的断言——"本层只有 `net_*` 把数量与错误挤同一返回值"是错的，
`snapshot`/`adc_input_poll` 就是第二族；两族现都已写明并各注保留理由。
**C2 · FTL 坍缩点分类**：`ftl_flush_cache`/`ftl_read_page` 不再把 dhara 失败压成
`GD5F_ERROR`，
按**处置差异**分三类，并在最早同时知道 LPN 与原始码的位置就地打印：`ECC`/`TOO_BAD` →
`BSP_ERR_CRC`（页级，重试或换页，不代表卷坏）；`JOURNAL_FULL`/`MAP_FULL` →
`BSP_ERR_NO_SPACE`（介质健康但块池/日志见底，此时重格式化只是把问题推回去）；
`BAD_BLOCK`/`RECOVER`/`CORRUPT_MAP`/越界 → `BSP_ERR_IO`（完整性故障，保卷 + 上报，不许自愈
重格式化）。这与 **E-31** 是同一条纪律的两端。可读名用自建短表：**本仓 dhara 没有编
`error.c`，用 `dhara_strerror()` 会直接链接失败**。`disk_read`/`disk_write` 仍回
`RES_ERROR`
（FatFs 契约）；要让 defaultTask 卷健康探针按类分支还差跨调用存活的快照 → C4 待还。
**两次靠核实拦住的自我错误**：① 我一度认定 `DBG_ERROR("... err=%d", err)` 是把结构体塞进
varargs 的格式 bug——核 `Lib/dhara/error.h` 后确认 `dhara_error_t` 是 `enum`（标量），那行日志
本来合法，改了反而是引入错误；② `bsp-err` 一次 `replace_all` 越界把 8 处 **GD5F 码空间**的
判据改成 `!= BSP_OK`（数值同为 0、无行为变化），但那正是"把两个码空间混起来"，已逐一还原。
`cppcheck` 亦抓到 `cls` 声明作用域过宽，已收进失败分支。
**验证**：`@build` 0 错 0 警告（`Code` 213,648、RO 18,860、`ER_IROM1` 232,508 B /
22.2%、
`ROM 合计` 233,696；**RAM 三项零增量**）；`@test` PASS（692 ms，烧入戳 `Oct 23 01:35:32`）
且逐条读到被改模块的锚点：`SD2506 init: OK (ret=0)` 与 ID/时间/温度/电池四条读回正常、
`ADC init: OK`、`NAND init: OK`、`Map resumed: 14094/97504`、`adc=` 帧计数持续递增（证明
snapshot 三态未被改坏）、`[ERR]`/Fault/FAIL 0 条。主机单测：系统时钟 100/100、dhara NAND
移植层 149/149（两者都因本次改动需补 `Drivers/BSP` include 路径，补后在钩子内实跑 Passed）。
`pre-commit run` 全量 RC=0（20 个实跑钩子 Passed）；`bsp-err` 基线 **19 → 17**（还掉两个
`*_BUSY_TIMEOUT = -2`）、`--prune` 干净；`doc-links --all --sections-strict` 147 篇
0 问题；
`id-check --strict`、`layer-deps`、`mem-numbers`、`mem-budget`、`ui-golden` 全过；33
个文件
字节卫生 0 异常（无 CR / 无 U+FFFD / 无行尾空格 / 均有尾换行）。
**口径与数字联动**：新增 `docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md` §10.4（三类码与处置
理由）；`pre-commit使用说明.md` §2.27 与 `AGENTS.md` 基线计数 19 → 17；TPAFE README、
GD5F 测试指南与 Trap 记录均**保留旧名留痕**以便对旧日志；配图桶按 .map 对象级增量重算
（`dhara/FTL` 10,931 → 11,222，+291 全部落在 `nand_ftl.o`；应用代码/UI +36 落在
`app_main.o`；其余散量入"其他"7,557；桶和 = Code+RO 断言通过、文本溢出 0）；
`ram_baseline --update/--write`、`ram_report_20261023.md` 快照、报告 §1.3/§5.1/§5.4
与
部署文档 §3.3 数字全部同步；报告 §0.4/§9 的 S-5 状态改为 🟡 主体已落地。
64 lines
3.3 KiB
Python
64 lines
3.3 KiB
Python
#!/usr/bin/env python3
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# -*- coding: utf-8 -*-
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"""dhara NAND 移植层（nand_ftl）的主机侧单元测试运行器（L0.5，纯标准库）。
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做什么：
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用本机 MSVC 编译 test/host/nand_port/nand_port_test.c（它以 #include 纳入
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**生产源文件** Drivers/BSP/GD5F2GQ5UE/nand_ftl.c），在 PC 上离线跑 dhara NAND
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HAL 六个入口（is_bad / mark_bad / erase / prog / is_free / read / copy）的
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几何守卫与整页判空，失败即非 0 退出。零硬件、零烧录、毫秒级。
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工具链探测 / INCLUDE-LIB 拼接 / 编译运行 / 退出码判定全部委托给通用 harness
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`test/host/common/unit_test_harness.py`（本文件只做声明）。
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为什么要主机侧单测（而不是只用板端套件）：
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移植层是**纯地址算术 + 边界判定**，芯片侧只经 11 个 SPI 原语打交道——把它换成
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一块 RAM 假芯片，整层就完全可在 PC 上跑。而它要防的两类缺陷恰恰是真机极难复现的：
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- N-12：is_free 只看页首 64 B → "页首 0xFF、后段有数据"的页被误判空闲 →
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dhara 往已编程页再编程 = 静默数据丢失（真机要恰好撞上那种页形态才发作）；
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- N-13：越界页/块号（含 DHARA_PAGE_NONE 哨兵）被地址位截断成真实页 →
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静默读写/搬走无辜数据（真机上没有任何路径会主动喂进越界号）。
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假芯片把"双编程"做成可数事件、并记录全部访问次数，于是"越界不产生任何芯片
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访问""越界标坏块次数为 0"这类判据可机械断言——这是板端永远拿不到的观测面。
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用法（仓库根目录）：
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python test/host/nand_port/run_unit_test.py
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或统一用 .venv： & '.venv\\Scripts\\python.exe' test/host/nand_port/run_unit_test.py
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退出码：0=PASS / 1=测试失败 / 2=环境错误（找不到编译器 / 编译失败 / 无汇总行）。
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设计依据：docs/问题记录/项目审查与优化建议报告.md N-12/N-13（报告 R-3 建议的
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`test/host/dhara/` 移植层单测，落位为 test/host/nand_port/）；
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创建日期：2026-10-15
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"""
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import os
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import sys
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HERE = os.path.dirname(os.path.abspath(__file__))
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ROOT = os.path.dirname(os.path.dirname(os.path.dirname(HERE)))
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# harness 位于 test/host/common/
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sys.path.insert(0, os.path.join(ROOT, "test", "host", "common"))
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from unit_test_harness import TestBuild, run_host_unit_test # noqa: E402
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# 顺序敏感：stub 目录必须**先于**生产目录，才能覆盖 gd5f2gq5ue.h（真实头会拖入
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# main.h + 整套 ST HAL/CMSIS，PC 上不可编译）与 dbg_log.h（真实头依赖 sys_clock）。
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# nand.h / journal.h / map.h / error.h（Lib/dhara）与 ff.h / diskio.h / ffconf.h
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# （Lib/FatFs）用**真实头**——接口契约原汁，桩与真实 API 一旦漂移编译期即报错。
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BUILD = TestBuild(
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name="NAND Port Tests",
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src=os.path.join(HERE, "nand_port_test.c"),
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include_dirs=[
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os.path.join(HERE, "stub"),
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os.path.join(ROOT, "Drivers", "BSP"), # bsp_err.h（nand_ftl.c 依赖，2026-10-23 S-5）
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os.path.join(ROOT, "Drivers", "BSP", "GD5F2GQ5UE"),
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os.path.join(ROOT, "Lib", "dhara"),
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os.path.join(ROOT, "Lib", "FatFs"),
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HERE,
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],
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summary_marker="=== NAND Port Tests:",
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)
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if __name__ == "__main__":
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sys.exit(run_host_unit_test(BUILD))
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